其他的顯微分析方法(存儲版)
【正文】 描隧道顯微鏡 (STM)不能區(qū)分這兩個因素，但用掃描隧道譜（ STS）方法卻能區(qū)分。所以在原子力顯微鏡中也利用斥力與吸引力的方式發(fā)展出兩種操作模式： （ 1）利用原子斥力的變化而產(chǎn)生表面輪廓為接觸式原子力顯微鏡（ contact AFM ），探針與試片的距離約數(shù)個 197。 XPS的絕對靈敏度很高 ， 是一種超微量分析技術(shù) ，分析時所需樣品很少 ， 一般 10的－ 8次方克左右即可 ， 因此 XPS是薄膜材料最有效的分析手段之一 。若以能量的角度來看，這種原子與原子之間的距離與彼此之間能量的大小也可從 Lennard –Jones 的公式中到另一種印證。 圖 1 掃描模式示意圖 （ a）恒電流模式；（ b）恒高度模式 S 為針尖與樣品間距， I、 Vb 為隧道電流和偏置電壓， Vz為控制針尖在 z 方向高度的反饋電壓。當(dāng)表面有分子的覆蓋層，通過研究這些覆蓋層的振動模式可以測定吸附分子的結(jié)構(gòu)，確定分子在表面的吸附位置。 因此 ， 背散射電子中絕大部分是被表面或近表面的原子散射回來的 ， 這就使低能電子衍射成為研究表面結(jié)構(gòu)的一個理想的手段 。其他的顯微分析方法 材料測試分析技術(shù) 離子探針顯微分析 IMMA ? 離子探針顯微分析（ IMMA， Ion Microprobe Mass Analysis）是一種利用質(zhì)譜儀對從固體樣品表面激發(fā)的二次離子進行元素分析的裝置。 低能電子衍射 LEED 晶體中的原子對能量在 0~500 eV范圍內(nèi)的電子有很大的散射截面 ， 入射電子在經(jīng)受彈性或非彈性散射之前是不能進入晶體很深的 。 ? 由于表面可被看為破壞了點陣周期性的缺陷，因此表面的原子具有和體內(nèi)原子不同的振動模式。將針
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