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三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的使用及環(huán)境畢業(yè)論文-全文預(yù)覽

2025-07-10 20:38 上一頁面

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【正文】 半徑公差是用來決定一個(gè)圓形特征的尺寸是不是位于指定的范圍內(nèi)。 平均距離是兩個(gè)幾何特征間純幾何中心的測(cè)量距離。距離公差的 名義公差必須定義,而構(gòu)成該距離的兩個(gè)特征的名義值則不是必須的。測(cè)頭跑完后,開始拉報(bào)告,查看報(bào)告,第一次側(cè)量時(shí),看數(shù)據(jù)是否在誤差范圍內(nèi),+。 圖1 讀取IC 圖2 建立檔案 圖3 檢測(cè)滑塊 圖4 檢測(cè)模仁 圖5 校正模仁 測(cè)量報(bào)告制作測(cè)量的最終目的就是得到應(yīng)有的數(shù)據(jù)進(jìn)行修理達(dá)到想要的效果。模仁分為公模仁和母模仁。 點(diǎn)的測(cè)量主要體現(xiàn)在測(cè)量電極,測(cè)量四條邊,每條邊測(cè)四個(gè)點(diǎn),測(cè)量精確。點(diǎn)的個(gè)數(shù)會(huì)在測(cè)完 后累加起來;一個(gè)在測(cè)量過程中可以進(jìn)行參數(shù)選擇的測(cè)量參數(shù)選項(xiàng)區(qū)。如在圓球上銑平面需限制1個(gè)自由度,在圓柱上銑平面需限制2個(gè)自由度。不允許:如果工件的定位面為沒有經(jīng)過機(jī)械加工的毛坯面,或雖經(jīng)過了機(jī)械加工、但仍然很粗糙,這時(shí)過定位是不允許的。稱作不完全定位從上面幾例分析總結(jié)可知:①工件在夾具中定位,可以歸結(jié)為在空間直角坐標(biāo)系中用定位元件限制工件自度的方法來分析;②工件定位時(shí),應(yīng)限制的自由度數(shù)目,主要由工件工序加工要求確定;③一般講,工件定位所選定位元件限制自由度的數(shù)目充其量≯6;④各定位元件限制的自由度原則上不允許重復(fù)或干涉(見下面相關(guān)內(nèi)容分析);⑤限制了理論上應(yīng)該限制的自由度,使一批工件定位位置一致。一個(gè)物體在空間可以有六個(gè)獨(dú)立的運(yùn)動(dòng),若采用6個(gè)按一定規(guī)則布置的約束點(diǎn),就可以限制工件的6個(gè)自由度,實(shí)現(xiàn)完全定位,稱為六點(diǎn)定位原理。當(dāng)接觸的工件上的點(diǎn)、線、面為回轉(zhuǎn)面、對(duì)稱面時(shí),稱回轉(zhuǎn)面、對(duì)稱面為定位基面,其回轉(zhuǎn)面、對(duì)稱面的中心線稱定位基準(zhǔn)。 所以, 有的指向允許空連接。一般可分為兩種情況: ?(1) 校驗(yàn)球沒有被移動(dòng): 如若第一組測(cè)針全部校驗(yàn)完畢后,機(jī)器沒有斷電重啟過,并且校驗(yàn)球也沒有被移動(dòng),那么,在進(jìn)行新的測(cè)頭組件校驗(yàn)時(shí),只要按程序回答校驗(yàn)球沒有被移動(dòng),直接選擇自動(dòng)方式進(jìn)行新的測(cè)頭校驗(yàn)即可; (2)校驗(yàn)球已經(jīng)被移動(dòng)或斷電重啟過: 如若第一組測(cè)針全部校驗(yàn)完畢后,機(jī)器曾經(jīng)斷電重啟過,即便校驗(yàn)球也沒有被移動(dòng)過,在進(jìn)行新的測(cè)頭組件校驗(yàn)時(shí),一律視同校驗(yàn)球已被移動(dòng),因?yàn)?,斷電或多或少使機(jī)器存在一定的零點(diǎn)漂移誤差。 在追加新的測(cè)頭校驗(yàn)前,必須在當(dāng)前使用的測(cè)針組中先選擇其中一個(gè)測(cè)針(T1)在新位置校驗(yàn)球上重新進(jìn)行一次再標(biāo)定(回答球已動(dòng)),這是保證新舊校驗(yàn)測(cè)針連接的關(guān)鍵。 測(cè)頭的檢驗(yàn)技巧測(cè)頭校正對(duì)所定義測(cè)頭的有效直徑及位置參數(shù)進(jìn)行測(cè)量的過程。 選擇“調(diào)用”按鈕,此時(shí) MWorksDMIS 軟件將出現(xiàn)如下界面。圖37 選擇“確定”按鈕,MWorksDMIS 軟件將進(jìn)入校驗(yàn)基準(zhǔn)球部分。然后內(nèi)存中自動(dòng)創(chuàng)建一個(gè)新測(cè)頭文件并 生成測(cè)針“S1”作為當(dāng)前測(cè)針。利用“測(cè)頭系統(tǒng)”菜單中的“創(chuàng) 建測(cè)頭文件”選項(xiàng),我們可以十分快捷的配置測(cè)頭系統(tǒng)。如果測(cè)針的 定義語句已“校準(zhǔn)”結(jié)束,你可以重新校準(zhǔn)選擇的測(cè)針。該窗口中會(huì)將上一步中添加的所有測(cè)針全部列出,在列表框中鼠標(biāo)左鍵單擊選中需要校 驗(yàn)的測(cè)針(此時(shí)被選中的測(cè)針會(huì)以深藍(lán)色背景顯示,圖 35)按鈕退出。該窗口中的 X、Y、Z 數(shù)值直接采用默認(rèn)數(shù)值,“直徑”欄中填寫測(cè)針測(cè)球的直徑數(shù) 值,按“確認(rèn)”按鈕,彈出主測(cè)針設(shè)置窗口,在“直徑”欄中填寫主測(cè)針測(cè)球的直徑數(shù)值(與上一步填寫的數(shù)值保持一致),按“確 認(rèn)”按鈕,彈出測(cè)量基準(zhǔn)球?qū)υ捒颍ㄈ鐖D 33),此時(shí)我們手動(dòng)測(cè)量基準(zhǔn)球,以得到當(dāng)前基準(zhǔn) 球在機(jī)器坐標(biāo)系中的位置,為下一步校驗(yàn)測(cè)針提供基準(zhǔn)。3. 1 分步式配置測(cè)頭系統(tǒng)選擇下拉菜單中的“測(cè)頭系統(tǒng)”選項(xiàng)開始測(cè)頭系統(tǒng)的配置,首先選擇“定義基準(zhǔn)球”選 項(xiàng),彈出定義基準(zhǔn)球直徑的窗口,如圖 31 所示: 圖31 定義基準(zhǔn)球在該窗口中,我們需要輸入基準(zhǔn)球的直徑。第三章 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭系統(tǒng)配置三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)本身沒有任何可用于測(cè)量的測(cè)頭信息文件,在測(cè)量之前,需要對(duì)測(cè)頭長(zhǎng)度、 方向以及測(cè)頭直徑等信息進(jìn)行定義和校驗(yàn),這些文件信息可以由 MWorksDMIS 軟件保 存??偨Y(jié):我們大家都知道,測(cè)頭的補(bǔ)償原理:在實(shí)際測(cè)量時(shí),實(shí)際數(shù)據(jù)返回的是紅寶石中心的位置,與實(shí)際測(cè)量的點(diǎn)差一個(gè)測(cè)頭半徑值,這時(shí)軟件會(huì)在其矢量運(yùn)動(dòng)方向補(bǔ)償測(cè)頭的半徑,得到實(shí)際值。操作方法:以此點(diǎn)擊菜單“插入——坐標(biāo)系——新建” ,將打開坐標(biāo)系功能對(duì)話框選擇采集的平面進(jìn)行平面找正,在“找正”按鈕左側(cè)下拉框選擇 Z 正,點(diǎn)擊 “找正”按鈕。算術(shù)表達(dá)式包括三角函數(shù)功能和在程序中定義的 變量和指定值。 2. 2 坐標(biāo)系的旋轉(zhuǎn)、平移、清零與轉(zhuǎn)換一.坐標(biāo)系旋轉(zhuǎn)“旋轉(zhuǎn)”功能是根據(jù)輸入的數(shù)值來旋轉(zhuǎn)當(dāng)前坐標(biāo)系三個(gè)軸中的任何一個(gè)。測(cè)量的平面可以作為所建坐標(biāo)系的任意工作平 面,即 XY、YZ、ZX 平面均可;測(cè)量的直線可以作為 X、Y、Z 三軸中的任意一軸;而測(cè)量的 點(diǎn)可以作為坐標(biāo)系的原點(diǎn),這樣用戶坐標(biāo)系便建立起來。 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的運(yùn)動(dòng)控制包括單軸伺服控制和多軸聯(lián)動(dòng)控制。早期的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)以手 動(dòng)型和機(jī)動(dòng)型為主,其測(cè)量是由操作者直接手動(dòng)或通過操縱桿完成各個(gè)點(diǎn)的采樣,然后在計(jì)算 機(jī)中進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。(二)測(cè)頭附件 為了擴(kuò)大測(cè)頭功能、提高測(cè)量效率以及探測(cè)各種零件的不同部位,常需為測(cè)頭配置各種附件,如測(cè)端、探針、連接器、測(cè)頭回轉(zhuǎn)附件等。一.標(biāo)尺系統(tǒng)標(biāo)尺系統(tǒng)是用來度量各軸的坐標(biāo)數(shù)值的,目前三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上使用的標(biāo)尺系統(tǒng)種類很多,它們與在各種機(jī)床和儀器上使用的標(biāo)尺系統(tǒng)大致相同,按其性質(zhì)可以分為機(jī)械式標(biāo)尺系統(tǒng)(如精密絲杠加微分鼓輪,精密齒條及齒輪,滾動(dòng)直尺)、光學(xué)式標(biāo)尺系統(tǒng)(如光學(xué)讀數(shù)刻線尺, 光學(xué)編碼器,光柵,激光干涉儀)和電氣式標(biāo)尺系統(tǒng)(如感應(yīng)同步器,磁柵)。非接觸式測(cè)量是指利用工業(yè) CCD 鏡頭或激光對(duì)物體表面進(jìn)行測(cè)量從而獲得物體三維坐標(biāo) 信息的測(cè)量工具。從測(cè)量原理上來看, 計(jì)算機(jī)輔助檢測(cè)技術(shù)已經(jīng)由當(dāng)初的接觸式測(cè)量擴(kuò)展到非接觸以及復(fù)合式測(cè)量。自上世紀(jì)七十年代以來,計(jì)算機(jī)輔助工程技術(shù)獲得了迅猛的發(fā)展。這種檢測(cè)方式的優(yōu)點(diǎn)是成本低、檢測(cè)方便、易學(xué)易用,但缺點(diǎn)是檢測(cè)精度不 高、檢測(cè)效率低、對(duì)于復(fù)雜零件的檢測(cè)無能為力。經(jīng)過近幾十年的發(fā)展,計(jì)算機(jī)輔助檢測(cè)系統(tǒng)已經(jīng)發(fā)生了很大的變化。接觸式測(cè)量的典型產(chǎn)品是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量系統(tǒng)和控制系統(tǒng) 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 控制系統(tǒng) 測(cè)量系統(tǒng)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量系統(tǒng)由標(biāo)尺系統(tǒng)和測(cè)頭系統(tǒng)構(gòu)成,它們是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的關(guān)鍵組成部 分,決定著三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量精度的高低。二、測(cè)頭系統(tǒng)(一)測(cè) 頭 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是用測(cè)頭來拾取信號(hào)的,因而測(cè)頭的性能直接影響測(cè)量精度和測(cè)量效率,沒有先進(jìn)的測(cè)頭就無法充分發(fā)揮測(cè)量機(jī)的功能。二、控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)按自動(dòng)化程度分類,坐標(biāo)測(cè)量機(jī)分為手動(dòng)型、機(jī)動(dòng)型和 CNC 型。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量 進(jìn)給與數(shù)控機(jī)床的加工進(jìn)給基本相同,但其對(duì)運(yùn)動(dòng)精度、運(yùn)動(dòng)平穩(wěn)性及響應(yīng)速度的要求更高?!?41 —第二章 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)坐標(biāo)系的建立與變換 坐標(biāo)系的建立傳統(tǒng)方法建立坐標(biāo)系是首先測(cè)量一個(gè)平面,再測(cè)量一條直線和一個(gè)點(diǎn),然后利用“坐標(biāo) 系”下拉菜單中的“校準(zhǔn)”選項(xiàng)建立坐標(biāo)系。 在零件左端面測(cè)量1個(gè)點(diǎn)設(shè)定原點(diǎn)。平 移量可以給定,或者在“表達(dá)式”框中選擇。
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