【正文】 量 子 程 序是 否 為 0 9 H ( 0 9 H 為線 性 校 正 ）是 否 為 0 5 H （ 0 5 H 為單 步 線 性 校 正 ）是 否 為 0 A H （ 0 A H 為恒 光 源 測 量 ）線 性 校 正 子 程序單 步 線 性 校 正子 程 序恒 光 源 測 量 子程 序是 否 為 A A H（ A A H 為 命 令 開 始 ）NYYYNNNYYY 圖 單片機(jī)程序流程圖 以下完整的主程序和各子程序： ORG 0000H JMP START ORG 202H START: MOV SP， 50H 。 等待串口信號(hào) RECOM: CLR RI MOV A， SBUF 。 完畢返回 JUDGE2 : CJNE A， 05H， JUDGE3 。 延時(shí)使引腳上的數(shù)據(jù)穩(wěn)定 MOV R1， P2 。 發(fā)送低八位 JNB TI， $ CLR TI MOV SBUF， R2 。 等待開關(guān)光源穩(wěn)定 NOP NOP NOP NOP ACALL SUBR 。 讀串口 JNB TI， $ CLR TI MOV SBUF， A 。 同一光強(qiáng)時(shí) 重復(fù)采集十次 ACALL SUBR ACALL SUBR ACALL SUBR ACALL SUBR ACALL SUBR ACALL SUBR ACALL SUBR ACALL SUBR ACALL SUBR JMP BACK RACQU: MOV P0 ， 11111000B 。 選擇通路 BACK1 : JNB RI， $ CLR RI MOV A， SBUF 。 計(jì)數(shù)器值的低 8 位裝入 R3 JNB RI， $ CLR RI MOV A， SBUF 。 調(diào)用采集子程序 JB RI ， FINISH1 。保存文件以啟動(dòng)測量時(shí)的時(shí)間為默認(rèn)文件名，如文件名為 2020，05， 15， 21， 25。為保 證數(shù)據(jù)不丟失，計(jì)算機(jī)程序另啟動(dòng)一個(gè)工作線程，專門接收發(fā)送給計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)，并把兩個(gè)字節(jié)合成一雙精度數(shù)，然后置位事件，通知計(jì)算線程新數(shù)據(jù)到達(dá)，開始計(jì)算工作。當(dāng)程序啟動(dòng)時(shí)，若儀器未線性校正、未標(biāo)定，則會(huì)彈出消息框提示使用者進(jìn)行線性校正和標(biāo)定儀器。若報(bào)告不正確，檢查接插的端口是否與選擇的端口一致，儀器是否打開電源，硬件電路是否有問題。它們是濁度值和該濁度對應(yīng)的測量的數(shù)據(jù)。 完成線性校正和標(biāo)定儀器后，才算是儀器完全制作完成，以后啟動(dòng)程序不再顯示提示線性校正和標(biāo)定消息框。它們之間的切換通過選擇菜單的操作 恒光源測量， “恒光源測量” 左邊有鉤符號(hào)則表示恒光源測量方式。儀器顯示屏滾動(dòng)顯示時(shí)間 —濁度值曲線。 測量完畢，點(diǎn)擊 ―停止 ‖按鈕，儀器停止測量。然后把游標(biāo)移動(dòng)到要統(tǒng)計(jì)段的一端（借助時(shí)間 LED 的顯示可找準(zhǔn)位置）按下 Shift 鍵和鼠標(biāo)左鍵，拖動(dòng)鼠標(biāo)，儀器顯示屏上出現(xiàn)以剛才那點(diǎn)為頂點(diǎn)的矩形，同樣借助時(shí)間 LED 的顯示找到統(tǒng)計(jì)段的另一端，釋放 Shift 鍵和鼠標(biāo)左鍵，則儀器顯示屏的顯示范圍為這統(tǒng)計(jì)段，點(diǎn)選 ―統(tǒng)計(jì)顯示范圍 ‖的 radio，這段統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)就顯示在統(tǒng)計(jì) LED 中。查看完畢，點(diǎn)擊 ―跟蹤 ‖按鈕，儀器會(huì)將查看期間測量的數(shù)據(jù)添加到儀器顯示屏中。左邊最大的一塊顯 示區(qū)（稱它為儀器顯示屏）以時(shí)間為橫軸以濁度值為縱軸顯示時(shí)間 —濁度值曲線。另一種是調(diào)制光源測量方式。標(biāo)長春理工大學(xué)本科畢業(yè)設(shè)計(jì) 26 定完后，點(diǎn)擊完成按鈕，保存標(biāo)定數(shù)據(jù)退出。從菜單中選擇操作 標(biāo)定儀器，彈出如圖 63 圖 標(biāo)定儀器對話框 的對話框。大概幾秒鐘。使用儀器時(shí)，首先將儀器的串口 (RS232)接到計(jì)算機(jī)的任意一串口上，比如 COM2。 (4)接收單片機(jī)發(fā)送來的采集數(shù)據(jù)。 (2)保存測量結(jié)果。給 CD4040 R4R3 個(gè)脈沖 DJNZ R3， COUNT1 MOV R3， 0FFH DJNZ R4， COUNT1 ACQU1: JNB ， $ 。 反射串口來的數(shù)據(jù) MOV R3， A。 沒有命令 繼續(xù)下一輪采集 FINISH: RET CONST: MOV P1， 11111010B 。 等待時(shí) 開指示燈 NOP NOP NOP NOP NOP ACALL SUBR ACALL SUBR ACALL SUBR ACALL SUBR ACALL SUBR ACALL SUBR ACALL SUBR ACALL SUBR ACALL SUBR ACALL SUBR CLR CLR JNB RI， $ 。 讀串口 JNB TI， $ CLR TI MOV SBUF， A 。 給計(jì)數(shù)器一個(gè)脈沖計(jì)數(shù) CLR 。 讀數(shù)據(jù)的高四位到 R2 SETB 。 等待 MAX172 的 BUSY 正跳變 長春理工大學(xué)本科畢業(yè)設(shè)計(jì) 17 JNB ， $ MOV P2， 0FFH 。 反射串口來的數(shù)據(jù) CJNE A， 01H， JUDGE 判斷是否為數(shù)據(jù)采集命令 不是繼續(xù)判斷 約定采集命令代碼為 01aaH ACALL RACQU JMP WAIT JUDGE: CJNE A， 09H， JUDGE2 。 計(jì)時(shí)器 1 開始 SETB TI WAIT: MOV P0， 0FFH 長春理工大學(xué)本科畢業(yè)設(shè)計(jì) 16 MOV P1， 10111111B 。 長春理工大學(xué)本科畢業(yè)設(shè)計(jì) 15 第 5 章 軟件的設(shè)計(jì) 單片機(jī)的編程 單片機(jī)程序匯編語言編寫。所以在它的輸出端加上運(yùn)放 LM224 驅(qū)動(dòng)，同時(shí)通過 0Y、 1Y 端引入電壓負(fù)反饋。 單片機(jī)的 P P11 端口分別連接另一個(gè) 12 位計(jì)時(shí)器 CD4040 的 CLR、CLK 通過指令復(fù)位 P10 端口對計(jì)時(shí)器清零，通過指令復(fù)位和置位 P11 端口也就是給 CLK 脈沖使計(jì)時(shí)器計(jì)數(shù)。 由于單片機(jī)沒有對外部存儲(chǔ)器的訪問。為了便于儀器的調(diào)試光源的亮度，兩反饋電阻 R R5 是可調(diào)的。 本應(yīng)用中，微處理器對 MAX172 的控制和數(shù)據(jù)讀取不采用內(nèi)存讀取方式，而直接用指令通過寫微處理器的端口輸入 HBEN、 CS、 RD 信號(hào)，查詢 BUSY 信狀態(tài)。 24 窄雙列直插封裝有標(biāo)準(zhǔn)的與微處理器的界面。通過定時(shí)器 555 產(chǎn)生方波輸出，方波的周期由下式?jīng)Q定： T=ln2(R1+2R2)C3 圖 41 中的元件值，可得到 2KHz 的方波，方波經(jīng)二級(jí)管整流得到負(fù)電壓，再經(jīng)三端集成穩(wěn)壓器 7912 輸出穩(wěn)定的 12V 負(fù)電壓。主線程在線性校正時(shí)，將校正數(shù)據(jù)保存以便計(jì)算線程應(yīng) 用這些數(shù)據(jù)作線性化。U2U239。令 X0=U1=U19。同樣可用上述的方法。以散射測濁度法為例，光探測器接收到的光強(qiáng)信號(hào)轉(zhuǎn)化為電壓信號(hào)，假設(shè)轉(zhuǎn)化是線性的，電壓信號(hào)用下式表示： u=a1(K‘TIO+IB exp(KTL))+a0 （ 3） a1a0為與光敏元件和電路有關(guān)的常數(shù)， IB為背景光的光強(qiáng)信號(hào)，它主要通過透 射液體作用于光探測器上。 長春理工大學(xué)本科畢業(yè)設(shè)計(jì) 6 第 2 章 調(diào)制光源光強(qiáng)技術(shù)的理論分析 引言 濁度測量中，一個(gè)需要解決的問題就是如何避免背景光對測量的干擾。為實(shí)現(xiàn)此技術(shù)又提出和驗(yàn)證了軟硬件結(jié)合非 線性校正方法。第一代為指針式儀器儀表，如指針式萬用表、功率表。 WZT 系列 高、低濁度儀均 有六種不同的測量量程可供選擇，根據(jù)用戶需要，在出廠時(shí)加 以確定。同時(shí)，可根據(jù)測量要求，對自動(dòng)清洗程序自行重設(shè)定，從而可保證濁度儀長期穩(wěn)定地運(yùn)行。 國內(nèi)外濁度儀器的現(xiàn)狀 國外濁度儀器的現(xiàn)狀 從 20 世紀(jì) 90 年代開始，國外許多儀器儀表公司都推出了許多技術(shù)先進(jìn)、性能優(yōu)良的濁度儀。按照所測量濁度的范圍，可分為低濁度儀、中濁度儀、高濁度儀。 (3) 透射光和散射光比較測定法 即透射光和 散射光比較測定法。儀器分析 法基本方法如下幾種： (1) 透光式測定法 光透過濁液被減弱的程度與濁度有一定函數(shù)關(guān)系，測量透過待測濁液的光的強(qiáng)度，來得到濁度值。 長春理工大學(xué)本科畢業(yè)設(shè)計(jì) III 目錄 摘 要 ................................................................................................................................ I ABSTRACT .....................................................................................................................II 目錄 ............................................................................................................................... III 第 1 章 緒論 .................................................................................................................... 1 濁度的簡介 ......................................................................................................... 1 濁度的概念 ............................................................................................... 1 濁度測量方法 ............................................................................................ 1 濁度儀的種類 ............................................................................................ 3 國內(nèi)外濁度儀器的現(xiàn)狀 ....................................................................................... 3 國外濁度儀器的現(xiàn)狀 ................................................................................. 3 國內(nèi)濁度儀器的現(xiàn)狀 ................................................................................. 3 本文研究的目的和研究內(nèi)容 ................................................................................ 4 研究的目的 ............................................................................................... 4 研究的內(nèi)容 ...................