測(cè)井技術(shù)方法及資料解釋教程-全文預(yù)覽
【正文】 密度校正曲線 CORR和井徑曲線 167。 有機(jī)碳分析及生油巖評(píng)價(jià)。 計(jì)算泥質(zhì)含量。 4ppm 167。 曲線變化形態(tài)與巖性剖面吻合 。 自然伽馬曲線的統(tǒng)計(jì)起伏 167。 統(tǒng)計(jì)起伏。 自然伽馬和自然伽馬能譜測(cè)井 巖層中的天然放射性核素 ?衰變 ?伽馬射線 巖性不同 ?放射性核素的種類和數(shù)量不同 ?自然伽馬射線的能量和強(qiáng)度不同 測(cè)量井剖面自然伽馬射線的強(qiáng)度和能譜的測(cè)井方法。 167。 VDL與 CBL曲線有良好的對(duì)應(yīng)關(guān)系 。 曲線不得出現(xiàn)的負(fù)值 。 儀器在自由套管井段進(jìn)行刻度。 固井聲幅及變密度測(cè)井 ?固井聲幅測(cè)井（ CBL） — 水泥膠結(jié)測(cè)井 記錄首波半周幅度，即聲幅曲線。 不能出現(xiàn)連續(xù)干擾信號(hào) 。 聲波全波列測(cè)井 ?特點(diǎn) 全波列波形 記錄全波列數(shù)據(jù) 可以利用縱波、橫波速度信息和幅度信息， 以及斯通利波、偽瑞利波等信息。 測(cè)后有套管聲波時(shí)差記錄 ， 誤差范圍： 187μs ／ m177。 聲速測(cè)井 ?質(zhì)量要求 滲透層不得出現(xiàn)無(wú)關(guān)的跳動(dòng)，出現(xiàn)周波跳躍測(cè)速應(yīng)降至 1000m／ h以下，重復(fù)測(cè)量。 聲速測(cè)井 ?基本原理 聲脈沖發(fā)射器 ?滑行縱波 ?接收器 適當(dāng)源距，使達(dá)到接受器的初至波為滑行縱波。 感應(yīng)測(cè)井 ?應(yīng)用 適合于淡水泥漿、油基泥漿條件，中低阻剖面。 泥巖、非滲透層段，深、中、淺電阻率值應(yīng)基本重合。 167。 lld =140 ??m lls =52 lld/lls= ? =% 裂縫儲(chǔ)層評(píng)價(jià) 167。 167。 雙側(cè)向電極系和電流分布圖 167。 側(cè)向（聚焦）測(cè)井 ?雙側(cè)向測(cè)井 DLL 深淺側(cè)向同時(shí)測(cè)量，分別用 36Hz和230Hz的電流供電。 普通電阻率測(cè)井 ?微電極測(cè)井應(yīng)用 詳細(xì)劃分地層剖面； 判斷巖性，劃分滲透層； 精確劃分儲(chǔ)層有效厚度； 確定沖洗帶電阻率。 適用條件：井徑 1040cm范圍。 167。 短電極的電位曲線用于跟蹤井壁取心。多數(shù)地區(qū)選用 作為標(biāo)準(zhǔn)電極系。 梯度曲線 電位曲線 167。 底界面附近：底部梯度曲線 出現(xiàn)極大值。 167。 曲線平滑，干擾幅度小于 。 ?曲線質(zhì)量要求 泥巖基線穩(wěn)定， 100m井段基線偏移不超過(guò) 10mV。 自然電位測(cè)井 碳酸鹽巖地層 孔隙和裂縫發(fā)育段、致密段與鄰近 泥巖比較，有不同程度的小幅度負(fù)異常。 砂巖與泥巖的自然電位分布 擴(kuò)散 — 吸附電位 ： 純砂巖 mV/18 ?C 純泥巖 mV /18 ?C 過(guò)濾電位（一般可忽略） ： 泥漿柱與地層之間存在壓差時(shí)，液體發(fā) 生過(guò)濾作用產(chǎn)生的。 測(cè)井面臨的難題 二、工程方面 超飽和鹽水泥漿測(cè)井 惡劣井眼環(huán)境測(cè)井 水平井測(cè)井 測(cè)井方法簡(jiǎn)介 ?電法測(cè)井 ?聲波測(cè)井 ?放射性測(cè)井 ?測(cè)井系列選擇 167。 要全面認(rèn)識(shí)地下地質(zhì)面貌 ， 發(fā)現(xiàn)和評(píng)價(jià)油氣層 ， 需要綜合使用多種測(cè)井方法 ， 并重視鉆井 、錄井第一性資料 。 ? 測(cè)井方法眾多 。 是利用巖層的 電化學(xué)特性 、 導(dǎo)電特性 、 聲學(xué)特性 、放射性 等地球物理特性 ， 測(cè)量 地球物理參數(shù) 的方法 。 ? 各種測(cè)井方法基本上是間接地 、 有條件地反映巖層地質(zhì)特性的某一側(cè)面 。 復(fù)雜巖性裂縫性油氣層 非均質(zhì)性和各向異性特別嚴(yán)重 一、測(cè)井解釋面臨的難題 碳酸鹽巖裂縫性油氣層 非均質(zhì)性和各向異性特別嚴(yán)重 低孔隙低滲透致密砂巖油氣層。 自然電位測(cè)井 ?自然電位成因 一般由地層和泥漿之間 電化學(xué) 作用和 動(dòng)電學(xué) 作用產(chǎn)生的。 自然電位測(cè)井 ?曲線特點(diǎn) 砂泥巖剖面： 泥巖處 SP曲線平直（基線） 砂巖處 負(fù)異常（ Rmf Rw ) 負(fù)異常幅度 與粘土含量成反比， Rmf / Rw 成正比 碳酸鹽巖剖面 高阻致密層處 曲線傾斜 高阻致密層自然電位曲線形狀示意圖 167。 自然電位測(cè)井 ?其他影響因素： 淡水層幅度變小； 水淹層的幅度和基線發(fā)生變化； 泥漿含有某些化學(xué)或?qū)щ娢镔|(zhì)； 地面電場(chǎng)的干擾 。 與巖性剖面有對(duì)應(yīng)性。 自然電位測(cè)井 應(yīng)用： 判斷巖性，劃分滲透層； 用于地層對(duì)比； 求地層水電阻率； 估算地層泥質(zhì)含量； 判斷水淹層； 研究沉積相。 普通電阻
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