【正文】 o an employment tribunal within three months of the date when the event you are plaining about happened. If your application is received after this time limit, the tribunal will not usually accept i. If you are worried about how the time limits apply to you, take advice from one of the anisations listed under Further help. Employment tribunals are less formal than some other courts, but it is still a legal process and you will need to give evidence under an oath or affirmation. Most people find making a claim to an employment tribunal challenging. If you are thinking about making a claim to an employment tribunal, you should get help straight away from one of the anisations listed under Further help. If you are being represented by a solicitor at the tribunal, they may ask you to sign an agreement where you pay their fee out of your pensation if you win the case. This is known as a 。 劉峰 基于單片機(jī)的相位差測試儀的研究 41 感謝辭 本次畢業(yè)設(shè)計(jì)歷時三個月，在這三個月里，從一開始課題分析，到方案的選擇，成型；從方案的各環(huán)節(jié)的理論驗(yàn)證，到各環(huán)節(jié)的功能的實(shí)現(xiàn)；從仿真時的疑惑重重，到論文的書寫等等，期間，在資料的查找，元器件的選擇，方案的比較選擇，等等，都得到了劉百芬老師的有力指導(dǎo)和幫助。在仿真波形及各項(xiàng)參數(shù)得出之后，要求我們對其進(jìn)行分析運(yùn)算，看看是否達(dá)到了預(yù)期要求。附加電容器的電容值應(yīng)使此電容器和其平聯(lián)電阻的 RC 時間常數(shù)大于或等于原來的反饋極時間常數(shù)。 應(yīng)采取措施保證集成電路的電源極性決不接反，或者保證不把插件反向安裝在插口內(nèi)，因?yàn)橥ㄟ^集成電路內(nèi)的正向二極管的無限制的電流沖擊會可能引起內(nèi)部導(dǎo)體熔斷，并由此造成插件的毀壞。 放大器將以等于正電源的共模輸入電壓工作，然而，在此條件中，增益帶寬和轉(zhuǎn)換速 劉峰 基于單片機(jī)的相位差測試儀的研究 39 率可能會降低。這些 JFET 具有大的刪 源和刪 —漏反向擊穿電壓，在輸入端上不需要箝位電路。 LF353引腳與標(biāo)準(zhǔn) LM1558兼容。 printf(out3=%d\n,(out3)amp。 q=t%10。j++) {。 l=k*f*360/V。 e=a*256+b。 a=P0。 h=3。 sbit P1_5=P1^5。 Windows和 forDos的集成開發(fā)環(huán)境 (IDE)可以完成編輯 編譯 連接 調(diào)試 仿真等整個開發(fā)流程 開發(fā)人員可用 IDE本身或其它編輯器編輯 C 或匯編源文件 然后分別由 C51 及 A51 編譯器編譯生成目標(biāo)文件 (.OBJ) 目標(biāo) 文件可由 LIB51 創(chuàng)建生成庫文件 也可以與庫文件一起經(jīng) L51 連接定位生成絕對目標(biāo)文件 (.ABS) ABS文件由 OH51 轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)的 Hex 文件 以供調(diào)試器 dScope51 或tScope51使用進(jìn)行源代碼級調(diào)試 也可由仿真器使用直接對目標(biāo)板進(jìn)行調(diào)試 也可以直接寫入程序存貯器如 EPROM 中深入理解并應(yīng)用 C51對標(biāo)準(zhǔn) ANSIC 的擴(kuò)展是學(xué)習(xí) C51的關(guān)鍵之一 因?yàn)榇蠖鄶?shù)擴(kuò)展功能都是直接針對 8051系列 CPU硬件的大致有以下 8 類： 8051 存儲類型及存儲區(qū)域 (SFR) 指針 附錄 3 雙 24 譯碼器 74LS139 Vcc 2G 2A 2B Y0 Y1 Y2 Y3 __ __ __ __ __ __ __ __ ┌┴─┴─┴─┴─┴─┴─┴─┴┐ Y0=2A 2B Y1=2A 2B Y2=2A 2B Y3=2A 2B │16 15 14 13 12 11 10 9 │ ） │ __ __ __ __ __ __ __ __ │ 1 2 3 4 5 6 7 8│ Y0=1A 1B Y1=1A 1B Y2=1A 1B Y3=1A 1B └┬─┬─┬─┬─┬─┬─┬─┬┘ 1G 1A 1B Y0 Y1 Y2 Y3 GND 劉峰 基于單片機(jī)的相位差測試儀的研究 29 附錄 4： 74LS161 管腳圖 附錄 5： 8031 管腳圖： 正弦波線性調(diào)節(jié)； ； ； 節(jié)； ； ； ； 9. 方波輸出（集電極開路輸出）； 10. 外接電容； ； ； 1 14. 空腳 。 設(shè)計(jì)改進(jìn)：測量儀部分的誤差主要在信號前級處理電路，主要是由隔直電容和運(yùn)放等集成芯片產(chǎn)生。該模 塊首先由測得的頻率 f 得到被測信號的周期 fT 1? 再由計(jì)數(shù)器測量鑒相后的脈寬 ? 。如果兩路輸入信號的幅度相差較大的話（例如一路信號的峰 峰為 5V，另一路為 ），兩路遲滯比較器引入的相位差可能 有較大差值（十余度），這使得相位差大得難于接受。輸入正弦信號在轉(zhuǎn)換過程中，信號源，放大電路，過零比較器等組成放大整形電路。 觀察 U1 基本于預(yù)期波形相符，而 U2,U3,U4 都有不同程度的偏差，這與靜態(tài)工作點(diǎn)的選擇有關(guān)，通過改變電容的大小和 LP311,LF353 直流激勵源的參數(shù)可以達(dá)到目的。 void display(uchar x) { SBUF=X。輸出顯示部分采用 6塊 LED 數(shù)碼管和 6 塊 74164，由單片機(jī)輸出的頻率和相位分時顯示在顯示管上，當(dāng)數(shù)據(jù)從單片機(jī)傳出時，必須經(jīng)過譯碼器譯碼才能顯示在顯示管上， LED 數(shù)碼顯示管有兩種接法，這里采用共陽極 接法。 其中 court[18]={0xC0,0xF9,0xA4,0xB0,0x99,0x92, 0x82,0xF8,0x80,0x90,0x88,0x83, 0xC6,0xA1,0x86,0x84,0xFF,0x8C}。為了使計(jì)數(shù)器輸出連接在一起而造成短路，于是在接入前串接一個三態(tài)門總線。 信號信號 圖 － 10 整個計(jì)數(shù)過程由單片機(jī)進(jìn)行控制，考慮到性價比及誤差的要求范圍，在此選用 8051單片機(jī)芯片，在 8051 芯片中，由于 P0口經(jīng)常用做低 8 位地址線或數(shù)據(jù)線； P2 口用作高 8位地址線；而 P3 口的第二功能更為重要，多數(shù)口線要留作控制信號使用。被測信號的上升沿到來時， D 觸發(fā)器翻轉(zhuǎn)，其Q 為高電平， D 觸發(fā)器控制測頻部分的計(jì)數(shù)器同時工作，這就保證了測頻部分的兩組計(jì)數(shù)器能同時工作，這也是測頻部分原理的根據(jù)。由于待測信號得頻率范圍很大，所以我們設(shè)計(jì)了一中測量精度與頻率無關(guān)的硬件等精度測量方法。 （ C1） 異或輸入信號輸入信號標(biāo)準(zhǔn)頻率信號清零信號計(jì)數(shù)器 圖 － 7 假設(shè)計(jì)數(shù)器計(jì)了 0N 個脈沖，標(biāo)準(zhǔn)信號的頻率 XF ，則 t= XFN/0 。 21211 R UURU ?? 即11212 R RRUU ?? =5000 假設(shè) R1=1KΩ，則 R2=4999。電路的振蕩頻率 f 為 [C(R1+RP1/2)] 。 ΩΩΩΩΩΩΩΩΩΩ 圖－ 4 如圖 4 所示 ,由放大器，高速比較器 LM311 、觸發(fā)器組成 . 它將被測移相網(wǎng)絡(luò)的輸入模擬待測信號 U1 和被測移相網(wǎng)絡(luò)的輸出信號 U3 變成數(shù)字方波信號 U2 和 U4 ,送至異或門處理 . 顯然 ,U1 和 U3 是同頻不同相的信號 ,相應(yīng)信號的波形如圖 － 5 所示 . 電路中的運(yùn)放都采用 LF353，它有 10M帶寬， 很好地滿足設(shè)計(jì)要求。 通過比較上述三種方案的優(yōu)缺點(diǎn)，結(jié)合實(shí)際情況，筆者決定采用第三種方案。 方案二：采用直接數(shù)字頻率合成（ DDFS）技術(shù)。誤差主要是電阻，電容誤差產(chǎn)生。任意相移角度。該方案的優(yōu)點(diǎn)是相移量可以很大（ 0176。將兩路輸入信號分別通過放大，限幅，過零比較，再將兩路整形后的信號輸入到異或門，所得脈沖的寬度可以反映相位差的大小。將兩路輸入信號分別通過放大，整形，過零比較，然后分別輸入到單片機(jī)的兩個外部中斷，一個中斷開啟定時器，另一個中斷關(guān)閉定時器，通過讀取定時器值即可得到相位差。有的相位計(jì)隨著頻率的變化其誤差呈規(guī)律性變化，當(dāng)工作頻率變化較大時，其誤差的變化遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了允許的范圍 隨集成電路技術(shù)的發(fā)展 ,單片 CPU 的普及 ,用單片機(jī)組成的數(shù)字相位測量電路具有精度高、成本低的優(yōu)點(diǎn) , 日益受到人們的重視。硬件結(jié)構(gòu)簡單 , 程序簡單可讀寫性強(qiáng) ,軟件采用匯編語言實(shí)現(xiàn) , 效率高。采用數(shù)碼管顯示被測信號的頻率、相位差。 傳統(tǒng)的測量方法很多 , 有示波器測量法、轉(zhuǎn)化為時間間隔法、電壓測量法、零示法等。 信號處理模塊主要是對信號進(jìn)行濾波 ,濾除干擾并進(jìn)行適當(dāng)?shù)姆糯?、整形、限?,它與整型模塊一同構(gòu)成信號預(yù)處理電路 ,輸出 TTL電平 ,為相位差的檢測作好準(zhǔn)備 . 采用同相滯回比較器 ,以減小外加干擾 ,提高測量儀靈敏度 ,提高精度 ,同時增大輸入阻抗 .本例采用快速性能較好的 LP311 作比較器 ,以適應(yīng)高頻信號的測量要求 ,提高反應(yīng)速度和測量精度 . 此電路還有過壓保護(hù)的作用 數(shù) 字式相位測量儀 方案一：采用單片機(jī)實(shí)現(xiàn)數(shù)字相位測量。 方案三：如圖 1采用單片機(jī)和計(jì)數(shù)器實(shí)現(xiàn)數(shù)字相位測量。然后根據(jù)需要移相的大小，對量化數(shù)據(jù)的地址加上一個相位偏移量后輸出。 ～ +90176。 ～ +45176。的精度。集成函數(shù)發(fā)生器能夠很方便的產(chǎn)生所需 要的正弦波形，而且通過調(diào)節(jié)電阻的阻值可以調(diào)節(jié)輸出頻率的變化，穩(wěn)定性也不錯。電路及參數(shù)如圖4所示。 當(dāng)電位器 Rp1動端在中間 位置，并且圖中管腳 8 與 7 短接時，管腳 3 和 2 的輸出分別為方波、三角波和正弦波。 由于要求把最小的信號（即 1mv）放大到 5V，則要求放大倍數(shù)為 5000 倍（即）。 已知一個被測信號的周期為 T，設(shè)相位差為△ ? ，可得 △ ? =t/T 360176。其中 HZ74LS161 的管腳圖見附錄 劉峰 基于單片機(jī)的相位差測試儀的研究 14 測頻部分 測頻原理 傳統(tǒng)測量方法中，測量精度受被測頻率得影響。這時 D 觸發(fā)器 劉峰 基于單片機(jī)的相位差測試儀的研究 15 的 Q 端為低電平，兩組計(jì)數(shù)器尚沒有計(jì)數(shù)。在單片機(jī)中進(jìn)行數(shù)據(jù)處理得到頻率 f 和相位 。 這樣一來通過這 10 根控制線就可以控制計(jì)數(shù)器何時開始計(jì)數(shù)，何時清零了，何時讀數(shù)，可以使它們有條不紊的工作。具體情況見流程圖單片機(jī)源程序見 圖－ 11。} } } 劉峰 基于單片機(jī)的相位差測試儀的研究 19 測頻是否結(jié)束開始初始化測頻開始測相開始測相是否結(jié)束讀取測頻結(jié)果讀取測相結(jié)果換算和顯示頻率和相位 圖－ 11 劉峰 基于單片機(jī)的相位差測試儀的研究 20 輸出顯示部分 在輸出顯示方面，筆者決定輸出顯示經(jīng)過計(jì)算后的頻率和相位。 ＃ include define uchar unsigned char uchar byte=0x59。 電路仿真操作步驟 利用原理圖編輯器（ Schematic Edit）編輯仿真測試原理圖，在 編輯原理圖過程中，除了導(dǎo)線，電源符號，接地符號外，原理圖中所有元件的電氣圖形符號均要取自電路仿真測試專用電氣圖形符號數(shù)據(jù)庫文件包 相應(yīng)元