【正文】 製 程 水 準(zhǔn) 及 各 品 質(zhì) 特 性 間 的 差 異 ， 提 供 即 時(shí) 且 完 整 的 生 產(chǎn) 管 制 資 訊 。? 可以克服 Spk 指 標(biāo) 無(wú) 法 反 應(yīng) 製 程 偏 移 目 標(biāo) 值 時(shí) 的 製 程 損 失 程 度 。肆、 多品質(zhì)特性 Spk 製程能力分析圖的應(yīng)用為 了 說(shuō) 明 此 一 製 程 能 力 分 析 圖 的 應(yīng) 用 ， 我 們 以 臺(tái) 中 地 區(qū) 一 電 器 廠 的 電 熱 水 瓶 之生 產(chǎn) 為 例 ， 該 產(chǎn) 品 具 有 A、 B、 C、 D 及 E 五 種 望 目 型 態(tài) 的 品 質(zhì) 特 性 ， 且 其 製 程規(guī) 格 皆 不 相 同 。在 實(shí) 務(wù) 應(yīng) 用 上 ， 該 產(chǎn) 品 以 批 量 為 單 位 進(jìn) 行 生 產(chǎn) ， 在 自 動(dòng) 檢 測(cè) 的 環(huán) 境 下 我 們 針 對(duì)生 產(chǎn) 批 量 蒐 集 100 筆 資 料 。 很 顯 然 的 其 製程 能 力 不 足 ， 而 且 製 程 偏 移 目 標(biāo) 值 太 遠(yuǎn) ， 顯 示 該 製 程 出 現(xiàn) 異 常 現(xiàn) 況 。3. 品質(zhì)特性 C： 製 程 指 標(biāo) 值 Spk3 = 落 於 kPL 及 kPU 界 限 外 ， 很 顯 然 的 其製 程 能 力 不 足 ， 其 原 因 為 偏 離 製 程 目 標(biāo) 值 太 遠(yuǎn) ， 應(yīng) 以 製 程 目 標(biāo) 值 為 目 標(biāo)(On target)並 找 尋 可 能 原 因 。綜 合 以 上 各 製 程 分 析 ， 由 個(gè) 別 品質(zhì)特性之 Spk 值 可 知 品質(zhì)特性 A 及 品質(zhì)特性C 很 明 顯 的 製 程 能 力 不 足 且 偏 離 目 標(biāo) 值 過(guò) 遠(yuǎn) ， 特 別 是 品質(zhì)特性 C 其 製 程 水 準(zhǔn) 過(guò)低 。 然 而 整 體 的 製 程 水準(zhǔn) 卻 只 有 ， 遠(yuǎn) 低 於 最 終 產(chǎn) 品 製 程 區(qū) 塊 之 最 小 製 程 良 率 的 要 求 = TpkS TpkS 甚 遠(yuǎn) ， 且 各 品 質(zhì) 特 性 間 的 製 程 變 異 程 度 太 大 。伍 、 結(jié) 論製 程 能 力 指 標(biāo) 是 衡 量 製 程 能 力 與 績(jī) 效 的 有 效 且 方 便 的 工 具 ， 一 般 的 製 程 能 力 指標(biāo) 只 能 分 析 產(chǎn) 品 的 單 一 品 質(zhì) 特 性 之 製 程 規(guī) 格 是 否 達(dá) 到 生 產(chǎn) 的 要 求 ， 然 而 對(duì) 大 部 份 產(chǎn)品 而 言 ， 可 能 同 時(shí) 具 備 數(shù) 個(gè) 雙 邊 規(guī) 格 的 品 質(zhì) 特 性 。 所 以 生 產(chǎn) 者 可 透 過(guò) 上 述 各 種 生 產(chǎn) 管制 訊 息 ， 迅 速 的 瞭 解 各 品 質(zhì) 特 性 的 生 產(chǎn) 水 準(zhǔn) 及 變 異 程 度 ， 以 及 對(duì) 於 最 終 產(chǎn) 品 的 影 響程 度 之 完 整 資 訊 ， 來(lái) 作 為 製 程 管 制 及 改 善 的 重 要 參 考 依 據(jù) 。 Simulation, 23(3), 615643.4. Chan, L. K., Cheng, S. W. and Spiring, F. A. (1998). “A new measure of process capability Cpm,” Journal of Quality Technology, 20(3), 162175.5. Choi, B. C. and Owen, D. B. (1990). “A study of a new capability index ,munications in statistic：Theory and Methods ,19,12311245.6. Kane, V. E. (1986). “Process Capability Indices.” Journal of Quality Technology” , 18(1) , 4152.7. Pearn, W. L., Kotz, S. and Johnson, N. L. (1992). “ Distributional and Inferential Properties of Process Capability Indices,” Journal of Quality Technology , 24(4) , 216231. 8. Pearn, W. L. and Chen, K. S. (1998). “ Multiprocess Performance Analysis: A case Study,” Quality Engineering, 10(1), 18.9. Singhal, S. C. (1991). “ Multiprocess Performance Analysis Chart (MPPAC) with Capability Zones”. Quality Engineering, 4(1), 7581.10. V228。參 考 文 獻(xiàn)1. Bothe, D. R. (1992). “A Capability Study for An Entire Product,” ASQC Quality Congress Transactions ,172178.2. Boyles, R. A. (1991). “The Taguchi capability index,” Communications in Statistic : Computer amp。nnman, 1999]的 方 法 將 各 個(gè) 不 同 製 程 規(guī) 格 的 製 程 偏 移及 製 程 變 異 程 度 予 以 標(biāo) 準(zhǔn) 化 ， 而 將 數(shù) 個(gè) 不 同 品 質(zhì) 特 性 的 指 標(biāo) 值 描 繪 於 多 品 質(zhì) 特 性 產(chǎn)品 製 程 能 力 分 析 圖 上 。2. 必 需 尋 找 品質(zhì)特性 A、 C 及 E 偏 離 製 程 目 標(biāo) 值 的 可 能 原 因 ， 並 提 出 改 善方 案 。 整 體 而 言 只 有 品質(zhì)特性 B 之 製 程 能 力 與製 程 偏 移 在 管 制 界 限 內(nèi) 。5. 品質(zhì)特性 E： 製 程 指 標(biāo) 值 Spk4 = 落 於 kPU 的 製 程 區(qū) 塊 內(nèi) ， 似 乎 已 超 出 合格 產(chǎn) 品 之 品 質(zhì) 要 求 甚 多 。2. 品質(zhì)特性 B： 製 程 指 標(biāo) 值 Spk2 = 落 於 kPL 及 kPU 製 程 區(qū) 塊 內(nèi) ， 並 正 好命 中 目 標(biāo) 值 未 出 現(xiàn) 製 程 偏 離 狀 況 。 再 將 ( dr, dp)代 入 下 列 pkj 式 子 以 求2n1iiX(??? ?C?得 該 批 量 之 各 品 質(zhì) 特 性 的 製 程 能 力 指 標(biāo) 值 如 表 5 所 示 ， 並 將 其 結(jié) 果 繪 於 圖2， 由 圖 中 我 們 可 以 分 析 比 較 其 結(jié) 果 並 給 予 以 下 之 建 議 。 由 於 w = 5， 所 以 我 們 可 由 k0={[ ]/2}/3 的 式 子 計(jì) 算 (或 參 考 附 錄 表 )， 而 得 知 各 單 一 品 質(zhì) 特1??1)k3(2w?性 所 對(duì) 應(yīng) 的 製 程 能 力 區(qū) 塊 應(yīng) 為 ?Spkj?， 其 中 j = 1, 2, …, 5。? 由製程能力分析圖中，可以快速瞭解最終產(chǎn)品的製程能力與水準(zhǔn)。 因此 我 們 可 以 將 實(shí) 際 各 製 程 所 得 到 數(shù) 據(jù) 計(jì) 算 出 Cdr 及 Cdp?值 將 之 描 繪 於 圖 上 ， 更可 由 此 (Cdr, Cdp)二 維 座 標(biāo) 點(diǎn) 位 置 衡 量 出 該 製 程 的 Spk 指 標(biāo) 值 及 其 製 程 良 率 ， 及迅 速 判 斷 出 各 製 程 的 生 產(chǎn) 水 準(zhǔn) 是 否 已 偏 離 管 制 範(fàn) 圍 。I3 177。 舉 例而 言 ， 圖 1 中 品 質(zhì) 特 性 A 的 Cdr 座 標(biāo) 值 對(duì) 於 製 程 中 心 的 偏 移 量 為 ， 由 圖 中可 知 其 製 程 偏 移 已 超 出 3???偏 移 量 。 因 此 我 們 也 參 考 [Noguera, 1992]文 中 所提 有 關(guān) Motorola 所 制 訂 的 允 許 製 程 偏 移 量 ， 並 依 此 建 立 製 程 偏 移 管 制 區(qū) 塊 來(lái) 作 為判 斷 製 程 的 偏 移 程 度 的 參 考 。nnman, 1999]的 方 法 ， 以 Cdr?= (? T)/d 取 代 ?為 橫 座 標(biāo) 、 及 以 Cdp????/d 取 代 ?為 縱 座 標(biāo) ， 來(lái) 修 改 Spk 指 標(biāo) 而 形成 一 個(gè) 新 的 Spk 等 高 線 圖 ， 我 們 稱 之 為 多 品 質(zhì) 特 性 產(chǎn) 品 製 程 能 力 分 析 圖(Multicharacteristic process capability analysis chart)。 事 實(shí) 上 Spk 等 高 線 圖 是 評(píng) 估 多 重 製 程 的 一 個(gè) 良 好 工 具 ， 因 為 我們 可 以 由 製 程 指 標(biāo) 值 落 入 等 高 線 圖 的 位 置 得 知 製 程 良 率 及 製 程