【正文】 減小?間距的設(shè)定尋求二者的均衡點(diǎn)（ 區(qū)分正常波動與異常波動α βUCLLCL?第 Ⅰ 類錯誤（ α）：虛發(fā)警報?第 Ⅱ 類錯誤（ β）：漏發(fā)警報兩類錯誤?兩類錯誤都會造成損失?上下控制限間距變大： σxσ? 右轉(zhuǎn) 90度33? 觀察控制圖的數(shù)據(jù)位置，可以了解過程情況有無改變。? 根據(jù)小概率事件可以 “忽略 ”的原則：如果出現(xiàn)超出 μ177。? 基于可控制和不可控制的變差的區(qū)分。過程控制的工具 控制圖 維持現(xiàn)狀 σ改進(jìn)過程從而更好地理解措施 實(shí)施確定能力本過程正在做什么？ 維護(hù)過程過程改進(jìn)循環(huán)分析過程 規(guī)范下限（普通原因造成的變差已減少）范圍（消除了特殊原因）過程控制? 目標(biāo)：對影響過程的措施做出合理經(jīng)濟(jì)的決定? 過程在統(tǒng)計控制下運(yùn)行（過程受控）：僅存在造成變差的特殊原因? 過程控制的作用：當(dāng)出現(xiàn)變差的特殊原因時報警；反之，不報警過程控制范圍但它們形成一個模型，若穩(wěn)定，可以描述為一個分布范圍 變差（波動）的普通原因與特殊原因的區(qū)別σ?=通常用樣本標(biāo)準(zhǔn)差近似的估計為總體標(biāo)準(zhǔn)差? 標(biāo)準(zhǔn)差的意義：一組數(shù)中各單個值與總體平均數(shù)之間的平均離差，說明改組數(shù)的離散程度總體標(biāo)準(zhǔn)差 表明數(shù)據(jù)之間的離散程度標(biāo)準(zhǔn)差 σ[n為奇數(shù) ]Xn/2）=X(n+1)/2平均溫度 20度 ,因而，它強(qiáng)調(diào)過程在受控和有能力的狀態(tài)下運(yùn)行，從而使產(chǎn)品和服務(wù)穩(wěn)定地滿足顧客的要求。它對生產(chǎn)過程進(jìn)行分析評價，根據(jù)反饋信息及時發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)性因素出現(xiàn)的征兆，并采取措施消除其影響，使過程維持在僅受隨機(jī)性因素影響的受控狀態(tài)，以達(dá)到控制質(zhì)量的目的。異常波動是由系統(tǒng)原因（異常因素）造成的。它是由人、機(jī)器、材料、方法和環(huán)境等基本因素的波動影響所致。輸出輸入 人產(chǎn)品生產(chǎn)過程分析 “烏龜圖 ”過程控制系統(tǒng) – 一個過程的輸入通常是其他過程的輸出– 組織為了增值通常對過程進(jìn)行策劃并時期在受控條件下進(jìn)行活動輸入 輸出支持活動，如：培訓(xùn)、設(shè)備維護(hù)等管理活動或資源提供 過程單元流程 ,活動 誰主導(dǎo)？、誰配合？輸出產(chǎn)品、服務(wù)… 等效率績效測量時間成本… 等指標(biāo)硬件軟件環(huán)境 … 等輸入材料、需求、顧客及法規(guī)要求… 等過程名稱怎么 做方法、程序過程分析 龜形圖分析法WHOOUTPUTMEASUREMENTWHATINPUTHOW使用什么？（材料 /設(shè)備）檢測設(shè)備、量具、標(biāo)準(zhǔn)塊；車間隔離區(qū)；控制點(diǎn)。誰進(jìn)行？（能力 /技能 /培訓(xùn)）有資格檢驗員、操作員；質(zhì)量負(fù)責(zé)人（領(lǐng)班）；培訓(xùn)授權(quán)。入不合格品 /可疑產(chǎn)品；顧客投訴；過程異常、 SPC圖紙；設(shè)備發(fā)生異常。出識別產(chǎn)品；隔離 /通過；分類 /返工通知；停產(chǎn)通知。有反饋的過程控制系統(tǒng)模型設(shè)備材料方法 產(chǎn)品或環(huán)境 服務(wù)過程 /系統(tǒng) 波動分為兩種：正常波動和異常波動。它對產(chǎn)品質(zhì)量影響很大，但能夠采取措施避免和消除。當(dāng)過程僅受隨機(jī)因素影響時，過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)（簡稱受控狀態(tài)）；當(dāng)過程中存在系統(tǒng)因素的影響時，過程處于統(tǒng)計失控狀態(tài)（簡稱失控狀態(tài)）。 士兵平均身高 平均主義害死人 !中位數(shù)（ +（ Sigma)? 標(biāo)準(zhǔn)差=越大）Xσ?范圍 范圍Xσ? σ?X范圍R RR特殊原因一種間斷性的，不可預(yù)計的，不穩(wěn)定的變差來源。范圍分布可以通過以下因素來加以區(qū)分位置 或這些因素的組合如果僅存在變差的普通原因， 目標(biāo)值線隨著時間的推移，過程的輸出形成一個穩(wěn)定的分布并可預(yù)測。目標(biāo)值線如果存在變差的特殊原因，隨著時間的推 時間范圍局部措施和對系統(tǒng)采取措施? 受控時間不受控（存在特殊原因）過程能力? 過程能力是指過程處于受控狀態(tài)下（不存在變差的特殊原因）的實(shí)際加工能力– 一個穩(wěn)定過程的固有變差的總范圍? 過程能力是由造成變差的普通原因造成? 工序能力高時：產(chǎn)品品質(zhì)出現(xiàn)異常的幾率越小? 工序能力低時：產(chǎn)品品質(zhì)出現(xiàn)異常的幾率越大受控且有能力符合規(guī)范范圍 受控但沒有能力符合規(guī)范監(jiān)控過程性能實(shí)施 措施 研究 改進(jìn)過程LSL規(guī)范上限其中，ε=|Xbar(T/2)|Cp=T/6σ–T=（ USLLSL)–USL:公差上限–LSL:公差下限無偏情況下：存在偏移時：Cpk值的判定原則Cpk值 處理原則≦ Cpk1≦ Cpk≦ 有缺點(diǎn)發(fā)生 上控制限? 二戰(zhàn)后的日本工業(yè)企業(yè)將控制圖應(yīng)用到極致，為戰(zhàn)后日本的經(jīng)濟(jì)復(fù)蘇做出了很大的貢獻(xiàn)控制圖原理 3Sigma原則? 當(dāng)質(zhì)量特性的隨機(jī)變量 x服從正態(tài)分布時，則 x落在 μ177。3控制圖的控制線? 中心線（ CL):σ? 下控制線 /限（ LCL):σ 33區(qū)分合格品與不合格品? 控制界限：α減小， 3=%。重復(fù)這三個階段從而不斷改進(jìn)過程使用控制圖的兩個階段? 過程分析階段（初始能力研究）? 過程監(jiān)控階段 均值和極差圖計數(shù)型數(shù)據(jù)P chart不合格品數(shù)控制圖Xchart單值移動極差圖 單位缺陷數(shù)控制圖 計量單位：（ mm,過程 環(huán)境45C）工程更改處理時間（ h）應(yīng)考慮到：b以樣本容量恒定的子組形式報告，子組通常包括 25件連續(xù)的產(chǎn)品，并周性期的抽取子組。（ 注： 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等對正在生產(chǎn)的產(chǎn)接上頁113 （見下圖）1計算每個子組的均值（ X）和極差 R對每個子組計算：X1?R：接上頁 R圖和 首先計算極差的控制限，再計算均值的控制限 5 21k（ K表示子組數(shù)量）7 k映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。A2R其系數(shù)值對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個負(fù)值。平均極差和過程均值畫成實(shí)線。? LCLR注：在初始研究階段，應(yīng)注明試驗控制限。6 7 X注 2： 因為子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差，10 因此，首先應(yīng)分析 R圖。超出控制限的點(diǎn)證據(jù)，應(yīng)分析。零件間的變化性或分布的寬度已增大 (即變壞）??a1注 1： 當(dāng)子組數(shù)（ n）變得更?。?5或更小）時，出現(xiàn)低于 UCLLCLRLCL不受控制的過程的極差（存在高于和低于極差均值的兩種鏈）不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈）313如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 （對于 d1控制限計算錯或描點(diǎn)或描錯。d2過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個具有注： 如果存在幾個過程流，應(yīng)分別識別和追蹤。應(yīng)及時分析問題，例如：出現(xiàn)一個超出控制限的點(diǎn)就立即開 重新計算控制限（極差圖） 在進(jìn)行首次過程研究或重新評定過程能力時，失控的原因已被識別和消除或制度化，然后應(yīng)重新計算控制限，以排除失控時期的影響，排除所有已被識別并解決或固定下來的特殊原因影響的子組，然后重新計算新的平均極差 R和控制限，并畫下來， 和 并且一定要改變過程，以使特殊原因不會作為過程的一部分重現(xiàn)。a1測量系統(tǒng)發(fā)生變化（例如：不同的量具或 QC） XLCLUCL鏈 連續(xù) 與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者。過程均值已改變a2不受控制的過程的均值（長的上升鏈）不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈）UCLXLCL343cc1 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 (極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個子組更改刪除）d如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 X很近之處（對于 25子組，果有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一d2控制造成的，這里過程改變是對過程數(shù)據(jù)中隨機(jī)波 XLCLUCL對于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進(jìn)行一次過程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)，防止再發(fā)生。36和控制限，使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限a方法如下：估計過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 σ?容量變化的常數(shù)，如下表：按照 新的 子組容量查表得到系數(shù) d2的極差和控制限：d2UCLR=D3A2A2均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（ Xs圖） 數(shù)據(jù)由計算機(jī)按設(shè)定時序記錄和 /或描圖的，因 s的計算程序11ss)178。n式中： Xi， X； N圖的刻度尺寸應(yīng)與相應(yīng)的 X圖的相同。計算控制限 均值的上下限 USLX122 B B A3為隨樣本容量變化的常數(shù)。過程能力的分析（同 XR）σ/S是樣本標(biāo)準(zhǔn)差的均值（標(biāo)準(zhǔn)差受控時的）， C4為隨樣本容量變化的常數(shù)。當(dāng)需要計算過程能力時；將 過程能力評價（同 ?中位數(shù)極差圖（ X一般情況，中位數(shù)圖用于子組的樣本容量小于或等于 10的情況，3 c將每個子組的單值描在圖中一條垂直線上，圈上子組的中位數(shù)，9 14?21計算子組中位數(shù)的均值，并在圖上畫上這條線作為中位線，X+XXR和 ? ?A24 過程能力的分析 R在已確定了中位數(shù)圖的控制限后，可以利用以下