【正文】 線圈法的有效磁化區(qū)是從線圈端部向外延伸150mm內(nèi)。周向磁化工件還應(yīng)轉(zhuǎn)動(dòng)180186。為保證磁化效果應(yīng)至少反復(fù)磁化2次， 停施磁懸液1秒后才停止磁化。、鐵銹、氧化皮或其它黏附磁粉的物質(zhì)。c）供需雙方有爭(zhēng)議,認(rèn)為其它需要時(shí)。，按一條缺陷處理，其長(zhǎng)度為兩條缺陷之和加間距。磁場(chǎng)指示器（八角試塊）可用于測(cè)試被檢工作表面磁場(chǎng)方法檢測(cè)區(qū)以及磁化方法是否正確的一種粗略的校驗(yàn)工具，不可作為磁場(chǎng)其分布的定量指示。、有機(jī)溶劑、除銹劑、去漆劑、蒸汽除油、噴砂或超聲波清洗等方 法達(dá)到清洗的目的。為使試片與被檢面接觸良好，可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上，并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。測(cè)定前應(yīng)對(duì)磁懸液進(jìn)行充分的攪拌。、輔助器材一般應(yīng)包括下列器材： a) A1型、C型、D型和M1型試片和磁場(chǎng)指示器；b) 磁懸液濃度沉淀管；c) 2~10倍放大鏡；d) 白光照度計(jì)；e）磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)。f) 檢測(cè)結(jié)果、缺陷等級(jí)評(píng)定及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)名稱。，可以不受上述條件的限制。，應(yīng)材質(zhì)衰減系數(shù)超過4 dB/m，應(yīng)進(jìn)行修正。當(dāng)被檢部位珠厚度大于或等于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí),原則可選用底波計(jì)算法確定檢測(cè)靈敏度,對(duì)于由于幾何形狀所限,不能獲得底波或壁厚小于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí),可直接采用試塊法確定檢測(cè)靈敏度。檢測(cè)時(shí),應(yīng)盡量掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域,探頭的每次覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。Ⅱ試塊。i) 驗(yàn)收標(biāo)記 檢測(cè)合格后,應(yīng)在鋼板適合位置標(biāo)上醒目的標(biāo)記，其有效性應(yīng)使下道工序或最后的檢驗(yàn)人員能夠辯明。在檢測(cè)過程中對(duì)缺陷有疑問或需要時(shí)，可采用橫波檢測(cè)。d），移動(dòng)探頭點(diǎn)，使底面第一次反射升高到熒光屏滿刻度的50%，此時(shí)，探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。,發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一都即作為缺陷：a）缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50%，即F1≥50%。檢測(cè)方法按JB/。2)、在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（當(dāng)板厚超過100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作100%掃查。試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。探頭的選用應(yīng)符合表 19表19 承壓設(shè)備用板材超聲檢測(cè)探頭選用板厚，mm采用探頭公稱頻率，MHz探頭晶片尺寸620雙晶直探頭5晶片面積不小于150mm2＞2040單晶直探頭5φ14mmφ20mm＞40250單晶直探頭φ20mmφ25mm 試塊應(yīng)用與被檢工件相同或近似聲學(xué)性能的材料制成，當(dāng)鋼板表面的氧化層呈致密光滑不影響檢測(cè)效果時(shí)，可不打磨。 曲面工件對(duì)接焊縫。b）采用直射法檢測(cè)時(shí)。) 采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSKⅠA、ⅡA、ⅢA。、探頭表16 推薦采用的斜探頭K值板厚T，mmK值6～25～(72176。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10176。d） 母材厚度大于120mm－400mm時(shí)，一般用兩種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。第一節(jié) 承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí),以單斜探頭接觸法為主進(jìn)行探傷。 距離——波幅曲線的復(fù)核復(fù)核時(shí)，校核應(yīng)不少于3點(diǎn)。、檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核⑴每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。對(duì)于檢測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近（～）的參考試塊，對(duì)比進(jìn)行曲率補(bǔ)償。 所確定檢測(cè)面應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。檢測(cè)表面應(yīng)平整光滑、便于探頭自由掃查。，如有不允許的缺陷，應(yīng)在缺陷清除干凈后，進(jìn)行補(bǔ)焊，并對(duì)該部位采用原檢測(cè)方法重新檢測(cè)，直至合格，進(jìn)行局部探傷的焊接接頭，發(fā)現(xiàn)有不允許的缺陷時(shí)，應(yīng)在該缺陷兩端的延伸部位增加檢查長(zhǎng)度，增加的長(zhǎng)度為該接接頭的10%，且不小于250mm。 資料員負(fù)責(zé)整理每臺(tái)產(chǎn)品全部檢測(cè)資料，裝訂成冊(cè)后移交公司檔案室保存7年，不得外借?！?00mm時(shí)，不加墊板單面焊未焊透缺陷按表10規(guī)定表10級(jí)別未焊透最大深度，mm未焊透總長(zhǎng)度與焊縫總長(zhǎng)度的比與壁厚的比最大值Ⅰ不允許Ⅱ≤10%≤≤10%Ⅲ≤15%≤≤15%Ⅳ大于Ⅲ級(jí)者注:對(duì)斷續(xù)未焊透,以未焊透本身的長(zhǎng)度累計(jì)計(jì)算總長(zhǎng)度。 2）條形缺陷評(píng)定區(qū)是指與焊縫方向平行的、具有一定寬度的矩形區(qū)，T≤25mm，寬 度為4mm；25mm＜T≤100m，寬度為6mm；T＞100mm，寬度為8mm。表5 圓形缺陷的質(zhì)量分級(jí)評(píng)定mmmm10101020母材厚度T（mm）≤10＞10~15＞15~25＞25~50＞25~100等級(jí)Ⅰ12345Ⅱ3691215Ⅲ612182430Ⅳ缺陷點(diǎn)數(shù)大于Ⅲ級(jí)或缺陷長(zhǎng)徑大于1/2T注：當(dāng)母材公稱厚度不同時(shí)，取較薄板的厚度。，評(píng)片人應(yīng)依照底片對(duì)照該片容器相應(yīng)部位仔細(xì)觀察，必要時(shí)到透照現(xiàn)場(chǎng)觀察，否則應(yīng)重新拍片。c. 焊縫余高為零時(shí)，還須有檢測(cè)位置指示標(biāo)記。，應(yīng)做好記錄，簽名，最后將底片等資料整理好，一起交初評(píng)人員。（至多二次）距離不能過近，以免增加灰霧。、對(duì)下列情況應(yīng)拒絕探傷1)、無申請(qǐng)書或申請(qǐng)書未經(jīng)焊接檢驗(yàn)員簽字認(rèn)可者；2)、返修無返修申請(qǐng)書，對(duì)于3次及以上返修無技術(shù)總工程師簽字的批準(zhǔn)手續(xù)者；3)、雖有焊接檢驗(yàn)員簽字手續(xù)，但在探傷進(jìn)程中發(fā)現(xiàn)有超標(biāo)外觀缺陷影響正確評(píng)定底片者；4)、酸洗后或維修后容器內(nèi)有介質(zhì)未清洗排放干凈者。2）單壁單影未考慮壁厚。當(dāng)T/D0＞，相隔120176。一次透照長(zhǎng)度L3=176。a. 局部檢測(cè)的縱縫必須拍到左右兩端，并以左端為第1號(hào)片。 局部檢測(cè)的焊縫，檢測(cè)部位由焊接檢查員指定，若無指定則由檢測(cè)人員根據(jù)實(shí)際情況選定。 貼片、屏蔽、對(duì)位,盡量保證整個(gè)暗盒與被檢焊縫緊貼(但不得使用膠片因受壓受折而損傷)。 產(chǎn)品編號(hào) 像質(zhì)計(jì) 檢測(cè)編號(hào) 中心標(biāo)記 焊縫 圖a在焊縫旁放置出廠編號(hào)、試件編號(hào)（透照試件時(shí)）、檢測(cè)編號(hào)、中心標(biāo)記、搭接標(biāo)記、每條焊縫第1號(hào)片或所有片上還須放置透照日期。例如焊縫號(hào)為A8，則檢測(cè)用A8表示。、制作曝光曲線所采用的膠片、增感屏、焦距、射線能量等條件以及底片應(yīng)達(dá)到的靈敏度、黑度等參數(shù)均應(yīng)符合NB/。b2/3。 對(duì)截面厚度變化大的承壓設(shè)備，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過規(guī)定的χ射線管電壓，但對(duì)鋼管電壓增量不應(yīng)超過50KV。 像質(zhì)計(jì)的數(shù)量a. 平直縱縫透照每張片至少一個(gè)。，JB/T7902中未包含的絲號(hào)、線徑等內(nèi)容，應(yīng)符合HB7684的有關(guān)規(guī)定。 檢測(cè)設(shè)備及儀器 一般情況下盡量選用χ射線探傷機(jī)透照，且至少應(yīng)有10%的管電壓余量,當(dāng)χ射線探傷機(jī)穿透力難以達(dá)到要求或擺放有困難時(shí)，可選用γ射線探傷機(jī)透照。、安裝的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。,。無損檢測(cè)通用工藝規(guī)程編制： 審核： 批準(zhǔn)： 日期： 目 錄第1章 編制說明 …………………………………………………………...3第2章 射線檢測(cè)通用工藝規(guī)程 ………………………………………..….5第3章　超聲波檢測(cè)通用工藝規(guī)程 ………………………………………….21 第1節(jié) 承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)及質(zhì)量分級(jí)…………………….24 第2節(jié) 承壓設(shè)備鋼板超聲檢測(cè)及質(zhì)量分級(jí)……………………………….29 第3節(jié) 承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲檢測(cè)及質(zhì)量分級(jí)………………………….32第4章　磁粉檢測(cè)通用工藝規(guī)程 …………………………………………….35第5章　滲透檢測(cè)通用工藝規(guī)程 …………………………………………… 39第6章 工藝卡附表………………………………………………………….44 第1節(jié) 射線檢測(cè)工藝卡…………………………………………………….44第2節(jié) 超聲檢測(cè)工藝卡……………………………………………………45 第3節(jié) 磁粉檢測(cè)工藝卡……………………………………………………46第4節(jié) 滲透檢測(cè)工藝卡……………………………………………………47第一章 編制說明 范圍本規(guī)程規(guī)定了對(duì)金屬原材料、零部件和焊接接頭進(jìn)行射線檢測(cè)、超聲檢測(cè)、磁粉檢測(cè)、滲透檢測(cè)的基本要求。，做好檢測(cè)記錄及簽發(fā)檢測(cè)報(bào)告。當(dāng)技術(shù)條件沒有注明時(shí)，承壓設(shè)備及受壓元件焊接接頭的射線檢測(cè)，一般采用NB/。 觀片燈的最大亮度應(yīng)能滿足評(píng)片的要求。、表表3選用表1 像質(zhì)計(jì)靈敏度值 單壁透照、像質(zhì)計(jì)置于源測(cè)應(yīng)識(shí)別絲號(hào)（絲徑，mm）公稱厚度（T）范圍，mmA級(jí)AB級(jí)B級(jí)18≤17≤＞－16≤＞－＞4－615＞＞－＞6－814＞＞－7＞8－1213＞~7＞7－10＞12－2012＞710＞10－15＞20－3011＞1015＞15－25＞30－3510＞1525＞25－32＞35－459＞2532＞32－40＞45－658＞32－40＞40－55＞65－1207＞40－55＞55－85＞120－2006＞55－85＞85－150＞200－3505＞85－150＞150－250＞3504＞150－250＞250－3503＞250－350＞3502＞350表2 像質(zhì)計(jì)靈敏度值 雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于源測(cè)應(yīng)識(shí)別絲號(hào)（絲徑，mm）透照厚度（W）范圍，mmA級(jí)AB級(jí)B級(jí)18≤17≤＞－16≤＞－＞4－615＞－＞－＞6－914＞－＞－7＞9－1513＞－7＞7－11＞15－2212＞7－11＞11－15＞22－3111＞11－15＞15－22＞31－4010＞15－22＞22－32＞40－489＞22－32＞32－44＞48－568＞32－44＞44－547＞44－54表3 像質(zhì)計(jì)靈敏度值 雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于膠片測(cè)應(yīng)識(shí)別絲號(hào)（絲徑，mm）透照厚度（W）范圍，mmA級(jí)AB級(jí)B級(jí)16≤＞－＞4－615＞－＞－＞6－1214＞－＞－11＞12－1813＞－11＞11－17＞18－3012＞11－17＞17－26＞30－4211＞17－26＞26－39＞42－5510＞26－39＞39－51＞55－709＞39－51＞51－64＞70－1008＞51－64＞64－85＞100－1807＞64－85＞85－125＞180－3006＞85－125＞125－225＞3005＞125－225＞225－3754＞225－375＞3753＞375像質(zhì)計(jì)材料代號(hào)FeNiAl像質(zhì)計(jì)材料碳鋼或奧氏體不銹鋼鎳鉻合金工業(yè)純鋁適用材料范圍碳鋼、低合金鋼、不銹鋼鎳及鎳合金鋁及鋁合金（被檢區(qū)長(zhǎng)度的1/4部位），金屬絲應(yīng)橫跨焊縫并與焊縫方向垂直，細(xì)絲置于外側(cè)。b. 弧形縱縫透照每段至少三個(gè)（分別置于二端及中部）。、射線源至工件表面的最小距離、所選用的射線源至工件表面的距離f應(yīng)滿足下述要求：AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)：f≥10d、曝光量、χ射線照相，當(dāng)焦距為700mm時(shí)，曝光量的推薦值為：AB級(jí)不小于15mA、對(duì)使用中的曝光曲線，每年至少應(yīng)校驗(yàn)一次。b. 底片序號(hào)標(biāo)記以每條焊縫為單位用阿拉伯?dāng)?shù)字表示，排