【正文】
版社,2005.8 National Instruments User Manual[M].2000.9 National Instruments Corporation. Using External Code in LabVIEW[M]. 2000.10 National Instruments Corporation. Using DDE in LabVIEW[M].2000.11 張小龍,馮能蓮,李紅志,等. LabVIEW中多設(shè)備數(shù)據(jù)共享方法對(duì)比研究[J]. 工業(yè)儀表與自動(dòng)化裝置,2008(6):1216.Title Design of data acquisition program based on LabVIEWAbstractThis labVIEW platform is designed to make use of National Instruments and the United States and its expansion cRIO 9012 data acquisition card collection and data p rocessing. Data acquisition, including analog and digital signal acquisition, the sampling mode and sampling frequency setting, data read, display and preser vation。張老師對(duì)我的設(shè)計(jì)給予了關(guān)心和指導(dǎo),對(duì)于論文的形成自始自終都予以關(guān)注和督促,謝謝!對(duì)于此設(shè)計(jì),因?yàn)橐玫絃abVIEW而在這之前我們沒接觸過的此軟件,所以張老師為了讓我們能盡快的入門,他幫我找了一個(gè)研究生的學(xué)長(zhǎng)帶著我學(xué)習(xí),在郭老師的直接指導(dǎo)下,我系統(tǒng)的學(xué)習(xí)了這個(gè)軟件的基本用法,為接下來的設(shè)計(jì)鋪平了道路,所以對(duì)于郭老師對(duì)我此前的指導(dǎo)幸勞說聲謝謝。通過本設(shè)計(jì),深刻的認(rèn)識(shí)到了虛擬儀器技術(shù)是儀器發(fā)展的重要發(fā)展方向。結(jié) 論本設(shè)計(jì)在研究虛擬儀器技術(shù)的基礎(chǔ)上,使用虛擬儀器技術(shù)實(shí)現(xiàn)了多通道數(shù)據(jù)采集程序。圖17數(shù)據(jù)采集主程序圖18數(shù)據(jù)采集主程序前面板 試驗(yàn)結(jié)果及其分析圖19側(cè)向加速度波形圖由以上測(cè)得數(shù)據(jù)可知,汽車在穩(wěn)態(tài)回轉(zhuǎn)試驗(yàn)中,它的側(cè)向加速度ay在轉(zhuǎn)向時(shí)先是有段時(shí)間保持在小范圍的波動(dòng)的,然后沿著反向開始不斷加速,接著在反向加速到一定值時(shí),再轉(zhuǎn)為正向加速后又回到小范圍的波動(dòng)。[10]4 構(gòu)建測(cè)試方法和給出測(cè)試結(jié)果 測(cè)試方法為了驗(yàn)證設(shè)計(jì)的程序的可行性和實(shí)用性,我在張老師的指導(dǎo)下,在北京交通部交通實(shí)驗(yàn)場(chǎng)用NI設(shè)備做了汽車穩(wěn)態(tài)回轉(zhuǎn)實(shí)驗(yàn)(圖14)。在這些程序還設(shè)計(jì)報(bào)錯(cuò)程序的目的是當(dāng)error in輸入含有錯(cuò)誤的信息時(shí),直接將錯(cuò)誤的信息作為error out輸出,目的是將底層錯(cuò)誤信息無阻礙的傳遞到上層顯示,在數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)中,需要通過打開設(shè)備|讀取數(shù)據(jù)|分析數(shù)據(jù)|顯示數(shù)據(jù)|,所以將error in直接作為while結(jié)構(gòu)的輸入,這樣while結(jié)構(gòu)會(huì)自動(dòng)變成error的判斷結(jié)構(gòu),在調(diào)用含有error out輸出的字vi時(shí),當(dāng)錯(cuò)誤發(fā)生時(shí)若錯(cuò)誤輸出端懸空,就會(huì)自動(dòng)彈出錯(cuò)誤對(duì)話框顯示錯(cuò)誤信息,并詢問是否繼續(xù)運(yùn)行,錯(cuò)誤對(duì)話框除了顯示error out簇中的代碼、錯(cuò)誤源信息外,還會(huì)顯示錯(cuò)誤的可能原因,這對(duì)分析問題非常的重要。 每個(gè)通道均帶一個(gè)下拉電阻,且具有過壓保護(hù)、過流保護(hù)和短路保護(hù)功能。 在內(nèi)部, 32 個(gè)DIO 通道均以COM 端為參考,因此可使用4 根COM 線中的任何一根作為外部信號(hào)的參考。經(jīng)評(píng)測(cè),它可以達(dá)到1,000 Vrms的瞬態(tài)過電壓保護(hù)。5 V和177。我們所用的擴(kuò)展采集卡9205通道數(shù)是32,可以多路復(fù)用,采樣率為250ks/s, NI 9205與CompactRIO底板結(jié)合使用,具有32個(gè)單端的或16個(gè)差分的模擬輸入、16位精度和250 kS/s的最大采樣率。LabVIEWCompactRIO平臺(tái)的牢固性、可靠性和高性價(jià)比。Architecture?后面可以看到怎樣使用采集的VI程序設(shè)置有Buffer及無Buffer的I/O操作,以及設(shè)置觸發(fā)的類型。采集卡等待一個(gè)外部?jī)x器發(fā)出的數(shù)字脈沖到來后初始化采集卡,這是外部觸發(fā)。軟件觸發(fā)最容易,你可以直接用軟件,例如使用布爾面板控制去啟動(dòng)/停止數(shù)據(jù)采集。2) 下列情況可以不使用Buffer I/O:a) 數(shù)據(jù)組短小,例如每秒只從兩個(gè)通道之一采集一個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)。[6]不使用Buffer意味著對(duì)所采集的每一個(gè)數(shù)據(jù)你都必須及時(shí)處理(圖形化、分析等),因?yàn)檫@里沒有一個(gè)場(chǎng)合可以保持你著手處理的數(shù)據(jù)之前的若干數(shù)據(jù)點(diǎn)。例如,你需要采集每秒采集幾千個(gè)數(shù)據(jù),在一秒內(nèi)顯示或圖形化所有數(shù)據(jù)是困難的。[5]圖4是數(shù)據(jù)采集結(jié)構(gòu)示意圖。這種信號(hào)畸變叫做混疊。反過來說,如果給定了采樣頻率,那么能夠正確顯示信號(hào)而不發(fā)生畸變的最大頻率叫做恩奎斯特頻率,它是采樣頻率的一半。圖1 模擬信號(hào)采樣圖如果對(duì)信號(hào)x(t)采集N個(gè)采樣點(diǎn),那么x(t)就可以用下面這個(gè)數(shù)列表示:X={x[0],x[l],x[2],x[3],…,x[N-l]}這個(gè)數(shù)列被稱為信號(hào)x(t)的數(shù)字化顯