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spc培訓(xùn)1843150-全文預(yù)覽

2025-03-09 12:56 上一頁面

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【正文】 單 值 與移動 極差 控制圖 (XMR Chart)? 計數(shù) 值 控制圖 (Control Charts for Attribute)– 不合格品率 控制圖 (P Chart)– 不合格品數(shù) 控制圖 (nP Chart)– 缺點數(shù)控制圖 (C Chart)– 單位缺點數(shù)控制圖 (U Chart)~計數(shù)值控制圖 周期性變化判斷受控與失控UCLLCLR失控判斷判斷判斷判斷判斷★ 何時應(yīng)該重新計算控制界限1. 控制圖是根據(jù)穩(wěn)定狀態(tài)下的條件(人員、設(shè)備、原材料、工藝方法、測量系統(tǒng)、環(huán)境即 5M1E) 來制定的。典型失控狀態(tài)七 :判斷受控與失控典型失控狀態(tài)八 :216。連續(xù) 14點相鄰點上下交替典型失控狀態(tài)四 :判斷受控與失控典型失控狀態(tài)五 :216。 1點出界判斷受控與失控判斷受控與失控216。步驟六、 描點并且在必要時重新計算控制限練習(xí):作控制圖(例 5)休圖的設(shè)計思想 先定 α , 再看 β? 按照 3方式確定 UCL、 LCL就等于確定 α 0=%? 使用者信心 ↑→ 取 α = α 0=%→ β↑ 1. 點出界就判異→ β 大,故增加下列判異準(zhǔn)則: 異( 1)所有樣本點都在控制界限之內(nèi);( 2)樣本點均勻分布,位于中心線兩側(cè)的樣本點約各占 1/2;( 3)靠近中心線的樣本點約占 2/3;( 4)靠近控制界限的樣本點極少。請注意:在繪制控制限時,控制限( UCL和 LCL之間)的距離不應(yīng)太大,也不應(yīng)太小。? 建立 適用于實施的環(huán)境? 定義過程? 確定 待管理的特性, 考慮 到– 客戶 的需求– 當(dāng)前 及 潛在 的 問題區(qū)域– 特性 間 的 相互關(guān)系? 確定測量系統(tǒng)? 使不必要的 變差 最小 .控制圖的應(yīng)用 ◆ 所控制的產(chǎn)品質(zhì)量特征值為計量值 ◆ 所控制的產(chǎn)品質(zhì)量特征為關(guān)鍵質(zhì)量特征 ◆ 若關(guān)鍵質(zhì)量特征不可測量,采用其它代用質(zhì)量 特征進(jìn)行控制時,一定要確認(rèn)代用質(zhì)量特征與 關(guān)鍵質(zhì)量特征密切相關(guān) . ◆ 測量系統(tǒng)精度應(yīng)能達(dá)到要求控制圖的應(yīng)用步驟一、選擇需控制的產(chǎn)品質(zhì)量特征值控制圖的應(yīng)用◆ 確定樣本含量 N– 采用 R控制圖,樣本含量一般取 n=5◆2 、 確定抽樣方式– — 定期法– — 即時法 一般采用即時法。? 控制圖上的控制界限與該圖中的數(shù)據(jù)無必然聯(lián)系;? 使用時只需把采集到的樣本數(shù)據(jù)或統(tǒng)計量在圖上打點就行。掌握針對質(zhì)量特性值選擇控制圖類型 ;掌握各類控制圖的應(yīng)用 .控制圖分類及其目的控制圖的應(yīng)用步驟受控與失控判定何時應(yīng)重新計算控制界限 控制圖應(yīng)用程序總結(jié)一、控制圖的應(yīng)用及受控失控判定? 解析用 控制圖– 決定過程控制方法用– 過程解析用– 過程能力研究用– 過程管制準(zhǔn)備用n 控制用控制圖n 追查不正常原因n 迅速消除此 項 原因n 研究 并采取 防止此項 原因 重復(fù)發(fā) 生之措施。計量型控制圖;● 在強(qiáng)調(diào)預(yù)防的企業(yè),在開發(fā)階段也用 SPC?!?一家企業(yè)用了三年的時間使廢品率降低 58%,其使用的方法:將使用 SPC的過程比例由 52%增加到 68%。1984年名古屋工業(yè)大學(xué)調(diào)查 115家日本各行各業(yè)的中小型工廠,平均每家采用 137張控制圖;★ ★ 3σ 2) 生產(chǎn)也是最經(jīng)濟(jì)的。 ? 情況 2:點子突然出界,顯示異常。 點出界就判異。 控制界線:由過程的實際數(shù)據(jù)統(tǒng)計計算得出 。中實線:中心線 CLRemark:縱坐標(biāo):數(shù)據(jù)(質(zhì)量特性值或其統(tǒng)計量)216。 旋轉(zhuǎn) 180176。 1) 3 σ 原理: 若變量 X服從正態(tài)分布 ,那么 ,在 177。? 就控制 圖 在工 廠 中 實施來說 , 英國 比美 國為 早?!? ■ 可應(yīng)用于定性數(shù)據(jù)。平均數(shù)的優(yōu)缺點 優(yōu)點 中位數(shù)不受超常值的影響 。 555555簡單而言,這是總體中選出的數(shù)據(jù) ,如 1000臺燃具中的其中 10臺 . 分散的量度標(biāo)準(zhǔn)差 (SD) 過程輸出的分布寬度,距離或每平均值的偏差 熱水溫升的內(nèi)控標(biāo)準(zhǔn)為 4865K, 實際量測數(shù)據(jù)為 : 。 當(dāng)過程只有普通原因影響時,過程的波動具有統(tǒng)計規(guī)律性,此時過程處于穩(wěn)定狀態(tài)。3σ % %正 態(tài)分布的概率正態(tài)分布的基礎(chǔ)知識%%%對于任意正態(tài)分布 XN( μ 和 σ 2 )的隨機(jī)變量 X來說,不論 μ 和σ 取值為何,產(chǎn)品質(zhì)量特性值落在 [μ 3 σ , μ+3 σ ]范圍內(nèi)的概率均為 %,即它的值落在 [μ 3 σ , μ+3 σ ]區(qū)間內(nèi)幾乎是肯定的。1σ % %μ177。所以衡量產(chǎn)品質(zhì)量好壞的兩個指標(biāo)是標(biāo)準(zhǔn)差與均值,標(biāo)準(zhǔn)差越小而且均值相對于技術(shù)中心值的偏移越小越好,兩者缺一不可。 例加工直徑 10177。正態(tài)分布曲線用兩個參數(shù) μ和 σ來表示,在正態(tài)分布的概率密度函數(shù)中,表示分布的兩個參數(shù) μ和 σ具有特別的意義:其中 μ表示正態(tài)分布曲線的中心位置,是正態(tài)分布的均值,它對正態(tài)分布曲線的影響是左右移動,當(dāng) μ增大,正態(tài)分布曲線向右移動, μ減小,曲線向左移動。? 計件值---二項分布? 計點值---泊松分布產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計觀點正態(tài)分布的基本概念變差的普通及特殊原因基本統(tǒng)計術(shù)語三、正態(tài)分布的基礎(chǔ)知識 N ( μ, σ2) μ: 總體 平均值,描述數(shù)據(jù)的集中位置。 SPC的重點就在于 “ P (Process), 過程” 。SPCStatistical Process Control統(tǒng)計過程控制課 程 提 綱SPC的應(yīng)用背景篇SPC控制圖篇過程能力研究篇預(yù)控法控制圖篇SPC應(yīng)用實戰(zhàn)篇SPC應(yīng)用背景篇課程目的: 了解 SPC的歷史由來 . 掌握控制圖基本原理 . 掌握 SPC的運用領(lǐng)域 . SPC基本統(tǒng)計概念 .課程內(nèi)容: 質(zhì)量管理發(fā)展史 . SPC的基本概念 . 正態(tài)分布的基礎(chǔ)知識 . 控制圖概述 .傳統(tǒng)質(zhì)量管理階段 (自檢 ﹑ 專檢階段 )統(tǒng)計質(zhì)量管理階段(統(tǒng)計質(zhì)量控制階段)全面質(zhì)量管理階段( TQC階段)綜合質(zhì)量管理階段( TQM階段)一、質(zhì)量管理發(fā)展史? 從工業(yè)革命開始產(chǎn)生? 第一階段 ﹕ 自檢? 第二階段 ﹕ 工長檢驗? 第三階段 ﹕ 專業(yè)人員檢驗? 第四階段 ﹕ 科學(xué)管理的專業(yè)人員檢驗? 到 20世紀(jì)三十年代 (局部延續(xù)到 21世紀(jì) )傳統(tǒng)質(zhì)量管理階段統(tǒng)計質(zhì)量管理階段? 20世紀(jì) 20年代出現(xiàn)? 20年代 40年代廣泛應(yīng)用? 20世紀(jì) 60年代和 TQC融合? 至今廣泛應(yīng)用全面質(zhì)量管理階段? 20世紀(jì) 60年代開始? 20世紀(jì) 80年代達(dá)到高峰? 90年代發(fā)展為 TQM三全一多樣 ﹕? 全員參與? 全面管理? 全過程控制? 多樣方式綜合質(zhì)量管理階段? 以全過程控制為基礎(chǔ)? 以綜合管理為核心主要表現(xiàn)方式 ﹕? 質(zhì)量獎? 6西格瑪什么是統(tǒng)計過程控制 SPC的特點產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計觀點二、 SPC的基本概念 下面按字面意思來解釋一下什么是統(tǒng)計過程控制 (Statistical Process Control). 統(tǒng)計學(xué) (Statistics)是數(shù)學(xué)的一個分支 : (總體 )(population)中抽取一些項目 (樣本 )(samples) (central tendency),如算術(shù)平均數(shù) (average或 mean), 如極差 (range),方差 (variance)和標(biāo)準(zhǔn)差 (standard deviation). ,通過對抽樣分布做假設(shè) ,便可提供對總體采取措施的基礎(chǔ) . 例如 ,根據(jù)經(jīng)驗 /接受抽樣樣本的品質(zhì)去推斷應(yīng)否接受或拒收整批貨物 .統(tǒng)計學(xué)中利用變異 (variation)的概念衡量產(chǎn)品或過程抽樣分布圍繞著平均值波動及在可接受的范圍以內(nèi)或以外波動的趨勢 .變異可能是 (random)(由于偶然因素造成 )或非隨機(jī)的 (assignable)(由于機(jī)械 ,方法 ,物料與 /或人事引起 ).統(tǒng)計學(xué)有助我們分辨隨機(jī)與非隨機(jī)因素 . 什么是統(tǒng)計過程控制 (SPC)過程 (process)是指生產(chǎn)產(chǎn)品 /服務(wù)的一系列行動或操作 ,也指支持產(chǎn)品 /服務(wù)的過程如管理 ,財務(wù) ,采購與工藝 .控制 (control)的意思是通過過程控制成功地控制產(chǎn)品服務(wù) .控制是指通過經(jīng)預(yù)先設(shè)計的實驗及采用統(tǒng)計技巧成功地 : 1) 過程進(jìn)行控制 。SPC解釋為 ...運用 統(tǒng)計 方法于 過程控制 上以控制產(chǎn)品品質(zhì)S P C什么是統(tǒng)計過程控制 (SPC)— 總結(jié)SPC的特點? 1. 與全面質(zhì)量管理相同,強(qiáng)調(diào) 全員參加 ,而不是只依靠少數(shù)質(zhì)量管理人員;? 2. 強(qiáng)調(diào)應(yīng)用統(tǒng)計方法來保證 預(yù)防原則 的實現(xiàn);? 3. SPC不是用來解決個別工序采用什么控制圖的問題, SPC強(qiáng)調(diào)從整個過程、整個體系來解決問題。 ? 計量值 (variable):定量的數(shù)據(jù);值可以取給定范圍內(nèi)的任何一個可能的數(shù)值,服從 正態(tài)分布? 計數(shù)值 (Attribute): 定性的數(shù)據(jù);值可以取一組特定的數(shù)值 ,而不能取這些數(shù)值之間的數(shù)值 。正態(tài)分布的基本特點 正態(tài)分布曲線具有明顯的中間高、兩邊低、左右對稱,兩邊延伸到無窮的特點。無論正態(tài)分布曲線的均值 μ如何變化即中心位置如何變化,都不改變正態(tài)分布曲線的形狀,即標(biāo)準(zhǔn)差 σ不變;無論標(biāo)準(zhǔn)差 σ如何變化即曲線的形狀如何變化都不改變正態(tài)分布的中心位置,即均值 μ不變。但是,這還要取決于這些數(shù)據(jù)相對于這些數(shù)據(jù)相對于中心值的偏移情況,如果加工出數(shù)據(jù)都為 ,盡管標(biāo)準(zhǔn)差為零,也都是不合格。 % %μ177。 % %μ177。雖然單個的測量值可能全都不同,但形成一組后它們趨于形成一個可以描述成一個分布的圖形(見后頁),這個分布按下列特性區(qū)別:? 位置(典型值)? 分布寬度(從最小值至最大值之間的距離)? 形狀(變差的模式 — 是否對稱、偏斜等)變差的普通及特殊原因變差的普通及特殊原因普 通 原 因? 普通原因是對過程的波動經(jīng)常起作用的原因 . 它的特點是:– 在過程中時刻存在著,對過程波動的影響隨機(jī)變化;– 這類因素一般復(fù)雜繁多,要列出所有的因素很困難;– 所有因素的共同作用導(dǎo)致了過程的總波動 .– 成本太高,不容易去除。如果僅存在變差的普通原因 ,隨著時間的推移 ,過程的輸出形成一個穩(wěn)定的分布并可預(yù)測如果存在變差的特殊原因,隨著時間的推移,過程的輸出不穩(wěn)定基本統(tǒng)計術(shù)語總體 樣本總體 簡單 而言 ,我們有興趣知道的數(shù)據(jù)整體 ,如 1000臺燃具樣本 一組只包含部份總體的數(shù)據(jù)。最低溫升的量測數(shù)據(jù)為 , , 那么最低溫升的極差為 : =R = (最高值 ) (最低值 )分散的量度基本統(tǒng)計術(shù)語平均 所有值總和除以樣本容量 (熱水產(chǎn)率 : ,) 備注 : 不小于額定產(chǎn)水能力的 90%.中位數(shù) 順序 (由小至大或由大至小 )數(shù)列中心項的數(shù)值眾數(shù) 在樣本中出現(xiàn)次數(shù)最多的值1234444=眾數(shù) 缺點■ 大量數(shù)據(jù)計算平均數(shù)較為繁瑣。中位數(shù)的優(yōu)、缺點 優(yōu)點 ■ 眾數(shù)不受超常值 影響。一組數(shù)據(jù)可能不存在眾數(shù)。 ? 英 國 在 1932年, 邀請. Shewhart博士到倫敦 , 主講統(tǒng)計品質(zhì)管控 ,而提高了英 國人 將統(tǒng)計 方法 應(yīng)用 到工業(yè) 方面之 氣氛 ??刂?圖 在英 國 及日本的 歷史什么是控制圖
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