19計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)spc-wenkub
2023-03-13 07:43:50 本頁面
【正文】 7 199 7 20 207 14 8 201 6 21 229 12 9 207 12 22 178 9 10 198 6 23 196 6 11 176 8 24 185 7 12 186 9 25 189 9 13 204 4 24 P圖應(yīng)用例 式中 : 為各子組容量的值 . 本例中 比較本例數(shù)據(jù)表中的 ”T 測試數(shù) ” 欄的數(shù)據(jù) ,均在 ” ” 范圍內(nèi) ,因此 ,可計(jì)算統(tǒng)一的控制界限 . ② 控制界限計(jì)算如下 nPPPLCLnPPPUCLPCLPPP/)1(/)1(33???????%25/?????nn)()1()1(33無??????????nPPPLCLnPPPUCLPCLPPP25 P圖應(yīng)用例 將數(shù)據(jù)及控制界限做于 P圖上。 21 P圖應(yīng)用例 測量系統(tǒng)分析 經(jīng)小組分析認(rèn)為該測量系統(tǒng)可接受。 18 分析過程能力 在 P圖顯示過程受控以后，可以對過程能力進(jìn)行分析 ,在分析過程能力以前，計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析的假設(shè)條件須首先得到滿足。 8 建立控制圖 . P 式中 :Pi=第 i個(gè)子組的不合格品率 ,i=1?K ni=第 i個(gè)子組的檢驗(yàn)數(shù)量 ,i=1?K Pni=第 i個(gè)子組的不合格品數(shù) ,i=1?K K=子組數(shù) Pi描點(diǎn)于 P控制圖上 . 描點(diǎn)前需確定適當(dāng)?shù)淖鴺?biāo)軸刻度 ,不可太大或太小 . niPP nii ?9 計(jì)算控制界限 式中 : =過程不合格品率的平均值 N=所有抽樣數(shù)據(jù)之和 Pni=第 i個(gè)子組的不合格品數(shù) ,i=1?K NPniPki??? 110 計(jì)算控制界限 式中 :UCLP=P圖上控制界限 LCLP=P圖下控制界限 ni=各子組樣本容量 ,i=1?K 從公式可知 ,P圖的控制界限不是恒定值 ,而是不同的子組有不同的控制界限 . P控制圖上 niPPPU CL P /)1(3 ??? niPPPLC L P /)1(3 ???11 分析 P控制圖 制作 P目的目的在于區(qū)分引起過程變異的特殊原團(tuán)和普通原因以針對性進(jìn)行過程改善 ,因此分析控制圖是 P控制圖的關(guān)鍵環(huán)節(jié) . P控制圖對過程異常進(jìn)行判斷時(shí)從兩個(gè)方面進(jìn)行，分別為超出控制界限和控制界限期的圖形趨勢。 7 控制 P控制圖 正確制作 P控制圖，是進(jìn)行過程控制及改善的基礎(chǔ)，制作 P控制圖的流程如下： 收集數(shù)據(jù) (1)進(jìn)行測量系統(tǒng)分析 (2)確定子組樣本容量 一般而言， P圖的每個(gè)子組的樣本容量需大于 50。 制作 P圖前的準(zhǔn)備 為了 P圖能順利制作并發(fā)揮其應(yīng)用作用，在制作 P圖前應(yīng)做以下準(zhǔn)備： 。 Ci=第 i個(gè)子組的缺陷數(shù)， i=1??K 。以上假設(shè)在過程能力計(jì)算前需首先驗(yàn)證。計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖也是一種廣為使用的過程控制工具。 1 計(jì)算值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析 計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)的過程能力反映的是僅有普通原因作用時(shí)過程滿足要求的能力，在分析控制圖并通過改善消除了過程變異的特殊原因后，可以對過程能力進(jìn)行計(jì)算。 3 過程能力的度量 計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖控制對象的過程能力的解釋計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖的過程能力與計(jì)算值數(shù)據(jù)有所不同，計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)控制圖上的所有點(diǎn)直接表明了不符合客戶要求的百分?jǐn)?shù)或不合格品數(shù) (或缺陷數(shù) )，而計(jì)量值數(shù)據(jù)控制圖上的所有點(diǎn)顯示的是過程實(shí)際生產(chǎn)的產(chǎn)品與規(guī)格比較的結(jié)果。 N=所有抽樣數(shù)據(jù)之和。 P圖控制的過程和特性。 (3)確定子組額率 適當(dāng)?shù)淖咏M頻率可以區(qū)分特殊原因引起的過程變化，在確定抽樣頻率時(shí)需綜合考慮過程穩(wěn)定性和經(jīng)濟(jì)性。 (1)超出控制界限又分為超出控制界限和超出下控制界限兩種情況 : . 12 分析 P控制圖 13 分析 P控制圖 (2)數(shù)據(jù)點(diǎn)超出 P控制圖控制界限的可能原因： A、控制界限計(jì)算錯(cuò)誤 B、描點(diǎn)錯(cuò)混 C、測量系統(tǒng)變化 D、過程不合格率上升 以上原因中，只有原因“ D” 是與過程能力相關(guān)的變化的特殊原因， A、 B、 C均由人為錯(cuò)誤造成，需盡可能避免人為錯(cuò)誤。 P圖對應(yīng)過程能力分析時(shí)的假設(shè)條件 (1)過程受控 (2)測量系統(tǒng)誤差處于可接受范圍 . P圖對應(yīng)過程能力度量指數(shù) P圖對應(yīng)過程能力度量指數(shù)為 過程能力評價(jià) 根據(jù)計(jì)算出的過程能力指數(shù)可
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