【正文】 “ u”圖和“ c”圖適用於相同的數(shù)據(jù)狀況，但如果樣本含有多於一個(gè)“單位產(chǎn)品”的量，為使報(bào)告值更有意義時(shí)，可以使用“ u”圖，並且在不同時(shí)期內(nèi)樣本容量不同時(shí)必須使用“ u”圖。 ? 記錄並描繪每個(gè)子組內(nèi)的不合格品數(shù) (np)?？勺鳛楝F(xiàn)行控制的基礎(chǔ)。必須對系統(tǒng)本身直接採取管理措施，否則過程能力不可能得到改進(jìn)。它們便變成了操作控制限，當(dāng)將來的數(shù)據(jù)收集記錄了後，就對照它來評價(jià)。 ? 控制限用水平虛線：一般為紅色虛線。 ? 分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的週期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。通常最好是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值 (例如第一和第二個(gè)讀數(shù)點(diǎn)的差，第二和第三讀數(shù)間的差等 )。 ? 最差情形，可以允許製程中心，偏差177。 ? 連續(xù)的 20點(diǎn)中至少有 16點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí) . 57 控制圖的觀察分析 ? 傾向 : 若干點(diǎn)連續(xù)上升或下降的情況稱為傾向 , 其判別準(zhǔn)則如下 : ? 當(dāng)出現(xiàn)連續(xù) 5點(diǎn)不斷上升或下降趨向時(shí) , 要注意該工序的操作方法 。 UCL CL LCL 54 控制圖的觀察分析 ? 作控制圖的目的是為了使生產(chǎn)過程或工作過程處于“ 控制狀態(tài) ” . 控制狀態(tài)即穩(wěn)定狀態(tài) , 指生產(chǎn)過程或工作過程僅受偶然因素的影響 , 產(chǎn)品質(zhì)量特性的分布基本上不隨時(shí)間而變化的狀態(tài) . 反之 , 則為非控制狀態(tài)或異常狀態(tài) . ? 控制狀態(tài)的標(biāo)準(zhǔn)可歸納為二條 : ? 第一條 , 控制圖上點(diǎn)不超過控制界限 。 平均值和個(gè)別值檢出力的說明 28 普通原因、特殊原因 ? 普通原因指的是造成隨著時(shí)間推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程中的許多變差的原因，我們稱之為：“處於統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)”、“受統(tǒng)計(jì)控制”，或有時(shí)簡稱“受控”，普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。2σ % 177。 % % μ177。 ? 就控制圖在工廠中實(shí)施來說，英國比美國為早。 ? 日本在 1950年由 . Deming博士引到日本。2σ % % μ177。3σ % 177。只有變差的普通原因存在且不改變時(shí)，過程的輸出才可以預(yù)測。 ? 第二條 , 控制圖上點(diǎn)的排列分布沒有缺陷 . 55 控制圖的觀察分析 ? 進(jìn)行控制所遵循的依據(jù) : ? 連續(xù) 25點(diǎn)以上處于控制界限內(nèi) 。 ? 當(dāng)出現(xiàn)連續(xù) 6點(diǎn)不斷上升或下降的趨向時(shí) , 要開始調(diào)查原因 。 ，此時(shí)的 Cpk= LSL u USL 6σ 6σ 77 Sigma=σ=Deviation (Square root of variance 7 6 5 4 3 2 1 0 1 2 3 4 5 6 7 Between+/1σ Between+/2σ Between+/3σ Between+/4σ Between+/5σ Between+/6σ % % % % % % Result:317300 ppm outside （ deviation) 45500 ppm 2700 ppm 63 ppm ppm ppm σ ????? 1 )(2nxx i?Axis grach in Sigma Normal DistributionGaussian Curve 78 管制圖sX ?? A收集數(shù)據(jù)：在計(jì)算各個(gè)子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下： 554321 xxxxxx ?????1)( 2??? ?nxxs i79 SBLCLSBUCLSCLSAXLCLSAXUCLXCLRRRXXX3433????????標(biāo)準(zhǔn)差管制圖平均值管制圖? B計(jì)算控制限 管制圖sX ?80 ? C過程控制解釋 ?(同 XR圖解釋 ) 管制圖sX ?81 ? D過程能力解釋 管制圖sX ?4?cs??82 Case study 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 1 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 72 2 68 75 73 74 78 74 72 74 78 76 74 76 75 79 3 68 77 96 75 78 71 73 75 77 75 76 77 75 80 4 69 79 95 72 80 72 71 76 72 75 77 72 72 78 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 1 75 74 70 62 74 78 80 80 72 55 70 73 72 73 2 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 72 3 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 74 4 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 76 83 Case study ? 請計(jì)算出上表的 Xs控制圖的控制限？ ? 請判定過程是否穩(wěn)定？ ? 如果是不穩(wěn)定該如何處理？ ? 如果製程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自 n=4調(diào)為 n=5時(shí)，那麼其新控制限為何？ 84 管制圖RX ?~? A收集數(shù)據(jù) ? 一般情況下，中位數(shù)圖用在樣本容量小於 10的情況，樣本容量為奇數(shù)時(shí)更為方便。移動極差的個(gè)數(shù)會比單值讀數(shù)少一個(gè) (25個(gè)讀值可得 24個(gè)移動極差 )，在很少的情況下，可在較大的移動組(例如 3或 4個(gè) )或固定的子組 (例如所有的讀數(shù)均在一個(gè)班上讀取 )的基礎(chǔ)上計(jì)算極差。時(shí)間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾 ? 子組數(shù)量：要大於等於 25組以上，才能判定其穩(wěn)定性。 ? 盡量讓樣本數(shù)一致，如果樣本數(shù)一直在變化則會如下圖： 100 200 300 100 200 100 100 200 300 100 1 2 1 2 1 2 1 2 3 2 107 1 098765432100 . 0 40 . 0 30 . 0 20 . 0 10 . 0 0S a m p l e N u m b e rProportionP C h a r t f o r C 2P = 0 . 0 1 0 0 03 . 0 S L = 0 . 0 3 9 8 5 3 . 0 S L = 0 . 0 0 0108 Ｃ過程控制用控制圖解釋 C1分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定證據(jù) C2尋找並糾正特殊原因 C3重新計(jì)算控制界限 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 建立 p圖的步驟 C 109 分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定的證據(jù) ? 點(diǎn) ? 線 ? 面 ? 以上三種方式做判定。 113 收集數(shù)據(jù) 繪圖及計(jì)算 控制限 是否異常 延伸控制限 N 找出異常點(diǎn)原因 並提出相應(yīng)措施 製程有變化 人機(jī)料法環(huán)測量 Y 控制限運(yùn)用說明 114 Ｄ過程能力解釋 D1計(jì)算過程能力 D2評價(jià)過程能力 D3改進(jìn)過程能力 D4繪制並分析修改後的過程控制圖 建立 p的步驟 D 115 過程能力解釋 偶因和異因並存 找出異因 只剩偶因 運(yùn)用控制圖 過程穩(wěn)定 (連 25點(diǎn)不超限 ) 計(jì)算過程能力 116 計(jì)算過程能力 ? 對於 p圖，過程能是通過過程平均不合率來表，當(dāng)所有點(diǎn)都受控後才計(jì)算該值。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格的原因。但是還應(yīng)對繼續(xù)系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)查和改進(jìn)。 124 B計(jì)算控制限 )1()1(3)1(3.....21ppnppnpnLCLppnpnUCLkddpnCLknpnpnppnnpnpnpnpk?????????????????125 過程控制解釋、過程能力解釋 ? C過程控制解釋：同“ p”圖的解釋。“ u”圖的繪制和“ p”圖相似，不同之處如下： 136 A收集數(shù)據(jù) ? 各子組樣本的容量彼此不必都相同，盡管使它的容量保持在其平均值的正負(fù) 25%以內(nèi)可以簡化控制限的計(jì)算。除了缺陷量是按每單位產(chǎn)品為基本量表示以外，它是與 c圖相似的。樣本容量應(yīng)足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個(gè)不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。這個(gè)新的均值反映了受控制狀態(tài)下的性能。在操作上診斷特殊原因 (控制 )變差問題的分析方法不適於診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。 ? 一旦歷史數(shù)據(jù)表明一致性均在試驗(yàn)的控制限內(nèi)，則可將控制限延伸到將來的時(shí)期。 104 Ｂ計(jì)算控制限 B1計(jì)算過程平均不合格品率 B2計(jì)算上、下控制限 B3畫線並標(biāo)注 建立 p控制圖的步驟 B 105 npppLCLnpppUCLndpCLnnndddnnnpnpnpnppppkkkkk)1(3)1(3......... . ........2121212211????????????????????????中心線計(jì)算平均不合格率及控制限 106 畫線並標(biāo)註 ? 均值用水平實(shí)線線：一般為黑色或藍(lán)色實(shí)線。 2?dR?? 管制圖mRX ?95 Case study 組