x射線光電子譜(xps)-免費(fèi)閱讀
【正文】 ?XPS分析中 ， 定量分析的方法與 AES的定量方法基本相似 ， 如標(biāo)樣法 ， 校正曲線法等 ， 大同小異 。 XPS ?? XPS分析方法 ?定性分析 譜線的類型 ?X射線 “ 鬼峰 ” ： 有時(shí) ， 由于 X射源的陽(yáng)極可能不純或被污染 ， 則產(chǎn)生的 X射線不純 。 ?光電子譜線 ： 在 XPS中 ， 很多強(qiáng)的光電子譜線一般是對(duì)稱的 ， 并且很窄 。 根據(jù)前面所講的計(jì)算方法可以知道對(duì)于處于環(huán)境為 1和 2的某種原子有： 2,1co r r2,1re lat2,1re lax2,1SCF2,1VB)()()()()(EEEKEKE?????????? XPS ?? XPS中的化學(xué)位移 ?化學(xué)位移 在大多數(shù)的情況下 ， 相對(duì)論效應(yīng)和相關(guān)的修正對(duì)結(jié)合能的影響是較小的 ， 可以忽略 。當(dāng)外層電子密度減少時(shí)，屏蔽作用將減弱，內(nèi)層電子的結(jié)合能增加；反之則結(jié)合能將減少。即在實(shí)驗(yàn)條件下，根據(jù)試樣表面吸附或沉積元素譜線的結(jié)合能，測(cè)出表面荷電電勢(shì)，然后確定其它元素的結(jié)合能。 ?荷電效應(yīng)將使樣品出現(xiàn)一穩(wěn)定的表面電勢(shì) VS，它 對(duì)光電子逃離有束縛 作用 。 ?對(duì)于孤立原子 ， 軌道結(jié)合能 的定義為把一個(gè)電子從軌道移到核勢(shì)場(chǎng)以外所需的能量 ， 即以 “ 自由電子能級(jí) ” 為基準(zhǔn)的 。 ? 半峰高寬是評(píng)定某種 X射線單色性好壞的一個(gè)重要指標(biāo) 。spkb EhvE ???? 39。 ?隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展 ， XPS也在不斷地完善 。 ? X射線光電子能譜是瑞典 Uppsala大學(xué) 事經(jīng)過近 20年的潛心研究而建立的一種分析方法 。 bE0k時(shí)固體能帶中充 滿電子的最高能級(jí) 對(duì)孤立原子或分子， 就是把電子從所在軌道移到真空需的能量，是以真空能級(jí)為能量零點(diǎn)的。 XPS ?? X射線光電子譜儀 ?X射線光電子譜儀 ? 將 X射線用石英晶體的 (1010)面沿 Bragg反射方向衍射后便可使 X射線單色化。 ?絕熱近似認(rèn)為 ， 電子從內(nèi)殼層出射 ， 結(jié)果使原來(lái)體系的平衡勢(shì)場(chǎng)破壞 ， 離子處于激發(fā)態(tài) 。 一臺(tái)工作正常的 X射線光電子譜儀應(yīng)是經(jīng)過能量校準(zhǔn)的 。 ?實(shí)際工作中必須采取有效的措施解決荷電效應(yīng)所導(dǎo)致的能量偏差。 XPS ?? XPS中的化學(xué)位移 ?化學(xué)位移 ?由于原子所處的 化學(xué)環(huán)境 不同而引起的內(nèi)層電子結(jié)合能的變化 ， 在譜圖上表現(xiàn)為譜峰的位移 ， 這一現(xiàn)象稱為 化學(xué)位移 。已有大量實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，收集在 PerkinElmer公司的 x射線光電子譜手冊(cè)中，可供查用。 ?XPS的化學(xué)位移同宏觀熱力學(xué)參數(shù)之間有一定的聯(lián)系 。 XPS ?? XPS分析方法 ?定性分析 譜線的類型 ?Auger譜線：在 XPS中 ， 可以觀察到 KLL, LMM, MNN和 NOO四個(gè)系列的 Auger線 。 XPS ?? XPS分析方法 ?定性分析 譜線的類型 ?能量損失峰 ：對(duì)于某些材料 ， 光電子在離開樣品表面的過程中 ， 可能與表面的其它電子相互作用而損失一定的能量 ， 而在 XPS低動(dòng)能側(cè)出現(xiàn)一些伴峰 ， 即能量損失峰 。 XPS ?? XPS分析總結(jié) ?基本原理： 光電效應(yīng) ?
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