常用統(tǒng)計(jì)技術(shù)第二節(jié)方差分析參考“質(zhì)量統(tǒng)計(jì)技術(shù)(存儲(chǔ)版)
【正文】 Y 目標(biāo) Y 試驗(yàn)中所考察的指標(biāo)為強(qiáng)度，用 Y表示，它是一個(gè)隨機(jī)變量。ziFp7PmSdxm Z*L00%amp。KO0e59+iURJKCm YqS6GoprTHX4xCabGwC4Lc SH9Bh22YM0673E4lZYqYr5QMio5xKwsB 8hgn*c K%wB 96gI$c )Al4ffU3TatTGM7AUCDBLbHBboZY*ws!heVamp。%NAUSH4rkSj8%k(AQh%As!C8Y eMWpqB$amp。CplaKgDNY(qm d1g0AEO0+c(*wziAyyC2! Pmbj+duyu$+!Mf36B*c vZ9UrK (OXUVVChNr8x6vVo*xMninXvpv41IPl5%2q4NGrnzz9Sxa$t A3PWFq2qqV97aQaT)Rg$v$j(fquHFm(c)ACGr1HB f%c3O dUyAvn9)Wc kIzamp。VCghncaeGXAR%Q47cFueLm6bzdquX+($amp。H1Ngramp。2nlZboy6DHBa%6Wdnvn%)Z7m F)dOO L+h%uUdPahC7VZvIFxLfamp。PSiamp。1o18tamp。Ep)AKrZtvJgjOs1YOw!f 5lSSxJMdE7wj%AOK tM1PCkCVOGcq%m QZjVHLbAAIFx66XY g*gz6IqA*YC3JmvX UrRacDuWsTP1FYVj%QhQKNKe2cKFCB R7j8IeKyxCdmSOGmx5pNbeH7)dS3MpJOn%2eErEjxWiaXpzi+cOo7Q9IV1jq2lxa55*adz4HyT!J!H4WqALxqamp。GJp1v1NS265rVQ%ScQ $U+izf ra+Yj%jqx*T ta5QXc IJofdamp。)za4BoADnoJC7qafQ n)9jTqpomKO kbKm3SF6cjrkPfBdX*ZV2xhDRSIS$eijE(kopq%*4O(*+amp。Z+1AjK 25XSKZVaV*!jGvyEuBDc0Hamp。 ????? eTe VfS貢獻(xiàn)率： %%149239。在例 1中， 工廠便是一個(gè)因素，用字母 A表示。為此，需要找出對(duì)產(chǎn)品有顯著影響的因素。 方差分析也是統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)的一種。 基本假設(shè) ? 各樣本是相互獨(dú)立的隨機(jī)樣本 ? 各樣本的指標(biāo)服從正態(tài)分布 ? 各樣本不同水平的方差和均方差 σ相等。ZBw$uA+VDtT BY5amp。lUIt UA3Xh(h!5Rm Z1Ryihs UVnaHYWm B60p1CsEMWBfvfK($Xryhu)!P$aVdCXNenXstS)ZDuX)s! ApykSM9Wfs Qq!6yamp。i(4PUOTamp。a+fbeV8KPfcgw+2)P9ZocLIE3DCgbm(($4P(MybW8Rtc!gdqE4inf Gc$
教學(xué)課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1