亞科德電子公司晶振檢驗(yàn)規(guī)范書-全文預(yù)覽
【正文】 落實(shí)驗(yàn)。 輕缺陷： 晶振引腳彎曲變形。 晶振外觀殘缺、污物。 缺陷判定的詳細(xì)標(biāo)準(zhǔn)： 重缺陷： 晶振外觀上出現(xiàn)氧化、生銹、鍍層脫落。 晶振跌落實(shí)驗(yàn)后， 晶振無功能，頻率異常。 檢驗(yàn)設(shè)備： 操作臺、卡尺、恒溫烙鐵、錫線、晶振測試機(jī)、測試電腦、頻率計(jì) 檢驗(yàn)步驟： 外觀絲印檢驗(yàn) — 封裝尺寸檢驗(yàn) — 性能指標(biāo)檢驗(yàn) — 可焊性檢驗(yàn) 一、 目視 1． 取待檢晶振， 需目視的項(xiàng)目為： ⑴晶振外形及引腳的清潔度、氧化狀況； ⑵晶振外形及引腳的完整
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