【正文】 dd對話框。 修改菜單（ Modify Menu） 10 使用該菜單，顯示和改變膜系數(shù)據(jù)。該項(xiàng)是處理膜層組的唯一方法。 單一 目標(biāo)用于優(yōu)化單波長。 有多達(dá) 100個連續(xù)目標(biāo)； 注釋（ Comments）： 顯示該模型的注釋 ； 可變 膜料 （ Variable Materials）： 顯示多達(dá) 150種折射率 可變的 膜料 ； 環(huán)境（ Environments）： 顯示優(yōu)化期間多達(dá) 10個環(huán)境； 膜料 （ Materials） 讓你顯 示和修改多種 膜料 的光學(xué)參數(shù)， 膜料名稱 顯示為字母方式； 基底（ Substrates）： 讓你顯示和修改基底的光學(xué)數(shù)據(jù)，名稱案字母順序排列 。參考波長通常記為 λ0.。如果基底和出射介質(zhì)相同（不存在背面層），這意味著基底厚度無限（不存在由于背面表明的反射）；如果他們不相同，則必須考慮多重反射，也就是說，當(dāng)基底和出射介質(zhì)相同（不存在背面層），計(jì)算的透射率是進(jìn)入基底的透射率；如果不同，則需要計(jì)算通過基底的透射率； ? 探測器在探測器名稱序列中，在 使用之前必須定義好。分析參數(shù)（ Analysis Parameters）鈕將顯示設(shè)置分析參數(shù)對話框（ Set Analysis Parameters dialog），如果你選擇取消，程序?qū)⒉粫紤]你所做的任何改變。使用 “”和 “”鈕增加更多的符號。如果厚度優(yōu)先級（在配置對話框中設(shè)置）是光學(xué)的，那么厚度值將是 QWOT，否則是單位是 nm的物理厚度。 當(dāng)你選擇生成膜層（ Generate Layers）按鈕，程序?qū)⑹褂媚ざ压礁淖兦懊鎸哟翱冢?Front Layers window）的內(nèi)容；如果你選擇取消鈕，則所有的改變不起作用。對于每一層，你必須指定： ? 膜料 ，必須在 膜料 數(shù)據(jù)庫中或在 可變 膜料 窗（ Variable Material window）中定義的； ? ? 四分之一波長光學(xué)厚度或物理厚度。此外，你還可以增加、刪除、打印、拷貝和附加膜層，該菜單有 7個其他的選項(xiàng)，在下一部分說明。注意對話框總是從 0開始，該特征又稱角匹配。 計(jì)算膜層折射率和相位厚度（正常入射）的命令與給定波長和入射角膜層范圍是等價(jià)的。選擇期望的 HLH或 LHL 膜堆，輸入使用的 膜料 名稱，該 膜料 可以是 膜料 庫中的，也可以是可變 膜料 庫中的，按 “Calculate”鈕開始計(jì)算。 顯示總厚度（ Show Thickness Totals）： 該命令顯示膜系中每種 膜料 的物理厚度和所有膜層的總的物理厚度，對話框下方顯示最薄的膜層 從文件中讀取膜層數(shù)據(jù)（ Read Layer Data from File）： 該命令讀取文本文件該文件包含 2列，格式 為： 膜料 名稱和物理厚度（ mm），對話框中要求你輸入文件名，這是將膜系參數(shù)讀入 TFCal的最簡單的方法。如果第一列是空的，那么它與所有層匹配，在第一列， QWOT和厚度項(xiàng)是不相等的，例如可能 10。允許你增加、刪除、打印、拷貝、附加 。在執(zhí)行優(yōu)化之前必須輸入這些數(shù)據(jù)，對于每一個單一目標(biāo)，你必須指定： ? 選擇強(qiáng)度（ I）還是相位（ P）目標(biāo) (也有顏色、光源和派生目標(biāo)的代碼，使用選擇菜單（ Option menu）中的增加顏色目標(biāo)（ Add Color Targets）和生成派生目標(biāo)（ Generate Derivative Targets）命令可以很容易實(shí)現(xiàn) ).； ? 用戶希望優(yōu)化的 值（項(xiàng)目） ，是反射率 (R)還是透射率 (T)。單方向偏振時使用 P或 S；平均偏振使用 D， D=PS。 生成目標(biāo)（ Generate Targets）： 該命令是你能夠生成許多相同的目標(biāo)，見下面右圖中的對話框 ： 15 對話框中的大多數(shù)項(xiàng)目與目標(biāo)窗口中的相同。最后 2個選項(xiàng)可以用來優(yōu)化寬帶設(shè)計(jì)。包含目標(biāo)的文本文件開始可能是些注釋行，沒有實(shí)際使用信息，接下來的行包括波長和目 標(biāo)值。 從文件中讀入角度目標(biāo)（ Read Angle Targets from File）： 該命令是你能夠從文本文件中讀入角度目標(biāo)，對話框與前面提到的類似，不同之處是需要設(shè)定波長值 。對話框中大多數(shù)項(xiàng)目與目標(biāo)窗中的相同，選擇 CIE 1931或 CIE 1976標(biāo)準(zhǔn)。 生成派生目標(biāo)（ Generate Derivative Targets）： 該命令可以在目標(biāo)窗中增加派生目標(biāo)。單一或連續(xù)優(yōu)化目標(biāo)必須在優(yōu)化之前輸入，并且對于每一個連續(xù)目標(biāo)，你必須指定： ? 強(qiáng)度（ Iintensity）還是相位（ Pphase）； ? 優(yōu)化值，反射率 (R)或透射率 (T)，還是吸收率 (A)、 psi (P)或密度 (D)。 注釋窗（ Comments Window） 17 你可以在上述注釋窗中編輯注釋，這些注釋可以保存為文本文件。可以與 膜料 數(shù)據(jù)庫中的 膜料 名稱相同。 當(dāng) 可變 膜料 窗是當(dāng)前窗口時，你可以使用 Options menu增加、刪除、拷貝和附加 可變 膜料 。 可變 膜料 另一個用途是查找一個或多個膜層折射率的理想折射值，然后用等價(jià)膜 堆 HLH 或 LHL膜層來替代 可變 膜料 膜層。如果膜系包含的膜層折射率由于某些外部原因而變化（例如溫度、光強(qiáng)度、電流、磁場、濕度），那么 , 該窗口內(nèi)的有效 膜料可以使用多個環(huán)境來設(shè)計(jì) birefringent基底的膜系，即基底的折射率與入射角度和偏振有關(guān)。該名稱必須在使用之前定義好； ? 基底的物理厚度 mm； ? 出射介質(zhì)名稱（在基底系列中），該名稱必須在使用之前定義好； ? 探測器名稱（在探測器系列中），該名稱必須在使用之前定義好； ? 多達(dá) 3種有效 膜料 —他的折射率由于外界影響而變化； ? 光入射的第一面： Front 或 Back。確信當(dāng)前環(huán)境下，膜系中至少一層使用當(dāng)前環(huán)境列（標(biāo)注 “*”號）中的有效 膜料 。 膜料 和基底窗（ Materials and Substrates Windows） 左邊圖形顯示通常的 膜料 和基底窗口內(nèi)容。如果以后選擇，那么必須選中公式類型 。 對于所有的 膜料 ，折射率 N必須大于 0，消光系數(shù) K是 0（對于非吸收介質(zhì) 膜料 ），對于吸收 膜料 ： K 0。 色散公式僅在一定 的波長范圍內(nèi)使用，范圍和公式參數(shù)輸入對話框中，當(dāng)按下打印按鈕時，用戶能夠?yàn)樵摴骄庉嬜⑨?；?dāng)按下轉(zhuǎn)換 Convert按鈕時，用戶可以將色散公式轉(zhuǎn)換成數(shù)據(jù)表格。 對于色散公式 n(λ),，下面的選擇是合適的： 20 對于色散公式 k(λ)，有 4個選項(xiàng)： 注意： Schott玻璃公司現(xiàn)在使用 Sellmeier 3 色散公式來表示他的玻璃的特征，然而，其他玻璃制造商仍然使用 Schott公式。注意：你必須關(guān)閉窗口，這樣改變才 會起作用。 21 膜料 和基底數(shù)據(jù)分別存貯。 光源窗口（ Illuminant Windows） 下面的圖形顯示可以使用的光源名稱，當(dāng)該窗口是當(dāng)前窗口時，你可以使用其 Options菜單增加、刪除、打印光源名稱。線性插值可以確定表中沒有給出的波長下的強(qiáng)度。 當(dāng)光源窗口是當(dāng)前窗口時，你可以使用其 Options菜單增加、刪除、打印數(shù)據(jù)。例如，在 ILLUMINA目錄中由一個稱作 WHITE的文件。 為了看指定探測器的相關(guān)效率，點(diǎn)擊相關(guān)探測器名稱。 當(dāng)探測器窗口是當(dāng)前窗口時，可以使用 Options菜單增加、刪除和打印數(shù)據(jù)。這樣很容以拷貝數(shù)據(jù)并與同時共享或拷貝到別的計(jì)算機(jī)上。因此就可用作 出 探測器與該膜系的關(guān)系曲線。當(dāng)窗口是當(dāng)前窗口，你可以使用 Options菜單增加、刪除、打印分布。 當(dāng)分布數(shù)據(jù)窗是當(dāng)前窗口，則可以使用其 Options菜單增加、刪除、打印數(shù)據(jù)。例如，在DISTRIBU目錄下的 EQUAL 文件。 運(yùn)行菜單（ Run Menu） 使 用該菜單可以分析或優(yōu)化膜系。當(dāng)你修改某些參數(shù)，想看看其影響時，使用該命令。 24 優(yōu)化設(shè)計(jì)（ Optimize Design）： 該命令告訴程序改變膜層后的或組比例系數(shù)（對于使用可變 膜料 ，則該吧折射率），使得下面的評價(jià)函數(shù)值最?。? 式中， m 是目標(biāo)數(shù)目， k 是方法的乘方， I 是光源強(qiáng)度， D 是探測器效率， T 是期望的目標(biāo)值， C 是計(jì)算的（在給定波長、角度和偏振方向條件下的反射率、透射率等） 值， Tol 是目標(biāo) 公差， N 是目標(biāo)歸一化因子。 K值對優(yōu)化結(jié)果有顯著的影響，程序允許其值為： 16和 極 大值。 使用該菜單中的設(shè)置優(yōu)化參數(shù)（ Set Optimization Parameters）命令選擇膜層或組是否要優(yōu)化、優(yōu)化方法、重復(fù)次數(shù)等。該對話框里顯示了 2 幅圖形， 上面一個圖顯示的是 25 層數(shù)、膜層總的物理厚度和折射率輪廓線 —每層的折射率相關(guān)厚度。注意連續(xù)目標(biāo)捕捉 偏差的細(xì)節(jié)。 在達(dá)到設(shè)定的重復(fù)次數(shù)之前，優(yōu)化工作一直進(jìn)行，除非你選擇退出 。如果你正在做針優(yōu)化（ needle），退出過程由一個延遲時間。 可以接受的設(shè)計(jì)（ Designs Accepted）：數(shù)字表示 設(shè)計(jì)已經(jīng)包括在 全局 搜索中。 按停止搜索（ Stop Searching）：按鈕可以在任何時候停止 全局 搜索。 該命令是設(shè)計(jì)者能夠運(yùn)用梯度或可變憑借方法同時優(yōu)化多個設(shè)計(jì)。 選擇結(jié)果菜單（ Results menu.）中的顯示 FEI圖（ Show EFI Plot）可以顯示結(jié)果。程序?qū)⒏淖內(nèi)我鈱拥暮穸?、分析膜系設(shè)計(jì)、記錄結(jié)果。第 2 個 .性能居中 (通常是最接近膜系的性能的 )，第 1和第 3條 四分點(diǎn) 曲線稍微低于或高于中間曲線的性能；對于每一個波長值， 隨機(jī)設(shè)計(jì)膜系性能在第 1和第 3條曲線之間。 計(jì)算圓錐角平均值（ Compute ConeAngle Average）： 當(dāng)光不是垂直入射時，可以使用該命令來分析膜系。計(jì)算圓錐角平均值時，顯示下面的對話框，按 Quit按鈕退出。使用設(shè)置監(jiān)控參數(shù)（ Set Monitoring Parameters）命令選擇層和監(jiān)控波長，正在計(jì)算曲線時，顯示下面的對話框。 設(shè)置分析參數(shù)（ Set Analysis Parameters）： 你可以對期望分析的 膜系使用該命令輸入波長范圍和 /或角度 ，對話框如下： 28 選擇給定入射角下波長范圍（ range of wavelengths） 還是給定波長下角度變化的范圍（ range of incident angles） 或波長和角度。膜系設(shè)計(jì)可以分析多達(dá) 32020 角度。因此Gradient 方法通常在偏差不精確時停止。如果 N個層或組需要重新確定，我們建議采用 Gradient和 Variable Metric方法時次數(shù)設(shè)為 5*N次，而對于 Simplex 方法則設(shè)為 10*N*N次。注意，如果這些方法是從最小值時開始的，則集中在不同的設(shè)計(jì)。非常薄的膜層在 0和小數(shù)量直徑震蕩將減小優(yōu)化方法的效率。在這種情況下，可以說設(shè)計(jì)已經(jīng)優(yōu)化好。當(dāng)你人工停止優(yōu)化后，希望重新恢復(fù)優(yōu)化時，選用該項(xiàng)是很有幫助的。注意，還有一個選擇框（ Save the design with prelix of），用于在 tunneling優(yōu)化開始之前保存每一個最佳的優(yōu)化結(jié)果。 全局搜索產(chǎn)生的設(shè)計(jì)范圍由下面因素確定： (1) 當(dāng)前設(shè)計(jì)中哪些層（或組或可變 膜料 ）標(biāo)定為要優(yōu)化；(2) Maximum Change from Current Design字段中輸入百分比。如果膜層（或組比例因子或折射率）保持不變，則全局搜索將停止 . 如果僅僅是優(yōu)化具有少量膜層（或組或可變 膜料 ）的膜系，則推薦使用相同搜索。例如，如果膜層改變 100 nm，并且厚度可以改變 50%，那么隨機(jī)厚度將在 50和 150 nm之前改變。通常情況下，隨著更多的膜層（或組或可變 膜料 ）改變，臨近的數(shù)目應(yīng)該增加。 設(shè)置 FEI 參數(shù)（ Set EFI Parameters）： 該 命令是你能夠控制 EFI計(jì)算。 膜層厚度的變化可以是相對的，也可以是絕對的 (可以是物理的或者是光學(xué)的厚度 )；點(diǎn)擊你期望的選項(xiàng)并輸入期望的誤差值。如果選擇 Vary All Layers檢查框，則每層厚度將該筆；否則僅僅標(biāo)記要優(yōu)化的層厚度會發(fā)生改變。 對話框如右下圖所示： 圓錐角的中心角總是 Environment對話框中的入射角，角度值可以設(shè)置為 halfangle或 f/number。 設(shè)置監(jiān)控參數(shù)（ Set Monitoring Parameters）： 該命令允許用戶指定計(jì)算監(jiān)控曲線所用的參數(shù) ， 下面是其對話框： 它可以監(jiān)控反射率（ reflectance）、透射率（ transmittance）、 delta、或 psi。如果監(jiān)控基底背后的反射光，則一定要選中 Reverse side of chip reflects。將出現(xiàn)下面的對話框： 用戶可以為所有的 膜料 選擇相同的監(jiān)控比，或者針對不同 膜料 設(shè)置不同的監(jiān)控比。 顯示表（ Show Table）： 顯示下列內(nèi)容的表： (1) 反射率、透射率、吸收率 psi、強(qiáng)度、損耗或 (2)反射或透視后