9嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)與開發(fā)-arm嵌入式開發(fā)工具（ppt81頁)-全文預(yù)覽
【正文】 DSP）調(diào)試和單核 ARM/DSP調(diào)試。 ? ARM、 Thumb、 C、 C++編譯， ARM、 Thumb匯編和宏匯編。它通過單一 內(nèi)核程序進(jìn)行多內(nèi)核調(diào)試，并采用了 Mentor Graphics的嵌入技 術(shù)。 Embest IDE軟件仿真設(shè)置 Multi 2023模塊與應(yīng)用系統(tǒng) 該 IDE開發(fā)環(huán)境主要包括： ? 工程生成工具（ project builer） ? 源代碼調(diào)試器（ sourcelevel debugger） ? 事件分析器（ event analyzer） ? 性能剖析器（ performance profiler） ? 實(shí)時(shí)運(yùn)行錯(cuò)誤檢查工具（ runtime error checking） ? 圖形化瀏覽器（ graphical brower） ? 文本編輯器（ text editor） ? 版本控制工具（ version control system） RVDS集成開發(fā)環(huán)境 Real View Developer Suite工具是 ARM公司繼 ADS之后推出的 新一代 ARM集成開發(fā)環(huán)境，是 RealView ARM新一代開發(fā)工具 集中的集成開發(fā)環(huán)境部分，目前的最新版本是 。在和宿主 機(jī)連接的接口上，在線仿真器也是通過串行端口或并行端口、 網(wǎng)口和 USB口通信。 目前國內(nèi)最常用的幾種該類型仿真器： 1． Embest PowerICE for ARM Embest PowerICE for ARM是英蓓特公司開發(fā)的實(shí)時(shí)在線仿真 器。 v 訪問 I/O系統(tǒng)。 JTAG仿真器通過 ARM處理器的 JTAG調(diào)試接口與目標(biāo)機(jī)通信， 通過并口或串口、網(wǎng)口、 USB口與宿主機(jī)通信。 ARM開發(fā)工具概述 JTAG仿真器 JTAG仿真器也稱為 JTAG調(diào)試器，是通過 ARM芯片的 JTAG邊 界掃描口進(jìn)行調(diào)試的設(shè)備。代碼執(zhí)行時(shí)， CPU發(fā)送串行、經(jīng)過編碼、壓縮的分支目標(biāo)地址、管線狀態(tài)、讀寫數(shù)據(jù)給 ETM。 ? 觀察點(diǎn) 0/1控制值 /屏蔽寄存器。 ? 調(diào)試通信控制寄存器（ debug ms control register）和調(diào)試通信數(shù)據(jù)寄存器（ debug ms data register）是用來控制和操作調(diào)試通信通道。 ? 通過調(diào)試狀態(tài)寄存器（ debug status register）可以查詢當(dāng)前系統(tǒng)的狀態(tài)。 ? Embedded ICE宏接口。 v 在 ARM9TDMI進(jìn)入調(diào)試狀態(tài)時(shí)， SYSSPEED將輸出。在這個(gè)過程中，被當(dāng)前指令選定的數(shù)據(jù)寄存器會(huì)被連接在 TDI和 TDO之間。在 UpdateIR狀態(tài)，剛才輸入到指令寄存器中的指令將更新指令寄存器成為當(dāng)前指令。在 CaptureIR狀態(tài)中，一個(gè)特定的指令加載到指令寄存器中，進(jìn)入到 ShiftIR狀態(tài)。 通過 TAP接口，對數(shù)據(jù)寄存器進(jìn)行訪問的一般過程是： 1）通過指令寄存器，選定一個(gè)需要訪問的數(shù)據(jù)寄存器。 ? 如果要在芯片的某個(gè)管腳上加載一個(gè)特定的信號，則首先通過 TDI把期望的信號移位到與相應(yīng)管腳相連的邊界掃描鏈的寄存器單元里，然后把該寄存器單元的值加載到相應(yīng)的芯片管腳。 ? TAP有 5個(gè)接口信號： TCK、 TMS、 TDI、 TDO和 TRST，提供給 JTAG接口。該信號接口在 IEEE ，并 不是強(qiáng)制要求的。為了防止誤觸發(fā)，應(yīng)在該端加適 當(dāng)上拉電阻。 TDO在 IEEE 是強(qiáng)制要求的。 TDI在 IEEE 。 TMS在 IEEE 。 TCK在 IEEE 。 v 測試單個(gè)單元的功能。 1990年 IEEE組織將這些草案標(biāo)準(zhǔn)化，并命名為 IEEE ，俗稱 JTAG調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)。嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)與開發(fā) 第 9章 ARM嵌入式開發(fā)工具 本章提要 ARM下層開發(fā)工具 ARM開發(fā)工具概述 ARM的 ADS Embest IDE的介紹 ARM下層開發(fā)工具 ? 由于程序的編譯環(huán)境和運(yùn)行環(huán)境不同，所以 ARM嵌入式開發(fā)采用交叉編譯方法進(jìn)行。 ARM 嵌入式系統(tǒng)實(shí)時(shí)開發(fā)組織結(jié)構(gòu)圖 JTAG TAP 控制器Em be dde d IC EETMAR M 核JTAG端口跟蹤端口Em be dde dICE控制器跟蹤端口分析器計(jì)算機(jī)Addre ss B usC o n t r o l B u s掃描鏈掃描鏈掃描鏈Da ta B us JTAG接口 JTAG接口標(biāo)準(zhǔn)是由測試聯(lián)合行動(dòng)組（ joint test action group）于 1986~1988年推出的基于邊界掃描機(jī)制的標(biāo)準(zhǔn)化草 案。邊界掃描機(jī)制可以 實(shí)現(xiàn)下列目標(biāo)： v 測試不同單元之間的連接。 TCK為 TAP的操作提供了一個(gè) 獨(dú)立的、基本的時(shí)鐘信號， TAP的所有操作都是通過這個(gè)時(shí)鐘 信號來驅(qū)動(dòng)的。 TMS信號在 TCK的上升沿有效。所有要輸 入到特定寄存器的數(shù)據(jù)都是通過 TDI接口一位一位串行輸入的 （由 TCK驅(qū)動(dòng)）。所有 要從特定邊界掃描鏈采樣的保存在寄存器中的數(shù)據(jù)都是通過 TDO接口一位一位串行輸出的（由 TCK驅(qū)動(dòng)）；在芯片串行測 試時(shí)，將數(shù)據(jù)傳送給下一個(gè)芯片。該信號接口 在 IEEE ，因?yàn)橥ㄟ^ TMS也可以對 TAP Controller進(jìn)行復(fù)位 /初始化?？梢灾苯訉δ繕?biāo)系統(tǒng)復(fù)位，同時(shí)可以檢測目標(biāo)系統(tǒng) 的復(fù)位情況。 ? 對整個(gè) TAP的控制是通過 TAP Controller完成的。 ? 如果需要捕獲芯片某個(gè)管腳上的輸出，首先需要把該管腳上的輸出裝載到邊界掃描鏈的寄存器單元里，然后通過 TDO輸出，得到相應(yīng)管腳的輸出信號。 ? 如在芯片提供的所有邊界掃描鏈中選擇一條指定的邊界掃描鏈作為當(dāng)前的目標(biāo)掃描鏈，并作為訪問對象就是由相應(yīng)指令寄存器完成的。 JTAG TAP 控制器狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖 T es t L o g i c Res et O x F t ms = 1 t ms = 0 t ms = 0 t ms = 1 t ms = 1 t ms = 0 t ms = 1 t ms = 0 t ms = 1 t ms = 1 t ms = 0 t ms = 0 t ms = 0 t ms = 1 t ms = 0 t ms = 1 t ms = 1 t ms = 0 t ms = 0 t ms = 1 t ms = 1 t ms = 1 t ms = 0 t ms = 0 t ms = 0 t ms = 1 t ms = 1 t ms = 0 t ms = 0 t ms = 1 t ms = 1 Ru n T es t / I d l e O x C Sel ect DR Scan 0x7 Cap t u re DR 0x6 Sh i f t DR 0x2 E x i t 1 DR 0x1 t ms = 0 Pau s e DR 0x3 U p d at e DR 0x5 U p d at e IR 0xD E xit2 DR 0x0 E x i t 2 IR 0x8 Pau s e IR 0xB E x i t 1 IR 0x9 Sh i f t IR 0xA Cap t u re IR 0xE Sel ect IR Scan 0x4 指令寄存器和數(shù)據(jù)寄存器工作過程： 1）系統(tǒng)上電后在 TMS信號驅(qū)動(dòng)下， TAP Controller進(jìn)入 TestLogic Re
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