表面結(jié)構(gòu)ppt課件-免費閱讀
【正文】 由于被測表面有微小的峰谷，使觸針在滑行的同時還沿輪廓的垂直方向上下運動。 三、干涉法 干涉法是利用光波干涉原理測量表面粗糙度的一種測量方法。 必要時，表面結(jié)構(gòu)符號也可以用帶箭頭或黑點的 指引線引出標注。有下列兩種： （ 1）輪廓的最小二乘法 輪廓的最小二乘中線是指具有幾何輪廓形狀并劃分輪廓的基準線，在取樣長度內(nèi)，使輪廓線上各點的縱坐標值Z(x)的平方和為最小。 評定基準 ? ? ? ① 取樣長度 lr l l l l ll基準線 r r r r r n 取樣長度 lr 取樣長度是在測量表面粗糙度時的一段與輪廓總的走向 一致的長度。表面越粗糙，接觸面積 越小，壓力越大，接觸變形越大，摩擦阻力也增加， 磨損也越快。 表面粗糙使間隙配合 R的間隙增大；過盈配 合的過盈減小；過渡配合變松。規(guī)定和選擇這段長度是為了限制和減弱表面波紋 度對表面粗糙度測量結(jié)果的影響，表面越粗糙，取樣長度應(yīng)越 大。 （ 2）輪廓的算術(shù)平均中線 輪廓的算術(shù)平均中線是指具有幾何輪廓形狀，在取樣長度內(nèi)與輪廓走向一致并劃分實際輪廓為上下兩部分，且使上下兩部分的面積相等的基準線。 在不致引起誤解時，粗糙度可表在 尺寸線上或形位公差的框格的上方。 常用儀器是干涉顯微鏡 干涉法主要用于測量 表面粗糙度的 Rz和 Ry值， 其測量范圍通常為 ~。觸針的運動情況實際上反映了被測表面輪廓的情況。啟動電動機，使傳感器帶動觸針在工件被測表面滑行。 常用的測量儀器是光切 顯微鏡，又稱雙管顯微鏡 光切顯微鏡主要用于測定 Rz和 Ry，測量范圍一般為 ~100μm。 H 2 H 1 ① 表面粗糙度基本圖形符號 H1 ≈ H2=2 H1 h —— 字高 數(shù)字與字母高度 符號的線寬 高度 H1 高度 H2 8 5 11 5 7 15 7 10 21 10 1 14 30 ② 表 面 粗 糙 度 符 號 用 任何方法 獲得的表面 （單獨使用無意義） 用 去除材料 的方法獲得的表面 用 不去除材料 的方法獲得的表面 橫線上用于標注有關(guān)參數(shù)和說明 符 號
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