表面分析技術培訓課件-全文預覽
【正文】 nd during (BF) enzymatic degradation by PHB depolymerase from Ralstonia pickettii T1 at 20 ) 當針尖被壓入表面時，那點曲線斜率可以決定材料的彈性模量，從力曲線上也能很好的反映出所測樣品的彈性、塑性等性質。 為了研究絕緣體樣品的表面結構 ， 1986年 IBM的 Binnig和 Stanford大學的 Quate在掃描隧道顯微鏡的基礎上發(fā)明了原子力顯微鏡 （ AFM） , 彌補了 STM的不足 。 1990 IBM35IBM” STM IBM” ? 一個直觀的例子是由 Park等人完成的，他們將碘代苯分子吸附在 Cu單晶表面的原子臺階處，再利用 STM針尖將碘原子從分子中剝離出來，然后用 STM針尖將兩個苯活性基團結合到一起形成一個聯(lián)苯分子，完成了一個完整的化學反應過程。在掃描隧道顯微鏡下，導電物質表面結構的原子、分子狀態(tài)清晰可見。 4）在觀測材料表面結構的同時，可得到材料表面的 掃描隧道譜 （ STS），從而可以研究材料表面化學結構和電子狀態(tài) 5）不能探測深層信息， 無法直接觀察絕緣體 。 ?化學位移 ? ? 5. X 1 Zn S Zn S Zn 1022eV Zn Zn Zn S Zn Zn ZnS 2 PP (PP) F2/N2 F1sC/F F1s C1sFHCHF CHF2 CF CF2 CF3 3 XPS C1s F1s 4 C1sO1s (a) O1s (b) O1sC1s (c)O1s C1s C 5 XPSC1s(a)C1s (b)CHF CH2C1s (a) CF2 CFH C1s (a) CF2 C1s b 1,2CHF C1sCH2 C1sH(CF2)8COONH4+) CF2 C1s (b)CF2 CH2 C1s 掃描隧道顯微鏡（ STM） (Scanning Tunneling Microscopy) ? 1982 IBMG Binning H Rohrer ? 1986 * STM * * 20 80 ? ( 1nm) 掃描隧道顯微鏡工作原理 50~100 nm ~ nm Px Py Pz STM I VbS ? ?12expbI V A S? ? ? ?bVA??S — — 1 — — ~ n
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