點(diǎn)陣參數(shù)測定與晶體結(jié)構(gòu)分析(存儲版)
【正文】 衍射分析工作性質(zhì)不同 ， 所著重考慮的誤差項(xiàng)目也不同 。 利用 X射線衍射儀同時(shí)測量試樣與標(biāo)樣衍射譜線 。這就是線對法的基本公式，根據(jù)兩衍射線的 (θ2θ1)、 (h1k1l1) 和(h2k2l2) 即可計(jì)算出點(diǎn)陣參數(shù) a 值。 時(shí) ， 這類點(diǎn)陣誤差趨近于零 ， 利用此規(guī)律進(jìn)行數(shù)據(jù)處理 ， 可以消除其影響 。 cos2θ a 在衍射儀法中 ， 由于式誤差各項(xiàng)函數(shù)并不完全相同 ， 用一種函數(shù)外推實(shí)際上并不能絕對消除系統(tǒng)誤差 ， 即仍然存在外推殘余誤差 。 對立方晶系，假設(shè)外推函數(shù)為某已知函數(shù) g(θ)，經(jīng)理論推導(dǎo)得到 函數(shù) g(θ) 可假定為 cos2θ 或 (cos2θ/sinθ+ cos2θ/θ) ? ? ? ? ? ????? gKalkh s i n24s i n 220 22222 ????六方晶系 四方晶系 斜方晶系 ? ? ? ? ? ? ? ?????? gKclakhkh s i n24 3s i n 22022202222 ?????? ? ? ? ? ? ? ?????? gKclakh s i n244s i n 22022202222 ????? ? ? ? ? ? ? ??????? gKclbkah s i n24 4 4 s i n 2222 222 2222 ????單斜晶系 對于單斜晶系 ， 還可以計(jì)算出晶胞的夾角值 。 計(jì)算出每個(gè)衍射線的理論強(qiáng)度值 ， 并約化為相對于最強(qiáng)線的相對強(qiáng)度值 。 否則 ， 還要重復(fù)上面的工作 ， 直至達(dá)到要求 。 由于衍射強(qiáng)度理論計(jì)算值實(shí)際含義是相對積分強(qiáng)度 ， 因此實(shí)驗(yàn)時(shí)必須測量相對積分強(qiáng)度 。 必須注意的是 ， 有些粉末顆粒的形狀為長條形 ， 由此填充于普通試樣架 ， 這些長條顆粒將平躺在試樣架內(nèi) ， 從而造成擇優(yōu)取向效應(yīng) ， 可采用特殊試樣架加以解決 。 再者 ， 就是檢查晶體結(jié)構(gòu)是否滿足晶體化學(xué)的經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)等 。 根據(jù)晶體化學(xué)知識和經(jīng)驗(yàn)規(guī)律 、 衍射強(qiáng)度分布特點(diǎn)以及空間群對原子分布對稱性的要求 ，建立起晶體結(jié)構(gòu)模型 。 cos2θ/sinθ+ cos2θ/θ a 多元回歸法 柯亨 (Cohen)方法 ， 其主要特點(diǎn)是 直接利用測所得的 θ值進(jìn)行最小二乘法計(jì)算 ， 并且它適用于任何晶系和任何外推函數(shù) ， 因而比上述 圖解外推法更具有普遍性 。 外推至 cos2θ=0 即 2θ=180186。 數(shù)據(jù)處理法包括：圖解外推法以及柯亨最小二乘法等 。 2θ1 2θ2 利用這種方法 ， 儀器在未經(jīng)精細(xì)調(diào)整的條件下 ， 即可獲得較高的點(diǎn)陣參數(shù)測量精度 ， 非常適用于一般性分析工作或者用于點(diǎn)陣參數(shù)的相對比較等 。 當(dāng)被測試樣是粉末時(shí) ， 直接將標(biāo)樣與待測試樣均勻混合即可 。 以上論述了衍射儀法的一些常見重要誤差 ，實(shí)際它們可細(xì)分為 30余項(xiàng) 。 對于寬化的衍射線 ，此效應(yīng)更為明顯 。 試樣吸收誤差 試樣吸收誤差 ， 也稱透明度誤差 。 當(dāng)水平發(fā)散角 ε很小時(shí) (≤1o)，可以估計(jì)出其誤差的大小 因此，當(dāng) 2θ趨近于 180186。 在使用線焦點(diǎn)并有前后兩個(gè)索拉狹縫的情況下 ，如果兩個(gè)狹縫的垂直發(fā)散度 δ=(狹縫層間距 )/(狹縫長度 )相等而且不大 。 測角儀的轉(zhuǎn)動(dòng)角 ， 等于步進(jìn)電機(jī)的步進(jìn)數(shù)乘以每步所走過的 2θ轉(zhuǎn)動(dòng)角度 ， 因此這種誤差隨2θ角度而變 。 2θ的 0186。 點(diǎn)陣參數(shù)測量是一種間接的測量方式，即首先測量衍射角 2θ，由 θ計(jì)算晶面間距 d，再由 d計(jì)算點(diǎn)陣參數(shù)。 除此之外 ， 為了確保 sin2θ實(shí)測值與計(jì)算值之間的一致性 ， 通常要求 sin2θ測量誤差不能超過177。 根據(jù)這一特點(diǎn) ， 如果能夠證實(shí)某物質(zhì)衍射譜線與上述六種晶系都不符合 ， 而且又找不到各晶面 sin2θhkl值之間的確切關(guān)系 ， 則可以判斷這種物質(zhì)就是三斜晶系的結(jié)構(gòu) 。 立方晶系 在立方晶系中 ， a=b=c及 α=β=γ=90o， 可以證明 立方晶系中各 (hkl)衍射面 sin2θhkl 除滿足上式外，它們的 sin2θhkl 必然有公因子值。 在此情況下 ， 可以根據(jù) X射線的衍射理論 ， 利用實(shí)測衍射譜線的位置及強(qiáng)度 ， 來分析和計(jì)算試樣晶體結(jié)構(gòu)參數(shù) 。 ? ?? ? ? ? ? ?? ?? ? 222 22222222 4 3s i nlBkhkhAlckhkhahk l???????? ??? 四方晶系 在四方晶系中 ， a=b≠
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