spc統(tǒng)計過程管制教材-全文預(yù)覽
【正文】 例 : 品質(zhì)特性：內(nèi)胎長度 規(guī) 格： 50 177。Statistical Process Control SPC 統(tǒng)計過程管制 1 講議大綱 ? Spc的產(chǎn)生 ? 管制圖的分類 ? XR管制圖制作步驟 ? 管制圖的判讀法 ? Ca 、 Cp、 Cpk 2 一、 SPC 產(chǎn)生過程 SPC經(jīng)曆了： 1910年 1924年 1939年 1940年四個階段 美國在二次世界大戰(zhàn)中為了武器的品質(zhì)曾經(jīng)普遍的推廣興使用統(tǒng)計方法 故說 :品管史就是戰(zhàn)爭史，品管因戰(zhàn)爭而進(jìn)步 3 ? ? (XR Chart) ? (XR Chart) ? (XRm Chart) ? (XR Chart) ? ? ? ? ? 二、管制圖的分類 4 平均值與極差管制圖 ( X ─ R ) ? A 收集資料 A1 選擇『子組大小、頻率和資料』 A2 建立管制圖及記錄原始資料 A3 計算每個子組的『平均值 ( X ) 和極差 ( R )』 A4 選擇管制圖的刻度 A5 將平均值和極差，標(biāo)記到管制圖上 三、 XR管制圖制作步驟 5 (1)建立管制圖之步驟 ? a:選定管制項(xiàng)目 ? b:收集數(shù)據(jù) ? C:按產(chǎn)品生產(chǎn)之順序或測定順序排列數(shù)據(jù) ? d:數(shù)據(jù)之分組 sample=2~5, group=20~25 ? e:將分組之?dāng)?shù)據(jù)紀(jì)錄數(shù)據(jù)記錄表 ? f:計算平均值 X bar ? g:計算全距 R 平均值與極差管制圖 ( X ─ R ) 6 ?h:計算總平均值 X ?I:計算全距之平均值 R ?j:查係數(shù) A2, D4, D3( 表 122 ) ?k:計算管制界限 ?l:繪管制界限 ?m:點(diǎn)圖 ?n:管制界限之檢討 ? (1)全界限內(nèi)並隨機(jī)分佈 直接建立管制用管制圖 ? (2)有點(diǎn)超出規(guī)格 調(diào)查消除並重新計算管制界限 平均值與極差管制圖 ( X ─ R ) 7 ? (3)有點(diǎn)超出原因不明或已查出但無法消除這些點(diǎn)無頇 除去 . ? (4)重新計算管制界線後仍有點(diǎn)超出新管制界 ,無頇去除 . ? ? ? (1)(USLLSL)(UCLLCL) =製程能力 . ? (2)(USLLSL)=(UCLLCL) =製程能力需調(diào)整 ? (3)(USLLSL)(UCLLCL) =製程能力 .,需做製程 能力之改善 ?(2)建立管制用管制圖 ? a:記入必
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