降低光纖接頭熔接損耗的方法(文件)
【正文】 施工中常發(fā)現(xiàn)熔接時(shí)，在1550nm窗口下測得的熔接損耗值符合要求，但封好接線包后復(fù)測接頭處損耗的值卻偏大，這通常是由光纖接頭位置錯(cuò)動(dòng)引起的，此時(shí)可改在1310nm窗口復(fù)測，若測量值偏小則是光纖接頭位置錯(cuò)動(dòng)，須重新盤繞光纖余長，若偏大則是熔接問題，須重新熔接，為避免這種現(xiàn)象，須用不干膠帶將光纖接頭和光纖余長牢固地固定在儲(chǔ)纖盤板上。熔接機(jī)使用完畢后須除去機(jī)器外殼上的灰塵，若在潮濕環(huán)境中使用還須對其做防潮處理。只要針對影響光纖接頭熔接損耗的各種不良因素綜合采取文中所述各種措施就能最大程度地降低熔接損耗，從而使光纖CATV具有高質(zhì)量的光纜傳輸線路，為有線電視臺(tái)今后開展數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)和實(shí)現(xiàn)光纖到家提供良好基礎(chǔ)。使用時(shí)間較長的熔接機(jī)電極上面會(huì)有一層灰垢導(dǎo)致放電電流偏大而使熔接損耗值增大，此時(shí)可拆下電極，用酒精棉輕輕擦試后再裝到熔接機(jī)上并放電清洗一次，若多次清洗后放電電流仍偏大，則須重新更換電極；此外，就是要挑選防塵能力強(qiáng)適合在野外作業(yè)的熔接機(jī)來熔接光纖。 （6）熔接機(jī)及切割刀具等對光纖熔接損耗也有較大影響，熔接時(shí)要根據(jù)光纖類型正確合理地設(shè)置熔接參數(shù)，諸如預(yù)熔電流、預(yù)熔時(shí)間及主熔電流、主熔時(shí)間等。將光纖放置到熔接機(jī)的V型槽中時(shí)動(dòng)作要輕巧，這是因?yàn)閷w芯直徑10 Pm的單模光纖而言， Pm。盤繞在接線包儲(chǔ)纖盤上的光纖余長應(yīng)不小于60cm，盤繞的圓圈半徑要盡可能大，接續(xù)時(shí)若同一根光纖上前一個(gè)接頭的熔接損耗為負(fù)值，則緊接著的后邊一個(gè)接頭的熔接損耗值可大些，若前邊接頭的熔接損耗值較大，則緊接著的后邊一個(gè)接頭的熔接損耗值須較小或?yàn)樨?fù)值，為避免光纜端部的光纖受損而影響熔接損耗，在做光纜熔接準(zhǔn)備工作時(shí)可把光纜頭部多截去一些。根據(jù)筆者實(shí)踐及有關(guān)資料介紹，建議可采取如下措施來降低光纖接頭的熔接損耗。3影響光纖接頭熔接損耗的主要因素 光纖熔接損耗的影響因素可分為本征因素和非本征因素。遠(yuǎn)端環(huán)回雙向監(jiān)測法即是將光線內(nèi)的光纖臨時(shí)作環(huán)接構(gòu)成回路，從而可對光纖接頭進(jìn)行雙向測量，避免了單向測量不能及時(shí)獲得熔接損耗值的缺點(diǎn)，這種測量方法要求OTDR的儀器測量距離范圍要大，但因測量方法過于復(fù)雜因而只適用于12芯以下
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