kvyaaa地質(zhì)羅盤(pán)使用方法-免費(fèi)閱讀
【正文】 或直接記作S60W∠50則可。如上述地層產(chǎn)狀其走向應(yīng)為γ=360176。、傾向?yàn)?40176。圖54 巖層產(chǎn)狀要素極其測(cè)量方法巖層走向的測(cè)量 巖層走向是巖層層面與水平面相交線(xiàn)的方位，測(cè)量時(shí)將羅盤(pán)長(zhǎng)邊的底棱緊靠巖層層面，當(dāng)圓形水準(zhǔn)器氣泡居中時(shí)讀指北或指南針?biāo)付葦?shù)即所求（因走向線(xiàn)是一直線(xiàn)，其方向可兩邊延伸，故讀南、北針均可）。使目的物、對(duì)物覘板小 孔、蓋玻璃上的細(xì)絲三者連成一直線(xiàn)，同時(shí)使圓形水準(zhǔn)器的氣泡居中，待磁針靜止時(shí)，指北針?biāo)傅亩葦?shù)即為所測(cè)目標(biāo)的方位角。 ；圖53 B表示δ西偏20176。當(dāng)?shù)厍蛏夏滁c(diǎn)磁北方向偏于正北方向的東邊時(shí)，稱(chēng)東偏（記為+）；偏于西邊時(shí)，稱(chēng)西偏（記為—）。② 地質(zhì)羅盤(pán)儀的使用方法—270176。而后者記作N50176。當(dāng)?shù)妆P(pán)向東移，相當(dāng)于磁針向西偏，故刻度盤(pán)逆時(shí)針?lè)较驑?biāo)記（東西方向與實(shí)地相反）所測(cè)得讀 數(shù)即所求。處分別標(biāo)注E和W（表示東和西）如圖所示。一記，直至90176。一般的地質(zhì)測(cè)量，如測(cè)量目的物的方位、巖層空間位置、山的坡度等，均用地質(zhì)羅盤(pán)儀。在地質(zhì)圖或平面圖上標(biāo)注產(chǎn)狀要素時(shí)，需用符號(hào)和傾 角表示。－330176。、傾角為50176。 巖層傾向的測(cè)量 巖層傾向是指巖層向下最大傾斜方向線(xiàn)（真傾向線(xiàn)）在水平面上投影的方位。圖53A 磁偏角東偏示意圖 圖53B 磁偏角西偏示意圖 圖53C羅盤(pán)儀測(cè)量目的物的方位⑵ 巖層產(chǎn)狀要素的測(cè)定測(cè)線(xiàn)所測(cè)角為SE110176。如果某點(diǎn)磁偏角 （δ）為已知，則一測(cè)線(xiàn)的磁方位角（A磁）和正北方位角（A）的關(guān)系為A=A磁177。 —360176。－AE以示區(qū)別（圖52 A、B，表5－1）。在具體工作中，為區(qū)別所讀 數(shù)值是方位角或象限角，可按下述方法區(qū)分：如圖A與B的測(cè)線(xiàn)位置相同，在方位角刻度盤(pán)上讀作285176。象限角刻度盤(pán)與它不同之處是S、N兩端均記作0176。外圈為水平刻度盤(pán)， 其刻度方式有兩種，即方位角和象限角，隨不同羅盤(pán)而異，方位角刻度盤(pán)是從0176。一般都由磁針、磁針制動(dòng)器、刻度盤(pán)、測(cè)斜器、水準(zhǔn)器和瞄準(zhǔn)器等幾部分組成，并安裝在一非磁性物質(zhì)的底盤(pán)上（如圖51）。這是地質(zhì)工作者必須掌握的工具。地質(zhì)羅盤(pán)的使用方法測(cè)量巖層產(chǎn)狀要素⑴測(cè)量的工具—地質(zhì)羅盤(pán)儀地質(zhì)羅盤(pán)儀式樣較多，但其原理和構(gòu)造大體相同。圖51地質(zhì)羅盤(pán)儀構(gòu)造圖1—反光鏡；2—瞄準(zhǔn)覘板3—磁針；4—水平刻度盤(pán)；5—垂直刻度盤(pán)；6—測(cè)斜指示針（或懸錘）； 7—長(zhǎng)方形水準(zhǔn)器；8—圓形水準(zhǔn)器；9—磁針制動(dòng)器；10—頂針；11—杠桿；12—玻璃蓋；13—羅盤(pán)底盤(pán)磁針 為一兩端尖的磁性鋼針，其中心放置在底盤(pán)中央軸的頂針上，以便靈活地?cái)[動(dòng)。開(kāi)始，逆時(shí)針?lè)较蛎扛?0176。E和W處均記作 90176。、記作NW285176。測(cè)斜指針（或懸錘） 是測(cè)斜器的重要組成部分，它放在底盤(pán)上，測(cè)量時(shí)指針（或懸錘尖端）所指垂直刻度盤(pán)的度數(shù)即為傾角或坡
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