測(cè)繪產(chǎn)品檢查驗(yàn)收內(nèi)容介紹(文件)
【正文】 位產(chǎn)品的缺陷值分類（ 4） 地籍測(cè)量*、地籍控制測(cè)量*、地籍要素測(cè)量*、地籍簿、冊(cè)*、地籍圖 ５ 單位產(chǎn)品的缺陷值分類（ 5） 地圖制印與印刷*、普通地圖的編繪原圖、印刷原圖*、專題地圖的編繪原圖、印刷原圖*、地圖集*、印刷成品檢驗(yàn)方法**控制測(cè)量產(chǎn)品的檢測(cè)*對(duì)抽取樣本中的成果精度、觀測(cè)質(zhì)量、資料質(zhì)量進(jìn)行內(nèi)業(yè)抽樣分析檢驗(yàn)和審核檢驗(yàn) 記錄檢驗(yàn)出的問題*檢測(cè)精度、點(diǎn)位質(zhì)量進(jìn)行外業(yè)抽樣檢驗(yàn)檢測(cè)精度以不低于所測(cè)項(xiàng)目原精度 角度 邊長(zhǎng) 坐標(biāo) 如原測(cè)成果進(jìn)行比較統(tǒng)計(jì) 中誤差 M *標(biāo)石野外巡視檢測(cè)，根據(jù)完好率求 β=（完好標(biāo)石數(shù) /抽查標(biāo)石總數(shù) n） 100% **根據(jù)以上檢測(cè)的情況，統(tǒng)計(jì)缺陷類別和總數(shù)，按前面 a=100{Σ[12/（ w/s） ]+Σ[1/（ w/s） ]} 計(jì)算得分值檢驗(yàn)方法**地形測(cè)量產(chǎn)品的檢測(cè)（ 1）*a 圖根控制測(cè)量產(chǎn)品的檢測(cè)（同前）*b 數(shù)學(xué)精度的檢測(cè)*（ 1）測(cè)站點(diǎn)精度的檢測(cè) *用方眼尺，數(shù)字化儀等求出與理論值之差 Δ*（ 2）平面和高程精度的檢測(cè) [1] 外業(yè)散點(diǎn)法 [2] 內(nèi)業(yè)加密樁點(diǎn)法 檢驗(yàn)方法**地形測(cè)量產(chǎn)品的檢測(cè)（ 2）**（ 3） 數(shù)學(xué)基礎(chǔ)的檢測(cè) 用方眼尺、日內(nèi)瓦尺等量取數(shù)學(xué)基礎(chǔ)各項(xiàng)實(shí)際值與理論值之差*c 綜合精度的檢測(cè) （ 1）地理精度的檢測(cè) [1]室內(nèi)判釋 [2]野外巡視 （ 2） 整飾精度的檢測(cè)**檢測(cè)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和處理數(shù)據(jù)處理規(guī)則 *、檢測(cè)數(shù)據(jù)的有效位應(yīng)與有關(guān)規(guī)定相一致 **、誤差計(jì)算（算術(shù)平均值、中誤差） 檢測(cè)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和處理 *、高精度檢測(cè)時(shí) M=177。 測(cè)繪產(chǎn)品的缺陷分那幾類？l SQRT([ΔΔ]/2n) M—— 中誤差 n—— 檢測(cè)點(diǎn)數(shù) Δ—— 角度、邊長(zhǎng)或坐標(biāo)較差思考題l **工程測(cè)量中高程控制測(cè)量的缺陷分類（ 2）**重缺陷*標(biāo)石質(zhì)量差，外觀修飾不規(guī)整；*點(diǎn)之記、路線圖繪制錯(cuò)漏較多；*儀器檢驗(yàn)項(xiàng)目不全，檢驗(yàn)結(jié)果有輕微不符合要求；*各項(xiàng)誤差有 50%以上大于限差的 1/2；*觀測(cè)條件掌握不嚴(yán)；*成果取舍、重測(cè)不合理；*電子記錄輸出格式不符合要求；**工程測(cè)量中高程控制測(cè)量的缺陷分類（ 3）*高差改正項(xiàng)目不全；*計(jì)算錯(cuò)誤，對(duì)結(jié)果影響較大；*上交成果資料不完整；*其他嚴(yán)重的差錯(cuò)、漏。C、質(zhì)量等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)優(yōu)級(jí)品 N=90 100良級(jí)品 N=75 89合格品 N=60 74不合格品 N=0 59 四 2檢驗(yàn)批質(zhì)量判定*、本技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)檢驗(yàn)批的質(zhì)量無相關(guān)規(guī)定；**、可參照《工程測(cè)量產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督抽檢實(shí)施細(xì)則》***、可參照《測(cè)繪產(chǎn)品檢查驗(yàn)收規(guī)定》報(bào)批稿5 單位產(chǎn)品的缺陷值分類（ 1）測(cè)繪產(chǎn)品的缺陷值分為嚴(yán)重缺陷、重缺陷、輕缺陷、*、大地測(cè)量*、水準(zhǔn)測(cè)量*、天文測(cè)量*、重力測(cè)量*、電磁波測(cè)距*、 GPS測(cè)量*、大地測(cè)量計(jì)算 5 單位產(chǎn)品的缺陷值分類（ 2） 地形測(cè)量*、航空攝影*、航外控制測(cè)量*、航外調(diào)繪*、航測(cè)原圖*、影像平面圖*、平板儀測(cè)圖 **平板儀測(cè)圖的缺陷分類（ 1）*嚴(yán)重缺陷A、圖名圖號(hào)注記同時(shí)錯(cuò)漏或 2處以上經(jīng)緯
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