【正文】 小預測時間制程中有特殊原因的變異制程中有特殊原因的變異 突破創(chuàng)新 β risk）） 管制界限 α值177。 4σ%%%6/103%平均值移動 β 1—β 值177。 4σ%%%%%%%%突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制管制圖的應用管制圖的應用 決定管制項目決定管制標準決定抽樣方法選用管制圖的格式記入管制界限繪點、實施重新檢討管制圖處置措施 管制圖判讀 OKOKNG突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制建立 XR圖 的步驟 AＡ階段收集數(shù)據(jù)A1選擇 子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組頻率子組數(shù)大小A2建立控制圖及記錄原始記錄A3計 算每個子組的均值 X和極差 RA4選擇 控制圖的刻度A5將 均值和極差書到控制圖上突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制Ｂ計算控制限 B1計 算平均極差及過程平均值B2計 算控制限B3在控制圖上作出平均值和 極差控制限的控制線建立 XR圖 的步驟 B突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制控制圖的判讀n 鏈 ：有下列現(xiàn)象之一即表明過程已改變n 連續(xù) 7點位于平均值的一側n 連續(xù) 7點上升 (后點等于或大于前點 )或下降。 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制Case study1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 141 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 722 68 75 73 74 78 74 72 74 78 76 74 76 75 793 68 77 96 75 78 71 73 75 77 75 76 77 75 804 69 79 95 72 80 72 71 76 72 75 77 72 72 7815 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 281 75 74 70 62 74 78 80 80 72 55 70 73 72 732 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 723 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 744 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 76突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制 CPK（穩(wěn)定的過程）（穩(wěn)定的過程） /PPK（不穩(wěn)定的過程）（不穩(wěn)定的過程） 制程能力要求制程能力要求 CPK大于或等于大于或等于 ；； PPK大于或等于大于或等于 能力不足或不穩(wěn)定時應、能力不足或不穩(wěn)定時應 100% 全檢并執(zhí)行反應計劃全檢并執(zhí)行反應計劃能力過高時（、能力過高時（ CPK/PPK大于或等于大于或等于 3）應修改）應修改 CP突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制群體平均值 =μ標準 差 =σ對 σ的估計群體標準差的估計突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制X—R 管制圖（平均值與全距）管制圖（平均值與全距）公、公 式：式： （（ 1）） X 管制圖管制圖 （（ 2）） R 管制圖管制圖 CL = X CL = R UCL = X + A2 R UCL = D4 R LCL = X A2 R LCL = D3 R實、實 例例 某工廠制造一批紫銅管，應用某工廠制造一批紫銅管，應用 XR管管 制圖來控制其內徑，尺寸單位為制圖來控制其內徑，尺寸單位為 m/m， 利用下頁數(shù)據(jù)表之資料，求得其管制利用下頁數(shù)據(jù)表之資料，求得其管制 界限并繪圖。 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制X—R 繪繪 圖圖 步步 驟驟將每樣組之 X 與 R 算出記入數(shù)據(jù)表內。 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制不良和缺陷的說明結 果 舉 例 控制 圖車輛 不泄漏／泄漏 P圖NP圖燈 亮／不亮孔的直 徑 尺寸太小或太大約銷 售商 發(fā) 的 貨 正 確 ／不正 確風 窗玻璃上的 氣 泡 C圖U圖門 上油漆缺陷發(fā) 票上的 錯誤突破創(chuàng)新 ? 分組頻率：應根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制A3選擇 控制圖的坐標刻度? 描繪數(shù)據(jù)點用的圖應將不合格品率作為從坐標，子組識別作為橫坐標。? 當點描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點比別的高出或低出許多，檢查計算是否正確。 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制計 算平均不合格率及控制限突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制Ｄ過程能力解釋D1計 算過程能力D2評價過 程能力D3改進過 程能力D4繪 制并分析修改后的過程控制圖建立 p的步驟 D突破創(chuàng)新 ? 對于過程能力的初步估計值，應使用歷史數(shù)據(jù)，但應剔除與特殊原因有關的數(shù)據(jù)點。 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制Case study組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10“ n”100 150 100 200 150 100 100 200 150 100“ d”1 0 1 3 2 1 0 2 1 0組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20“ n”150 200 100 150 100 100 150 200 200 150“ d”0 1 0 2 0 1 0 2 1 0組 21 22 23 24 25“ n”100 150 200 150 100“ d”0 1 2 0 1突破創(chuàng)新 組別 n d p 組別 n d p 組別 n d p123456789101001001001001001001001001001003438557556111213141516171819201001001001001001001001001001003685236275212223242510010010010010058454合計 2500 125平均 100 突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制SPC 應用之困難應用之困難少量多樣之生產(chǎn)型態(tài)，不能管制。欠缺統(tǒng)計技術。突破創(chuàng)新