【正文】 824 過程控制解釋和過程能力解釋 同 p管制圖 83 不合格（缺陷）數(shù)的 c 圖 831 采用時機 C圖用來測量一個檢驗批內(nèi)的不合格（的缺陷）的數(shù)量， C圖 要求樣本的容量恒定或受檢驗材料的數(shù)量恒定，主要用于以下兩 類檢驗： 8311 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上（如：每條尼龍上的瑕疵，玻 璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點），以及可以用不合格的 平均比率表示的地方（如 100平方米上的缺陷） 8312 在單個的產(chǎn)品檢驗中可能發(fā)現(xiàn)不同原因造成的不合格。并在備 注欄中詳細記錄。 b 低于控制限之下的點，說明存在下列情況的一種或多種： 控制限或描點時描錯。 C、 按上式分別計算樣本容量為 n 和 n 時的點的控制限 . UCL,LCL = P 177。 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 8113 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 一般不良品率為縱坐標(biāo) ， 子組別 （ 小時 /天 ） 作為橫坐標(biāo) ,縱坐標(biāo)的刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的 到 2倍 。 式中： R 為移動極差的均值， d2是隨樣本容量變化的常數(shù)。 單值和移動極差圖（ X—MR） 用途 測量費用很大時，（例如破壞性實驗）或是當(dāng)任何時刻點的輸出 性質(zhì)比較一致時（例如：化學(xué)溶液的 PH值）。 6 32 畫一個窄的垂直框標(biāo)注超過極差控制限的子組。 13 過程控制的分析（同 XR） 14 過程能力的分析（同 XR） 估計過程標(biāo)準(zhǔn)差： σ = S / C4= σ S / C4 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 B4 B3 * * * * A3 ? ? 式中： S 是樣本標(biāo)準(zhǔn)差的均值（標(biāo)準(zhǔn)差受控時的）， C4為隨樣本容量變化的常數(shù)。 ≤Cpk≤,說明制程能力正常 。 421 對于單邊容差，計算： Z=(USLX) / σ? 或 Z=(XLSL) / σ? （選擇合適的確一個） 注：式中的 SL=規(guī)范界限， X=測量的過程均值， σ? =估計的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差 。 b 應(yīng)及時分析問題，例如：出現(xiàn)一個超出控制限的點就立即開 始分析過程原因。 a1 過程均值已改變 a2 測量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標(biāo)注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸到 鏈的開始點，分析時應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。 b 由于出現(xiàn)特殊原因而從 R 圖中去掉的子組，也應(yīng)從 X圖中去掉。 c2 過程或取樣方法被分層，每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多 個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（如：從幾組 軸中，每組抽一根來測取數(shù)據(jù)）。 a2 測量系統(tǒng)的改變 （ 如新的檢驗人或新的量具 )。 ? 各控制限畫成虛線。 注： 對于還沒有計算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 接上頁 113 子組數(shù)： 子組越多，變差越有機會出現(xiàn)。 b 確保檢測設(shè)備或量具本身的準(zhǔn)確性和精密性。只用特殊原因被查出且采取 措 施 ,否則它們將繼續(xù)不可預(yù)測的影響過程的輸出。有時被稱為可查明原因，它存在的信號是：存在超過控制限的點或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機性的圖形。如果數(shù)據(jù)的個數(shù)為偶數(shù)，一般將中間兩個數(shù)的平均值作為中位數(shù)。于是，英、美等國開始著手研究用統(tǒng)計方法代替事后檢驗的質(zhì)量控制方法。 ? 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措 施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。普通原因表現(xiàn)為一個穩(wěn) 系統(tǒng)的偶然原因。 計量型數(shù)據(jù)控制圖 與過程有關(guān)的控制圖 計量單位：（ mm, kg等） 過程 人員 方法 材料 環(huán)境 設(shè)備 1 2 3 4 5 6 結(jié)果舉例 控制圖舉例 螺絲的外徑（ mm） 從基準(zhǔn)面到孔的距離（ mm） 電阻（ Ω） 錫爐溫度（ 186。（ 注： 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產(chǎn)出來的零件，即一個單一的生產(chǎn)流。 注： 一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的 2倍。其系數(shù)值 見下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個負值。 9 注 2： 因為子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差， 10 因此，首先應(yīng)分析 R圖。 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的過程的極差 （存在高于和低于極差均值的兩種鏈） 不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈） 313 明顯的非隨機圖形 a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點的分布在整個控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。 32 識別并標(biāo)注所有特殊原因（極差圖） a 對于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個特殊原因進行標(biāo)注，作一個過程操作 分析，從而確定該原因并改進，防止再發(fā)生。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會作為過程的一部分重現(xiàn)。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個不 同的過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進行 過度 控制造成的，這里過程改變是對過程數(shù)據(jù)中隨機波 動的響應(yīng)）。 4 過程能力分析 如果已經(jīng)確定一個過程已處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，還存在過程是 否有能力滿足顧客需求的問題時； 一般講，控制狀態(tài)穩(wěn)定， 說明不存在特殊原因引起的變差，而能力反映普通原因引起 的變差，并且?guī)缀蹩傄獙ο到y(tǒng)采取措施來提高能力，過程能 力通過標(biāo)準(zhǔn)偏差來評價。 b 對于雙邊容差，根據(jù) Zusl 和 Zlsl 的值查標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表， 分別算出 Pzusl 和 Pzlsl 的百分比，再將其相加。 注： s 圖的刻度尺寸應(yīng)與相應(yīng)的 X圖的相同。 8 13 將每個子組的單值描在圖中一條垂直線上，圈上子組的中位數(shù)， 9 并連接起來。 14 54 找出超過極差控制限的點 15 操作者與每個子組的最大標(biāo)記點和最小標(biāo)記點進行比較，用窄垂直框圈上超出膠片控制限的子組。 24 移動極差圖 （ MR） 的刻度間隔與 X 圖一致 。 子組數(shù)量： 收集的時間足夠長 ， 使得可以找到所有可能影響 過程的變差源 。方法如下： A、 確定可能超出其平均值 177。 81311 超出控制限的點 a 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種 或幾種： 控制限計算錯誤或描點時描錯 。 b 一般情況，各點與均值的距離：大約 2/3的描點應(yīng)落在控制 限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 8222 記錄表上記錄樣本的容量。 833 計算控制限 8331 計算過程不合格數(shù)均值（ C）： C = (C1+C2+…+Ck) / K 式中： C1, C2, … Ck為每個子組內(nèi)的缺陷數(shù) 8331 計算控制限 U/LSLc= C177。 8212 各階段子組的樣本容量相同。 測量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗人或新的量具 過程性能已惡化 b 低于均值的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： 過程性能已改進 測量系統(tǒng)的改好 注：當(dāng) np 很小時 （ 5以下 ） ， 出現(xiàn)低于 P 的鏈的可能性增加 ， 因此有必要用長度為 8點或更多的點的長鏈作為不合格 品率降低的標(biāo)志 。 (初始研究時 ， 這些被認為是試驗控制限 。 812 計算控制限 8121 計算過程平均不合格品率 （ P） P=（ n1p1+n2p2+…+ nkpk） / (n1+n2+…+ nk) 式中： n1p1； nkpk 分別為每個子組內(nèi)的不合格的數(shù)目 n1； nk為每個子組的檢驗總數(shù) 8122 計算上下控制限（ USL； LSL） USLp = P + 3 P ( 1– P ) / n LSLp = P – 3 P ( 1– P ) / n P 為平均不良率； n 為 恒定的 樣本容量 注： 從上述公式看出 ， 凡是各組容量不一樣 ， 控制限隨之 變化 。 811 收集數(shù)據(jù) 8111 選擇子組的容量、頻率和數(shù)量 子組容量 ：子組容量足夠大（最好能恒定），并包括幾個不 合格品。 23 單值圖 （ X） 圖的刻度按下列最大者選?。? a 產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù) 。 10 52 制作極差的控制圖片 11 在一張透明的膠片標(biāo)上極差的控制限。 4 12 只要描一張圖，刻度設(shè)置為下列的較大者： 5 a 產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù) 6 b 測量值的最大值與最小值之差的 2倍。