【正文】 上述形成的初稿、討論稿和征求意見稿，均通過電子郵件、電話、專家會議等方式來完成。持續(xù)研究既是對實驗室質量系統(tǒng)要求的符合性檢查，又是對檢測人員依據標準方法測得的實驗數據考證，其著重突出過程質量控制這一技術環(huán)節(jié)，有利于薄弱環(huán)節(jié)的改善，能真正做到：轉變“事后檢驗”“把關為重”為“以預防和改進為主”；從管“結果”轉變?yōu)楣堋耙蛩亍?，使各種因素處于受控狀態(tài)；變“分工”為“協(xié)調”，調動大家積極性，增強全員責任感，提高檢驗質量，降低消耗。本標準的監(jiān)控就是通過這樣多批次的測試，使自由度變大，準確地評估出被測量的MU，節(jié)余了以往重復實驗所投入的控制費用和資源。當然，也可以與客戶協(xié)調，經雙方共同研究來確定分析圖的a值。若在控制圖中發(fā)現違反上述規(guī)律的情況出現，可以判定，可能是操作或質量有了變化；也可能是技術條件發(fā)生了變化。在任何一次測試中，系統(tǒng)誤差和隨機誤差同時存在。實質上，該控制圖監(jiān)控技術是把Xn的誤差轉移到y(tǒng)n的誤差里，將兩個量的不確定度加以合并轉到因變量上（相關因素的合成影響已考慮在線性擬合的MU研究），即是把MU納入到求出真值的Yn的置信限經典情況中去。殘差齊性檢查可鑒別兩個假設：校準函數的線性假設（殘差與擬合值之間未存在系統(tǒng)差異，且呈隨機分布）；齊性的假設（殘差展寬的分布未發(fā)現加寬趨勢）。但是在非合同的情況下，單單從公布的資料來源，來考慮設備的計量性能是不夠的。制造商對其出廠的儀器只能對穩(wěn)定性做有限的指標測試和符合性指標檢查，所以做為日常儀器性能指標的監(jiān)控和驗收，是一項不可忽視的技術環(huán)節(jié)。ASTM E2554標準的出臺，實際屬于topdown的一種合成方法，其MU評定未必要刻意A類和B類的劃分，也是對GUM這種bottomup溯源方法的補充和完善。過程監(jiān)控階段：使用控制圖來監(jiān)控過程，以確認是否連續(xù)處于統(tǒng)計受控狀態(tài)，是否發(fā)現最新進入系統(tǒng)中的特殊原因，或以前的特殊原因是否再現。隨著SPC程序的進行，控制圖的作用隨之改變。子樣統(tǒng)計量超出控制限即表示出現特殊原因。按規(guī)定頻率，定期自過程的輸出特性中抽取一個或多個觀測值，樣本統(tǒng)計后進行匯總，基于時間作圖，特定時間點的觀測樣本構成子樣?？刂茍D適用于變量數據（連續(xù)型測量特性）和屬性數據（百分數、分數或計數測量特性）。ASTM E11認識到，標準的制訂必須確保其原則和應用之間的一致性，最初對檢測方法應用新增加MU原則的理解時，就發(fā)現缺少清晰、簡捷、廣泛應用的現行方法值得遵循。經過ASTM E11的討論，達成一致意見，這就是GUM所描述的不確定度僅適用于產生測試結果的特定實驗室，而不是檢測方法性能的總測量。工作組的八個成員分別來自：相關的ASTM技術委員會（包括E11）、NIST和A2LA（美國實驗室認可協(xié)會）。1994年，ASTM （長遠規(guī)劃）組建了MU研究工作組，著手于ASTM標準使用的制訂工作。2005年，ISO/IEC 17025標準經過修訂，對測試結果的MU評定有明確要求：“檢測實驗室應具有并應用評定MU的程序。該建議書推薦的方法以INC1（1980）為基礎，并要求在所有CIPM及其各咨詢委員會參與的國際比對及其他工作中，各參加者在給出測量結果時必須同時給出合成不確定度。上世紀70年代，NBS在研究和推廣測量保證計劃（MAP）時，對MU定量表示又有了新的發(fā)展。對于MU的研究，國內甚至國外發(fā)達國家都在投入大量的人力、物力和財力進行工作。本項任務由全國認證認可標準化技術委員會提出并歸口，遼寧出入境檢驗檢疫局負責，定于2008年完成。目前，MU在各國的應用存在較大差距。三、國內外MU研究簡介上世紀60年代，為能統(tǒng)一地評價測量結果的質量，原美國標準局NBS（現為美國國家標準技術研究院NIST）的數理統(tǒng)計專家埃森哈特（Eisenhart）在研究“儀器校準系統(tǒng)的精密度和準確度估計”時就提出了采用MU的概念，并受到國際上的普遍關注。1980年，為求得MU評定和表示方法的國際統(tǒng)一，國際計量局（BIPM）在征求了32個國家的國家計量院以及五個國際組織的意見后，發(fā)出了推薦采用MU來評定測量結果的建議書，即INC1（1980）。1999年，ISO/IEC 17025對檢測實驗室的能力提出了技術要求（我國等同采用并制定了GB/T 154812000《檢測和校準實驗室能力的通用要求》），對MU的評定做了相應的要求。2007年，美國國家標準ASTM E2554《利用控制樣品程序估計和監(jiān)控實驗室內測試方法結果的不確定度》出臺，提出了采用控制圖方法來進行MU評定的技術。1999年，ISO/IEC 17025被作為實驗室認可的準則，且廣泛得到應用。所以應該認識到兩者的區(qū)別。所以較之檢測方法，中間精密度更能反映出單個實驗室的特性。五、統(tǒng)計過程控制中ASTM E2554的理解統(tǒng)計過程控制（SPC）中控制圖應用目的在于減少變異，控制過程達到某特定目標水平或歷史平均值，進而提高質量。過程如果出現可指出原因或特殊原因的情況時，表明輸出水平起了變化，例如漂移、趨勢現象。子樣大小應固定，便于控制圖的處理。通常，子樣不大于5次，若認為測量簡便且成本較低時，可取大樣本。過程改進階段：即時收集過程數據，將上階段計算的控制限標繪在控制圖中，用于特殊原因的識別和處理。GUM對精密度概念的定義為測量或估值的總體變異，作為技術術語，精密度可以定義為過程重復中的真實或潛在變異，可通過假定無窮總體的測量數據標準差估值來確定。當不易獲取參照物料進行量值溯源時，尤其注意系統(tǒng)程序的精心設計，典型的做法是進行分層研究，找出諸多影響因素之間的關系，是否存在樣品基質的偏倚效應、異方差水平偏倚效應、以及系列數據的自相關趨勢排列。所以說，方法的線性即指抽取直接或經一定數學換算能與樣品中被測物的濃度，在一定范圍內成正比的諸測試結果的能力。測量系統(tǒng)線性校準函數的相關性問題解決是一個復雜的計算過程，在進行這方面受控分析的MU評估時，分量的統(tǒng)計上盡可能做獨立、非相關性的考慮，以避免相關性的計算。本標準認為，鑒于線性擬合校準過程中