絕緣電阻測(cè)試儀的原理-全文預(yù)覽
【正文】 根據(jù)直流變換原理,經(jīng)過升壓電路處理使較低的供電電壓提升到較高的輸出直流電壓,產(chǎn)生的高壓雖然較高但輸出功率較小?(如電警棍幾節(jié)電池能產(chǎn)生幾萬伏的高壓) ,有哪些因素會(huì)造成測(cè)量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確,為什么? A) 電池電壓不足?電池電壓欠壓過低,造成電路不能正常工作,所以測(cè)出的讀數(shù)是不準(zhǔn)確的? B) 測(cè)試線接法不正確?誤將L?G?E三端接線接錯(cuò),或?qū)?L連線G?E連線接在被測(cè)試品兩端? C) G端連線未接?被測(cè)試品由于受污染潮濕等因素造成電流泄漏引起的誤差,造成測(cè)試不準(zhǔn)確,此時(shí)必須接好G端連線防止泄漏電流引起誤差? D) 干擾過大?如果被測(cè)試品受環(huán)境電磁干擾過大,造成儀表讀數(shù)跳動(dòng)?或指針晃動(dòng)?造成讀數(shù)不準(zhǔn)確? E) 人為讀數(shù)錯(cuò)誤?在用指針式測(cè)量時(shí),由于人為視角誤差或標(biāo)度尺誤差造成示值不準(zhǔn)確? F) 儀表誤差?儀表本身誤差過大,需要重新校對(duì)? (如主變),指針顯示阻值在某一區(qū)間突然跌落(不是正常測(cè)試時(shí)的最大值區(qū)間內(nèi)的緩慢小幅擺動(dòng)),快速來回?cái)[動(dòng),是什么原因? 造成該現(xiàn)象主要是試驗(yàn)系統(tǒng)內(nèi)某部位出現(xiàn)放電打火? 絕緣表向容性被測(cè)試品充電中,當(dāng)容性試品被充至一定電壓時(shí),如果儀表內(nèi)部測(cè)試線或被測(cè)試品中任一部位有擊穿放電打火,就會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象? 判別辦法: (1)儀表測(cè)試座不接入測(cè)試線,開啟電源和高壓,看儀表內(nèi)是否有打火現(xiàn)象發(fā)生(若有打火可聽到放電打火聲)? (2)接上L?G?E測(cè)試線,不接被測(cè)試品,L測(cè)試線末端線夾懸空,開啟高壓,看測(cè)試導(dǎo)線是否有打火現(xiàn)象發(fā)生?若有打火現(xiàn)象,則檢查:a)L?G測(cè)試線芯線(L端)與裸露在外的線(G端)是否過近,產(chǎn)生拉弧打火?b)L端芯線插頭與測(cè)試座屏蔽環(huán)或測(cè)試夾子與被測(cè)試品接觸不良造成打火?c)測(cè)試線與插頭?夾子之間虛焊斷路,造成間隙放電? (3)接入被測(cè)試品,檢查末端線夾與試品接觸點(diǎn)附近有無放電打火? (4)排除以上原因,接好被測(cè)試品,開啟高壓,若儀表仍有上述現(xiàn)象則說明被測(cè)試品絕緣擊穿造成局部放電或拉弧? ? 由于高壓測(cè)試電源非理想電壓源,內(nèi)阻Ri不同測(cè)量回路串接電阻Rm不同,動(dòng)態(tài)測(cè)量準(zhǔn)確度不同,以及現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量操作的不合理或失誤等,不同型號(hào)對(duì)同一被測(cè)試品的測(cè)量結(jié)果會(huì)存在差異?實(shí)際測(cè)量時(shí),應(yīng)結(jié)合絕緣試驗(yàn)條件的特殊性盡量降低
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