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簡述電子顯微鏡的發(fā)展史、原理及其應(yīng)用(文件)

2025-09-05 16:49 上一頁面

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【正文】 ;試樣在樣品室中可動的自由度非常大;焦距景深大,圖像立體感很強(qiáng);放大倍數(shù)的可變范圍很寬,且不用經(jīng)常對焦等[3][4]。針對這些問題,許多科學(xué)家已經(jīng)展開了深入的研究,相信在不久的將來,電子顯微鏡將翻開它嶄新的一頁。當(dāng)然,任何事物都具有雙面性,例如,電子顯微鏡由于其價(jià)格的昂貴而不能得到普及。 掃描式電子顯微鏡(SEM)是以電子束作為照明源,把聚焦的很細(xì)的電子束以光柵狀掃描方式照射到試樣上,產(chǎn)生各種同式樣性質(zhì)有關(guān)的信息,然后加以搜集和處理,從而獲得微觀形貌放大的一種顯微鏡。如果樣品太厚或太密,則像的對比度就會惡化,甚至吸收電子束的能量而被損傷或破壞。 透射式電子顯微鏡(TEM)是觀察和分析材料的形貌、組織和結(jié)構(gòu)的有效工具。它的波長遠(yuǎn)小于可見光波,因此,電子顯微鏡的放大倍數(shù)和分辨率都遠(yuǎn)高于光學(xué)顯微鏡。二、電子顯微鏡的原理 電子顯微鏡是根據(jù)電子光學(xué)原理,用電子束和電子透鏡代替光束和光學(xué)透鏡,使物質(zhì)的細(xì)微
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