【正文】 夜班 =Σd/Σp=% : A臺 = Σd/Σp=%。 3 kg/cm2。 (2)用折線連接 . 137120100806040200不良項目 無光澤 異物 氣泡 擦傷 脹大 臟污 其他不良數(shù)SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 37 OF 83 (1) 右端縱軸加繪折線終點為 100% (2) 0~100%間之定規(guī) 10等分的刻度 例:137120100100 8080 6060 404020200 0不良項目 無光澤 異物 氣泡 擦傷 脹大 臟污 其他累計比率%不良數(shù) (1)目的 (2)期間 ,數(shù)據(jù)合計 ,工程名 (3)作成者 SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 38 OF 83 例 :工程名 :外觀檢查 射出部品外觀不良柏拉圖 137120100100 8080 6060 404020200 0不良項目 無光澤 異物 氣泡 擦傷 脹大 臟污 其他累計比率%不良數(shù)期間 :3/63/10。SPC 統(tǒng)計製程管制 講 師 : 郭 俊 欽 廠 長 ISO9000精神 : 。 k: 組數(shù) ) CL = Pn = Σd / k = 65 / 25 = P= Σd /( k*100)= (因 n值為一定數(shù) ,故取組數(shù)為分母 ,此為與 P管制圖最大不同點 ) UCL = Pn + 3 √Pn (1 P) = + = LCL = Pn 3 √Pn (1 P) = = (管制下限不予考慮 ) SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 23 OF 83 Pn 管 制 圖 之 例0123456781 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25組 號dLCL CL UCL SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 24 OF 83 2. 點繪管制圖 缺點數(shù)管制圖 (C管制圖 ) 一 ,有些產(chǎn)品雖然有缺點 ,但不致因為有少數(shù)之 缺點 ,使該產(chǎn)品成 為廢品 ,只是缺點之多少影響其品質(zhì)之高低而已 ,因而用缺點 之?dāng)?shù)目 ,表示其品質(zhì) ,在這種場合 ,常用缺點數(shù)管制圖 . 二 ,用途 : C管制圖應(yīng)用在同大小的樣本組內(nèi)所含缺點數(shù)的管制 ,自同一 大小單位 (可以為單件製品 或一組製品 ,例如 :一臺電視機(jī)或幾 臺電視機(jī) ) 的缺點數(shù)為 C群體 (即送驗批 ),隨機(jī)抽取同一大小單 位的樣本所出現(xiàn)的缺點數(shù) (C)的分配為卜氏分配 ,分配的帄均 值 (UC)等于 C, 分配的標(biāo)準(zhǔn)差 (δc) 等于 C 群體單位缺點 C 未知時 因此 C管制圖的中心線與管制界限公式為 : CLC = ΣC / K = C UCLC = C+3√ C LCLC = C3√ C 使用 C管制圖的工作例子為 : (1)玻璃所含的氣泡數(shù) (2)一匹布內(nèi)的跳紗數(shù) ,斑點數(shù) … 等等 (3)一張紙上的污點數(shù) ,破損數(shù) … 等等 . SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 25 OF 83 (4)一定長度漆包線的針孔 (pin hole)數(shù) . 三 ,管制圖製作實例 : 例 :某 PCB廠用 C管制圖管制其產(chǎn)品品質(zhì) ,下列表中每批 PCB之 缺點之記錄 ,計有 20組樣本繪製 C管制圖 . 組號 樣本 缺點數(shù) 組號 樣本 缺點數(shù)1 1批 5 11 1批 22 1批 4 12 1批 73 1批 3 13 1批 14 1批 5 14 1批 85 1批 6 15 1批 26 1批 4 16 1批 27 1批 7 17 1批 38 1批 3 18 1批 79 1批 2 19 1批 410 1批 3 20 1批 4SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 26OF 83 ΣC=84 CLC = C = ΣC/K = 84/20 = 2. 代入公式求得 UCLC 及 LCLC UCLC = C+3 √ C = +3 √ = += UCLC = C 3 √ C = 3 √ = = 0 解 :(1)先計算樣本缺點數(shù)的帄均值 ( C ) SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 27 OF 83 帄均值與全距管制圖 (XR CHART) 一 ,在計量管制圖中 XR CHART 系最實用之一種品質(zhì)控制工具 , 仍系 X CHART 與 R CHART之合並使用 .帄均值管制圖系管 制帄均值的變化 ,即分配之集中趨勢變化 .全距管制圖則管制變 異之程度 ,即分配之散布狀況 ,離中趨勢 .均可協(xié)助我們判斷製 造工程之實際狀況 ,藉以明瞭品質(zhì)變化之趨勢 . 二 ,用途 : XR用在管制分組之計量數(shù)據(jù) ,每組同時取數(shù)個數(shù)據(jù) ,如 :長度 ,重量 ,內(nèi) ,外徑 ,濃度 ,抗張力 ,深度等 . 三 ,取樣法 : 此管制圖系由樣本之?dāng)?shù)據(jù) ,推測製造工程是否在穩(wěn)定之管制 狀態(tài)中選取樣本 ,頇有代表性 ,原則上以在各工作線上按不同 機(jī)器 ,操作人員 ,原料分別取樣 ,樣本數(shù)據(jù)為 45件 . N=4或 5 K= 25組以上 X1,XC2,X3,X4,X5 X 樣組間變異 X 製程 組內(nèi)變異 ζ SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 28 OF 83 四 ,建立步驟 : (1)搜集 25個以上的數(shù)據(jù) (依測定時間順序或群體數(shù)據(jù)依序排列 ) (2)把 26個 (一般採 45個 )數(shù)據(jù)分為一組 . (3)把數(shù)據(jù)記入數(shù)據(jù)表 . (4)計算各組帄均值 X. (5)計算各組的全距 R. (6)計算總帄均 X = ΣX / K (K =組數(shù) ) (7)計算全距帄均 R = ΣR / K(K= 組數(shù) ) (8)計算管制界限 (此為 u與 δ 未知狀況 ) X 管制圖 :中心線 CLX = X 上限 UCLX = X +A2R 下限 LCLX = X A2R R管制圖 :中心線 CLR = R 上限 UCLR = D4R 下限 LCLR = D3R SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 29 OF 83 樣組 A2, D3 D42 3 4 5 6 7 A2,D3,D4　可查表： 到X年X月X日樣 樣組 X X X X X 組 X X X X X1 50 50 49 52 51 3 14 53 48 47 52 51 62 47 53 53 45 50 8 15 53 48 49 51 52 53 46 45 49 48 49 4 16 46 50 53 51 53 74 50 48 49 49 52 8 17 50 52 49 49 49 35 46 48 50 54 50 8 18 50 49 50 49 51 26 50 49 52 51 54 5 19 52 49 52 53 50 47 47 49 50 48 52 5 20 50 47 50 53 52 68 48 50 46 49 51 5 21 52 49 51 53 50 49 50 50 49 51 53 4 22 55 54 51 51 50 510 49 51 51 46 48 5 23 50 51 52 50 49 511 51 50 49 46 50 5 24 47 50 51 52 52 512 50 50 49 52 51 3 25 53 51 59 50 51 313 49 49 49 50 55 6 1254 120R測定值X R 例:某PCB工廠應(yīng)用XR管制圖來控製其無塵室的濕度,濕度單位為RH,利用下列數(shù)據(jù)表之資料,求得其管制界限並繪圖.名稱:無塵室濕度測定單位:RH測定地點:外層課測定者:A 日測定日期:自X年X月X日測定值XSPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 30 OF 83 解 : X及 R算出記入數(shù)據(jù)表內(nèi) . X與 R X=ΣX / K = 1254/25 = R = Σ R / K = 120/25 = A2, D4, D3. A2 = , D4 = , D3 = 負(fù)值 (以 0代表 ) X管制圖 CLX = X = UCLX = X+ A2 R = +*= LCLX = X A2 R = * = R管制圖 CLR = R = UCLR = D4 R = * = LCLR = D3R = 0* = 0 解 將每樣組之 及 算出記入數(shù)據(jù)表內(nèi)求 與Σ查系數(shù)負(fù)值 以 代表求管制界線管制圖管制圖SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 31OF 83 . . x ＵＣＬ ()管 cl ()制圖 ＬＣＬ ()R管 ＵＣＬ ()制 ＣＬ ()圖 ＬＣＬ (0)SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 32 OF 83 觀察上圖得知所有點子均在管制界限內(nèi)隨機(jī)跳動故判斷製程 為安定 . 五 ,使用注意事項 : ,表示製程能力不足 ,對原 數(shù)據(jù)應(yīng)按原料別 ,機(jī)械別 ,時間別 ,人員別加以層別 ,分別檢討其 分配情況找出變異 . ,則應(yīng)檢討規(guī)格界 限是否可以放寬 ,以獲較經(jīng)濟(jì)之生產(chǎn) . CHART 上有點超限 ,則顯示製程帄均發(fā)生變化或變異增大 R CHCART 上有點超限 ,則顯示製程變異增大 . ,重新計算管 制界限以符合製程現(xiàn)況 . R CHART ,再看集中趨勢 X CHATRT. SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 33 OF 83 管制上限 管制下限X X+A2R XA2RR D 4 R D3R中位值與全距 X X X+M3A2R XM3A2R缺 點不良率 P P P+3 √ P(1P)/n P3 √ P(1P)/n不良個數(shù) Pn Pn Pn+3 √ Pn(1P) Pn3 √ Pn(1P)缺點數(shù) C C C+3 √ C C3 √ C缺 點計量值a. 單靠此種管制圖 , 有時無法尋求不良之真正原因 , 而不能及時採取處理措施 ,延誤時機(jī) .管 制 圖 中 心 線 CL管 制 界 限a. 只在生產(chǎn)完成后 , 才抽取樣本 , 將區(qū)分為良品與不良品 , 所需數(shù)據(jù)能以簡單方法獲得 .平均值與全距 Xb. 對于工廠 ( 或生產(chǎn)線 ) 整個品質(zhì)情況了解非常方便 .優(yōu) 點a. 在製造過程中 , 需要經(jīng)常抽樣並予以測定以及計算 , 但需點管制圖 , 較為麻煩 ,費時 .計數(shù)值優(yōu) 點b. 能及時並正確地找出不良原因 , 可使品質(zhì)穩(wěn)定 , 為較佳之管制工具 .管制圖之管制界限公式 ,較靈敏 ,很容易調(diào)查事故發(fā)生原因 ,因此可以預(yù)測將發(fā)生之不良狀況 . ~ ~ SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 34 OF 83 柏拉圖 (PLATO) : 柏拉圖為意大利經(jīng)濟(jì)學(xué)家所發(fā)明 ,系根據(jù)收集之?dāng)?shù)據(jù) ,項目 ,而按其大小順序 ,自左而右排列的圖 .從柏拉圖中可看出那一項目有問題 ,其影響程度如何 ,以判斷問題的徵結(jié)點 ,並可針對問題點采取改善措施 . : ,收集數(shù)據(jù) . (1).決定收集期間 ,方