【正文】 大，而樣本組內(nèi)發(fā)生差異之可能性為最小。此種抽樣方式稱為分散式抽樣(distributed sampling)或稱為定時(shí)法(period of time method)。由管制圖上非隨機(jī)性模型可了解製程何時(shí)為異常，並可縮小尋找問(wèn)題原因之範(fàn)圍，降低診斷時(shí)間。實(shí)施步驟 1. 招集所有相關(guān)人員，運(yùn)用腦力激盪法製作特性要因圖以列出要因項(xiàng)目?？赡苁鞘稚系幕覊m造成。高原型分配：直方圖沒(méi)有顯著底高峰和尾端，此種直方圖的數(shù)據(jù)可能來(lái)自數(shù)個(gè)鐘型分配。離島型分配：在直方圖上出現(xiàn)兩個(gè)大小相差甚多之高峰。 5. 針對(duì)異常原因提出改善方案。 B. 縱軸：不良百分率、故障次數(shù)、損失金額或其它因分析原因所造成的結(jié)果。 G. 精密機(jī)械加工業(yè)之柏拉圖分析圖範(fàn)例，如下圖所示： 　實(shí)施成效考核從每期得柏拉圖分析中，可以知道主要因素在改善前後的效果，重點(diǎn)在於損失金額的減少多少，以此為評(píng)量績(jī)效的依據(jù)。 3. 制定操作標(biāo)準(zhǔn)：將特性要因圖分析徹底後，表示對(duì)於製程的變異有充分的掌握，之後在制定或修改操作標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，即可針對(duì)原因以適當(dāng)?shù)膶?duì)策因應(yīng)。 6. 特性要因圖之製成－將經(jīng)討論確定的要因，依其重要程度依序作成骨幹或細(xì)枝，應(yīng)將同一因果關(guān)係者歸於同一分枝。如果兩變數(shù)有原因與結(jié)果之關(guān)係，則原因（或稱自變數(shù)）置於X軸，結(jié)果（應(yīng)變數(shù)）置於Y軸。 相關(guān)性測(cè)量(Xleasurement of Association)r=(XiYi)是第 i 組的觀測(cè)值，是其平均值，r值介於1與1之間r=1 XY有完全正相關(guān)r=1 XY完全負(fù)相關(guān)r=0 XY完全沒(méi)有任何相關(guān)性r1 高度相關(guān)r 中度相關(guān)r　　實(shí)例精誠(chéng)建設(shè)公司為研究水泥硬度與沙子佔(zhàn)整體百分比是否有關(guān)係，做了以下的試驗(yàn)，資料如表：　沙子百分比硬度沙子百分比硬度沙子百分比硬度51030806040103040857030206050708015　觀察下面的散布圖，雖然沙子百分比與水泥硬度不是正相關(guān)，也非負(fù)相關(guān)，但此兩者的關(guān)係從40%前是正相關(guān)，40%後是負(fù)相關(guān)。 5. 由母體抽取一組隨機(jī)樣本，計(jì)算檢定統(tǒng)計(jì)量之值。若樣本數(shù)n＜30則採(cǎi)用下列統(tǒng)計(jì)量單邊或雙邊的對(duì)立假設(shè)條件，其拒絕之條件如下對(duì)立假設(shè)條件拒絕之條件：μ＞T＞：μ＜T＜：μ≠T＞或T＜－　兩常態(tài)母體平均數(shù)差的檢定二母體變異數(shù)和已知假設(shè)二母體平均數(shù)﹐未知，但已知變異數(shù)和。意義所謂「實(shí)驗(yàn)」是研究人員針對(duì)特別的系統(tǒng)或製造程序，在一個(gè)虛擬的現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行調(diào)查與研究。實(shí)驗(yàn)之重點(diǎn)在研究我們有興趣的製造程序或系統(tǒng)，而此系統(tǒng)或製造程序通常會(huì)被很多因子所影響，包括可控制與分控制因子，如下圖：所以實(shí)驗(yàn)的目的有下列四點(diǎn)：1. 找出對(duì)輸出影響最大的因子 2. 尋求最能使輸出符合目標(biāo)值的因子值組 3. 調(diào)整可控制因子讓輸出值得變異最小 4. 尋找可控制因子之值，使非控制因子對(duì)輸出的影響極小化 　　實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)之方法簡(jiǎn)介 A. 實(shí)施步驟 使用統(tǒng)計(jì)方法進(jìn)行設(shè)計(jì)與分析一個(gè)實(shí)驗(yàn)時(shí)，每個(gè)參與的人事前一定要清楚的了解，目前實(shí)驗(yàn)的目標(biāo)、資料收集方法與基本的資料數(shù)值分析，下面的實(shí)驗(yàn)步驟是Coleman與Mogtgomery在1993年所提出。當(dāng)時(shí)驗(yàn)得目的在尋找關(guān)鍵因素時(shí)，因子水準(zhǔn)數(shù)會(huì)取的少，一般取2個(gè)水準(zhǔn)數(shù)。4. 尋找適當(dāng)之實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì) 如果「實(shí)驗(yàn)前規(guī)劃」正確無(wú)誤的完成，此步驟即相當(dāng)容易。結(jié)合製程知識(shí)後，可以做出完整的結(jié)論。若A因子有二個(gè)水準(zhǔn)數(shù)，B因子有三個(gè)水準(zhǔn)數(shù)，則此實(shí)驗(yàn)的處理數(shù)有32＝6。α值小，則保守性高，相對(duì)敏感度高。j i12…1…2　MMM　MMMk…其ANOVA計(jì)算式可以簡(jiǎn)化成下列四式：1. .＝ 2. SST＝ 3. SSA＝＝ ＝－. 如果4. SSE＝SST－SSA 　ANOVA表如下：變因平方和（SS）自由度（dof）均方（MS）f值電路設(shè)計(jì)SSAk1＝SSA/(k1)/S誤差SSEnkS＝SSE/(nk)　總和SSTn1　　　利用f值查表，在α條件下，可判斷此因子對(duì)品質(zhì)特性是否具有顯著影響。 2. 水準(zhǔn)(level)因子之不同狀態(tài)或條件。6. 統(tǒng)計(jì)分析 資料分析時(shí)，利用統(tǒng)計(jì)方法會(huì)使結(jié)論客觀，如果正確的設(shè)計(jì)出實(shí)驗(yàn)，實(shí)驗(yàn)步驟也進(jìn)行無(wú)誤，接下來(lái)的統(tǒng)計(jì)分析就不難，目前功能強(qiáng)大的實(shí)驗(yàn)分析軟體如SPSS、Minitab、SAS、JMP等都可以加以運(yùn)用，同時(shí)，殘差分析及模型驗(yàn)證也需進(jìn)行。在此需再次說(shuō)明的是，於步驟一至三中，對(duì)製程有完整的認(rèn)識(shí)將會(huì)對(duì)接下來(lái)的實(shí)驗(yàn)結(jié)果產(chǎn)生關(guān)鍵性的影響，此三個(gè)步驟稱為「實(shí)驗(yàn)前規(guī)劃」。例如：錫爐實(shí)驗(yàn)中，工程師找到12個(gè)會(huì)影響的變數(shù)，接下來(lái)工程師需分別訂出每個(gè)變數(shù)變化的範(fàn)圍，與在這些範(fàn)圍中該取幾個(gè)水準(zhǔn)數(shù)，此時(shí)有關(guān)製程的知識(shí)就很重要；這些製程知識(shí)是包含實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)與理論了解?？墒且苍S有人會(huì)有下列的問(wèn)題：1. 是否還有其他可能的焠火方法？ 2. 是否有其他因子可能影響到硬處理結(jié)果？ 3. 每個(gè)焠火該進(jìn)行幾個(gè)鋁合金樣本試驗(yàn)？ 4. 在焠火中的樣本該如何進(jìn)行？資料該如何收集？ 5. 該使用何種資料分析方法？ 6. 兩種焠火方法所造成的硬度差才可稱為有明顯不同？ 在實(shí)驗(yàn)進(jìn)行前，這些問(wèn)題要一一解決，否則實(shí)驗(yàn)結(jié)果並不能代表什麼。虛無(wú)假設(shè)為檢定統(tǒng)計(jì)量為拒絕之條件如下對(duì)立假設(shè)拒絕之條件或基本實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)在統(tǒng)計(jì)製程管制實(shí)施過(guò)程，可能會(huì)出現(xiàn)很多問(wèn)題，而有些問(wèn)題並非僅藉由前一單元所介紹的品管手法即可解決，更具系統(tǒng)化、整合性的分析方法就非常重要。常用之統(tǒng)計(jì)假設(shè)方法常態(tài)母體平均數(shù)μ的檢定變異數(shù)已知假設(shè)X為一隨機(jī)變數(shù)，變異數(shù)已知為，平均值μ為未知。例如：μ﹦，：μ＞。 3. 計(jì)算或觀察X與Y之關(guān)係係數(shù)。散布圖於1750~1800間開(kāi)始使用，因?yàn)樗蠿Y軸，所以又稱為XY plot或corssplot。發(fā)言需簡(jiǎn)單扼要，勿批評(píng)或質(zhì)詢別人，並整理各種意見(jiàn)，作成紀(jì)錄。其功能可整理成下列四點(diǎn)：1. 改善解析：為改善品質(zhì)、提高產(chǎn)量、降低成本、增加工作效率，於進(jìn)行現(xiàn)狀分析時(shí)，特性要因圖所考慮之各原因，將有何種程度影響，可配合柏拉圖分析並研究提出改善對(duì)策。 E. 以一個(gè)月做為柏拉圖分析的期間。在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)，柏拉圖分析之應(yīng)用範(fàn)圍很廣，特別是涉及因素非常廣的情況，各個(gè)因素所佔(zhàn)影響之比例不同，使用柏拉圖找出重點(diǎn)因素，進(jìn)而針對(duì)重點(diǎn)因素加以解決，則問(wèn)題已解決一大半。 3. 繪製直方圖。截?cái)嘈头峙洌涸谥狈綀D上高峰發(fā)生在(或靠近)數(shù)據(jù)分布之邊緣。雙峰分配：在數(shù)據(jù)分布範(fàn)圍之中央有一低谷，而兩旁個(gè)有一高峰。元 智 公 司不 良 原 因 檢 核 表編號(hào)　主管　檢核人　日期　符號(hào)Ο：良好 △：普通 ：較差說(shuō)明：分類檢 核 項(xiàng) 目○△品管單位教育訓(xùn)練？　　??？　　??？　　　檢驗(yàn)設(shè)備？　　??？　　　、儀器是否標(biāo)示校驗(yàn)情況？　　??？　　　生產(chǎn)單位現(xiàn)場(chǎng)作業(yè)？　　　？　　　？　　　設(shè)備維護(hù)？　　　？　　　？　　　環(huán)境與安全?　　　？　　??？　　　？　　　採(cǎi)購(gòu)單位採(cǎi)購(gòu)管理？　　　？　　　？　　　？　　　　3. 位置圖 位置圖是將缺點(diǎn)或問(wèn)題發(fā)生之位置標(biāo)示於圖上，用以分析問(wèn)題發(fā)生的根源。樣本大小 」或「正」。4. 管制圖可提供診斷之資訊 管制圖上之非隨機(jī)性變化模型(nonrandom patterns)可以提供診斷製程異常之情報(bào)。第二種方式下，樣本組內(nèi)之?dāng)?shù)據(jù)為來(lái)自於上次抽樣後具代表性之產(chǎn)品。由於檢測(cè)器和自動(dòng)量測(cè)技術(shù)之發(fā)展，目前之趨勢(shì)傾向100%檢驗(yàn)。一般而言，大樣本可以很容易地偵測(cè)出製程內(nèi)小量之變動(dòng)?！』居?jì)算管制圖可用一通式來(lái)表示，假設(shè)y為量測(cè)品質(zhì)特性之樣本統(tǒng)計(jì)量，y之平均數(shù)為μy，標(biāo)準(zhǔn)差為δy，則UCL＝μy＋kδy中心線＝μyLCL=μy－kδy其中kδy為管制界限至中心線之距離。一般包括等直交表，應(yīng)具反應(yīng)表二因子交互影響的反應(yīng)圖表同時(shí)也能算出S/L比。以下幾種是有助於達(dá)成6Sigma品質(zhì)的軟體：1. SPC軟體：這種軟體中英文都有。以下是Motorola公司提出的方法。 以確定可能影響品質(zhì)的至誠(chéng)條件或項(xiàng)目。4. 為各部門(mén)提供一個(gè)明確的目標(biāo)。在Motorola，6σ品質(zhì)水準(zhǔn)的意義如下：1. (不良率或缺點(diǎn)數(shù)為百萬(wàn)分之三點(diǎn)四)2. %產(chǎn)品為無(wú)缺點(diǎn)。具有連續(xù)性的品質(zhì)特性，在製程正常時(shí)會(huì)呈常態(tài)分配，由常態(tài)分配可算出超出規(guī)格的不良率。彩色電視機(jī)廠在1974年關(guān)閉，音響廠在1980年停業(yè)，電腦記憶晶片也在