【正文】 i++) for(j=0。 ribdisp[i]=rib[i]*2。 rvb[i]=(float)adc(1)*。 rvb[i]=(float)adc(1)*。 p33=0。 } /*******************************輸入特性曲線 **************************************************/ void draw_r(void) { uchar i,j。 } } dac=vd(0)。i100。 delay(100)。 p34=0。 us2=(float)adc(0)*。 point((uchar)(us1*66),(uchar)((vvus1/75*1050)*10))。 e=0。 uce1disp[i]=(uchar)((vvus2/75*1050)*10)。 for(i=0。i++) { dac=vd(vv)。 p33=1。 us2=(float)adc(0)*。 point((uchar)(us1*66),(uchar)((vvus1/75*1050)*10))。 e=0。i60。i++) point(i,0)。 e=0。 v=。 e=0。 } 34 if(cc1) {ss=1。 for(i=0。 delay(300)。 switch () { case 0: adc08090=。 set_start_position(2,3)。 display_string(uA)。 display_string(直流 β： )。 p35=0。 ic1=ur/。 p34=1。i++) ur+=ur1[i]。 31 } ub=0。 delay(300)。 uchar i。 } if(curl_cflag==1) { draw_c()。 set_start_position(4,4)。 pnp_flag=1。 set_start_position(2,1)。 initial()。 case 1: curl_cflag=1。 delay(10)。 display_string(三極管參數(shù)測試儀 )。 //EA=1。 e=0。 uchar vd(float v)。 bit error(void)。 uchar xdata ic3disp[100]。 uchar xdata rvbedisp[100]。 sbit p35=P3^5。technology ABSTRACT This paper introduces the design of the transistor characteristic test system based on MCU(AT89S52).The system described in detail the basic principles of the framework of hardware,software,as well as the main framework of the design is used to accurately messure to the AC and DC enlargement factor, the input and output to the system can measure the transistor characteristic accurately,so it is useful to research and apply the transistor to actural system has many advantages such as safe f unction,powerful antiinterference,low power consumption and other advantages those are more useful than some other systems. Ke y word: tansistor。通過畢業(yè)設計，我悟出了很多道理：本測試系統(tǒng)就像一個組織一樣，單片機是組織的領(lǐng)導，各模塊各司其職，只有在領(lǐng)導的合理協(xié)調(diào)下組織才能正常的運營。 ? 易于彩色化。 IOUT1 ： DAC轉(zhuǎn)換的電流輸出端 1，其值與寄存器的內(nèi)容有關(guān)， DAC寄存器的內(nèi)容全 1時， Iout1最大；全為 0時， Iout1最小。 從 DI0~DI7輸入的數(shù)字量能否進入輸入寄存器要受輸入鎖存器的鎖存信號 LE1控制。 AGND ：模擬量信號接地端。 引腳圖如下： 19 圖 14 CD4069引腳功能圖 其中 ，引腳 1 13為 1A ~ 6A 數(shù)據(jù)輸入端；引腳 7為 VDD接正電源；引腳 14為 VSS 接地；引腳 12 為 1Y ~ 6Y 數(shù)據(jù)輸入端。當 OE 為高電平時， Q0～ Q7 呈高阻態(tài)， 這種情況下既 不 能 驅(qū)動總線，也不 能 為總線的負載 提供驅(qū)動。要求時鐘頻率不高于 640kHZ，時鐘輸入 、時鐘頻率上限為 1280KHz。 START：轉(zhuǎn)換啟動信號，在模擬通道選通之后，由 START上的正脈沖啟動 A/D轉(zhuǎn)換過程。 D7~D0： 8位數(shù)字量輸出端，可直接與單片機的 P0口相連。 ，且當 WR信號來（為低電平），這時送到 AD轉(zhuǎn)換器的 ALE和 START引腳為高電平，啟動 AD轉(zhuǎn)換。 ADC0809是八位 A／ D轉(zhuǎn)換器。電阻 5R 的電阻值是 75Ω ，易得集電極的電流表達式： IC=URC/75。 ? 低噪聲 ,典型值 35nV / Hz (100k Hz 時 ) 。 5 腳 : Ref , 參考輸入端 , 通常接地 , 也可通過其調(diào)整失調(diào)電壓。 5V 電壓。在這里繼電器起到“自動開關(guān)”的作用，繼電器實際上是用較小的電流去控制較大電流的一種電子控制器件，在電路中起 著自動調(diào)節(jié)、安全保護、轉(zhuǎn)換電路等作用。 ①基極電阻的選擇：根據(jù)設 計要求，在測量輸出特性曲線時，要求 IB=0， 10μ A， 20μ A， 30μ A時描繪出三極管的共射時的輸出特性曲線，由于是共射電路，所以發(fā)射極接地， 在測放大倍數(shù)和輸出曲線時，保持基極電壓為 +5V（ NPN 時為 +5V， PNP 時為 5V）不變。 AT89C51 的時鐘電路： ATC89C51 單片機內(nèi)部有一個振蕩器，只要單 片機的 1 19 引腳外接石英晶體（簡稱晶振）和諧振電容，就構(gòu)成了時鐘電路，系統(tǒng)也就具備了正常工作的基本條件，時鐘電路就可以產(chǎn)生時鐘脈沖信號。此時 iC不僅與 iB有關(guān)，而且明顯隨 UCE增大而增大， iC小于 IB 。小功率硅管的 ICEO 在 1μ A以下，鍺管的 ICEO 在小于幾十微安。 圖 2 晶體管的輸入特性曲線 7 ②由于發(fā)射極接地，所以 UCE≈ UC，因此測量時固定 UC=12V，通過數(shù)控電壓源（由 DAC0832 作用 ）以一定步長增大基極電壓（同理，由于發(fā)射極接地，故 UBE≈ UB），每增大一次電壓后采集一次電流 iB，送入內(nèi)存中。在測量時電阻的切換是用繼電器實現(xiàn)的。通過 DA控制逐步增大加在三極管集電極的電壓，同時對集電極電流實時檢測，當檢測到電流發(fā)生突變時，記錄下 6 此時的 DA 輸出電壓值。所使用的電路為兩路數(shù)據(jù)采集電路。同時，采集電路中還通過開關(guān)的開合來改變采樣電路的工作狀態(tài)。測量范圍 50~300；當 |IB|由 10μ A 變化到 20μ A， | UCE|保持不變，能測出三極管的交流放大系數(shù)β，并用數(shù)字顯示。 關(guān)鍵字 ：三極管；單片機；模塊化；優(yōu)點 引言 三極管是一種很常見的電子元器件，它雖然體積較小，結(jié)構(gòu)簡單，但是往往在電子線路中起到很大的作用，三極管的好壞和特性 參數(shù)能對電路產(chǎn)生很大的影響，甚至直接影響電路的功能。目前有很多方法測試晶體三極管，同時用于測量晶體三極管的各種圖示儀有很多，它們大多用于測量或者觀察三極管的各種輸入、輸出等特性，這些圖示儀有良好的性能和較高的精度，但是這些儀器的性價比和實用性不強，主要原因是因為這些儀器的電路制作比較麻煩，性價比不高。 （ 3）在 | UCE|=10V的條件下，測量三極管的集電 極 — 發(fā)射極反向飽和電流 ICEO=1mA，用數(shù)字顯示，測量范圍 A~100μ A，測量誤差≤ 10%。最后，單片機將采集到的數(shù)據(jù)處理后送到 LCD液晶中顯示 出來。若所測量的三極管為 NPN型，則設計方案采用經(jīng)過普通運放組成的同向比例放大電路使基極電壓進行放大。根據(jù)加壓倍數(shù)（與倍壓電路有關(guān)，幾倍壓就放大幾倍）即可得到 Uceo。 三極管共發(fā)射極輸入、輸出特性曲線測量的方案 測量輸入特性曲線： ①輸入特性曲線：輸入特性曲線描述的是三極管的基極電流隨發(fā)射結(jié)壓降變化關(guān)系的曲線。單片機 將采集到的各組數(shù)據(jù)處理后，將各組數(shù)據(jù)用坐標形式確定其位置，在 LCD 上顯示出曲線的形狀。因此在近似分析中可以認為晶體管截止時的 iC≈ 0 。在實際電路中，若晶體管的 UBE增大時， iB隨之增大，但iC增大的不多或基本不變，則說明晶體管進入飽和區(qū)。通常諧振電容的值為 30pF，晶振的典型值為 12MHz、 24MHz或 。因為硅型三極管的基極 發(fā)射極的導通電壓在 ~，不妨設 UBE =，可計算出三種情況下的基極電阻分別為： 1 ( 5 0 .6 5 ) 43510 VRKA??? ? ?2 ( 5 0 .6 5 ) 21820 VRKA??? ? ? 3 ( 5 0 .6 5 ) 14530 VRKA??? ? ? 在實際選取時，這三個電阻的匹配很難準確達到，所以可以調(diào)節(jié)電位器達到規(guī)定的電阻值，然后連接到電路中。 若單片機的輸出端 P3口給采樣電路提供的是高電平時 PN結(jié)導通，有基極電流產(chǎn)生，繼電器中有電流通過，此時繼電器由常開觸點切換到常閉觸點；若單片機輸出的是低電平，則沒有基極電流產(chǎn)生，繼電器中沒有電流，繼電器保持在常開觸點上。則電路兩端的電壓是 URB =|5UB|易得基極電流 IB的表達式 ：IB=URB/ RB=|5UB|/ RB ②對于集電極采樣電路，如圖 3，在 同樣的條件下，電路中繼電器 4的開關(guān)接在電阻 R5側(cè)，繼電器 5的開關(guān)接在電源177。 6 腳 : Vo ,放大器輸出端。 ? 頻率響應的典型值 200k Hz ( G = 5) 。根據(jù)三極管直流電流放大系數(shù)的定義式可以算出： C CEO CBBI I III? ??? 一般來說， ? 和 ? 的大小是不一樣的， ? 不是一個 固定不變的常數(shù)，它是兩個變化量之比，其值 13 的大小與工作點密切相關(guān)。每采集一次一般需 100μ S， A／ D轉(zhuǎn)換結(jié)束后會自動產(chǎn)生EOC信號。同樣，當 RD信號來時使能 OE信號， AD轉(zhuǎn)換器向總線上發(fā)送數(shù)據(jù)。其中第 17引腳為最低位，第 21引腳為最高位。轉(zhuǎn)換時間至少100us。 （ 2） ADC0809 實驗電路中，與 ADC0809 相連的有地址鎖存器 74LS373，它通過單片機的 P2 口控制其輸入端（ D）來實現(xiàn)控制輸出端（ Q），然后 Q連接 ADC0809來選通 ADC0809的輸入通道。 真值表： 表 2 74LS373真值表 Dn LE OE On H H L H L H L L X L L Q0 X X H 高阻態(tài) 與 ADC0809相連的電路 圖 10 與 ADC0809相連的電路 圖 10 為與 ADC0809相連接的放大電路。 DA 雙極性電壓輸出電路 該電路使用的核心芯片是 DAC0832， D/A 轉(zhuǎn)換是指數(shù)字量到模擬量的線性轉(zhuǎn)換，目前大多數(shù) D/A 轉(zhuǎn)換的輸出模擬量均為電流量，要經(jīng)過一個反相輸入的運算放大器轉(zhuǎn)換成模擬電壓輸出。 DGND ：數(shù)字量信號接地端，在使用時，模擬地始終與數(shù)字地相連。該信號的產(chǎn)生是由 ILE、 CS、 WR1的邏輯組合決定的。 IOUT2 ：電流輸出端 2 。 ? 沒有電磁輻射：對身體無污染。我們做任何事都要認真對待，要在小事中積累經(jīng)驗，勤于反思和總 結(jié)，只有我們認真和較好地完成每一個小事才有資格去做要求更高的事，比如說焊接雖然看起來是比較簡單的工作，但是如果不用心去對待就會出現(xiàn)虛焊、焊錯等錯誤，這些都會給以后的實驗調(diào)試帶來很大的麻煩，影響工作效率；同時，我還體會到，工作上的很多事不能僅僅靠一個人的力量，有些事在團體的配合下能夠更高效的完成，團結(jié)協(xié)作的力量是不容小視的，我們要學會與人溝通合作，這樣我們才能在以后的工作中無往不勝，比如說我們遇到棘手的問題時，我們反復思考不能解決時不妨去向有經(jīng)驗的人請教，這樣我們就能更加方便、更有效的獲得解決問題的方法和思路 。 MCU。 float xdata ub1[10]。 uchar xdata ribdisp[100]。 uchar xdata uce3disp[100]。 void reset (void)。 void send(void)。 28 SCON=0x50。 EX1=1。 set_start_position(3,1)。 symbol=read_key()。 initia