【正文】 ：（1）衛(wèi)星星歷誤差，衛(wèi)星星歷誤差實際上就是衛(wèi)星位置的確定誤差，其大小取決于衛(wèi)星跟蹤的數(shù)量及空間分布，觀測值數(shù)量及精度．（2）接收機鐘誤差，減弱方法是的把每一個觀測時刻接收機差當作一個獨立未知參數(shù)在數(shù)據(jù)處理中與觀測站的位置參數(shù)一并求解．（3）衛(wèi)星信號傳播誤差，包括電離層和對流層時廷誤差．（4）多路徑誤差，多路徑誤差是指衛(wèi)星信號通過不同的路徑傳輸?shù)浇邮諜C天線．多路徑效應不反與反射系數(shù)有關，也與反射物離測站的距離及衛(wèi)星的信號方向有關，由于無法建立準確的誤差改正模型，只能恰當?shù)倪x擇地點測量，避開信號反射物．（5）人差，儀器沒有完全對中，沒有絕對整平． 四 實驗對比通過三次實驗對十個點的坐標測量，發(fā)現(xiàn)數(shù)值之間相差很大，在第二、三實驗時都應該進行點校正，而沒有經(jīng)過點校正，所以誤差很大實驗體會通過這次實習使自己在課堂上學的模糊的理論知識得到了清晰的理解，同時也感到自己所學的理論知道的嚴重不足，在做實驗過程中，步驟都是聽老師的，自己完全沒有頭緒，不理解每一步的意義，但是老師很耐心的回答我們的每一個問題，在教授步驟時也會給我們講解原理，因此，在實驗過程中，我發(fā)現(xiàn)自己的知識理解完全不夠，但是實習中遇到的問題能分析,在測量過程中突然收不到衛(wèi)星信號,可能是流動站的選點有問題,周圍可能有高壓輸電線,。同時在實習過程中又加強了理論知識的強化使自己對這門學科又有了新的理解．我覺得這門學科應該是在實踐中學習理論，但實踐前的理論學習也是必不可少的．我們應該理論與實踐相結合。第四篇：電子測量實驗報告電子測量調研報告題目： 電子測量技術發(fā)展與儀器姓 名：學 院： 信息科學技術學院專 業(yè)： 班 級： 學 號：2013年 6月16日電子測量技術發(fā)展與儀器摘要：:科學技術的不斷發(fā)展促進了電子測量技術的快速發(fā)展,同樣地電子測量技術的發(fā)展也推動了測量儀器的不斷更新。本文介紹了電子測量技術的發(fā)展狀況,并論述了電子測量儀器發(fā)展的過去與現(xiàn)狀。最后，探討了電子測量技術與儀器的發(fā)展趨勢。關鍵詞：發(fā)展、測量、儀器、趨勢一、電子測量技術的發(fā)展現(xiàn)代化科學技術和現(xiàn)代化大生產(chǎn)中那些要求精密和準確測量的內容通常都是運用了電子測量的方法來實現(xiàn)的。電子測量主要應用于電專業(yè)的測量,例如電信號傳輸特性的測量。電子測量也廣泛的應用于非電專業(yè)的測量。例如,它通過各種類型的傳感器,能量轉化器把非電量轉換為電量進行研究,而后得出反映出非電量的測量結果。隨著電子技術的不斷發(fā)展,測量的內容愈來愈廣泛,通常包括以下幾個方面:(1)電能量的測量,包括對于電流、電壓、電功率的測量。(2)信號的特性及所受干擾的測量,例如信號的失真度、頻率相位、脈沖參數(shù)、調制度、信號頻譜、信噪比等。(3)元件和電路參數(shù)的測量,例如電限、電感、電容、電子器件(電子管、晶體管、揚效應管等)的測量,集成電路的測量,電路頻率響應、通頻帶寬度、品質因數(shù)、相位移、延時、衰減和增益等的測量。由于電子測量技術的許多無可比擬的優(yōu)點,許多非電量的測量也可以通過傳感器轉換成電信號,再利用電子技術進行測量。例如,高溫爐中的溫度、深海的壓力等許多人們不能親身到的地方或無法直接測量的量,都可以通過這種方式進行測量。與其它的測量相比,電子測 量具有以下幾個明顯的特點:(1)測量頻率范圍寬,電子測量能工作在這樣寬的頻率范圍,這就使它的應用范圍很廣。(2)量程很廣,由于所測量的大小相差極大,要求測量儀器的量程也極寬,同一臺電子儀器,經(jīng)常能做到量程寬達很多數(shù)量級。(3)測量準確度高,電子儀器的準確度通常可比其它測量儀器高很多,特別是對頻率和時間的測量。電子測量準確度高,正是它在現(xiàn)代科技領域得到廣泛應用的重要原因。(4)測量速度快,電子測量由于是通過電子運動和電磁波的傳播來進行工作的,因此具有其它測量方法通常無法類比的高速度。(5)易于實現(xiàn)遙測和長期不間斷的測量,顯示方式又可以做到清晰、直觀。由于可以把電子儀器或與它連接的傳感器放到人類不便長期停留或無法到達的區(qū)域去進行遙測,而且可在被測對象正常工作的情況下進行測量。對于測量結果,電子測量的顯示方法也比較清晰、直觀。(6)易于利用計算機,形成電子測量與計算技術的緊密結合。二、國內電子測量儀器發(fā)展的過去與現(xiàn)狀我國電子測量儀器大致經(jīng)歷了“模擬式數(shù)字式智能式、程控式”的發(fā)展歷程。20世紀50年代,新中國第一個五年計劃在重點發(fā)展電子產(chǎn)業(yè)中就規(guī)劃了電子測量儀器。經(jīng)過50多年的發(fā)展,我國不但具有一個較為完整的電子儀器產(chǎn)業(yè)體系,還有一大批電子測量技術人才。最近幾年,隨著世界高新技術的不斷發(fā)展,我國電子測量儀器在以下一些重大科技領域取得了突破性進展：(1)調制域分析儀研究成功。調制域測試技術是20世紀末出現(xiàn)的十分重要且技術難度很高的一門新興測試技術,它是用來測量輸入信號隨時間變化的頻率值,所產(chǎn)生的顯示圖形代表信號調制域,是信號頻率值與時間的關系。這種方法非常適合測量定時信號,相位編碼信號或頻率編碼信號,必將對眾多測試問題的解決做出突出貢獻。(2)VXI總線技術取得重大進展。VXI總線技術是二十世紀末出現(xiàn)的一種新的母線技術。它將VME總線和GPIB結合起來構成一個新的行業(yè)標準接口母線,是一個完全開放的適應多廠家儀器產(chǎn)品(模塊、插卡式)的行業(yè)標準。這種總線技術具有便攜性、測試速度高、適應性和靈活性強、價格適中以及有利于充分發(fā)揮計算機作用的優(yōu)點。(3)微波毫米波矢量網(wǎng)絡分析儀開發(fā)成功。矢量分析儀能同時獲得被測對象的幅度、相位和群時延特性,成為現(xiàn)代電子裝備必備的、關鍵的測試設備。另外它還在非線性、大功率網(wǎng)絡的測試和分析中發(fā)揮著重要作用。(4)電子測量儀器向毫米波推進。眾多民用和軍用電子裝備都在向毫米波發(fā)展,特別是在軍事方面,其發(fā)展更為迅速。近幾年,我們十分重視電子儀器向毫米波發(fā)展。(5)通信測量儀器水平達到新的高度。通信產(chǎn)業(yè)的發(fā)展十分迅速,為適應通信產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,我國加快發(fā)展通信電子測量儀器。近年來研制成功的誤碼測試儀、數(shù)字傳輸/數(shù)據(jù)通信分析儀、七號信令測試儀、數(shù)字微波通信測試儀等產(chǎn)品都達到了20世紀末國際先進水平。(6)數(shù)字化儀器迅速發(fā)展。近幾年,數(shù)字化儀器在迅速發(fā)展,我國也在不斷研制并推出各種新型數(shù)字化儀器,譬如數(shù)字示波器、數(shù)字調制裝置、數(shù)字化函數(shù)/任意波形發(fā)生器、數(shù)字化頻率計數(shù)器等眾多產(chǎn)品。三、國產(chǎn)電子測量儀器發(fā)展的機遇隨著科學技術的不斷發(fā)展,新產(chǎn)品新技術日新月異,對電子測量儀器提出很多新需求,由于測量儀器的先導作用,所有電子技術的應用熱點都會成為測量測試技術的生長點,國內儀器企業(yè)研制并成功向市場推出了大量新技術、新型儀器產(chǎn)品,適應市場需要。同時,以新型產(chǎn)業(yè)發(fā)展為契機帶動電子儀器產(chǎn)業(yè)發(fā)展。數(shù)字電視、新一代移動通信和下一代互聯(lián)網(wǎng)等新興產(chǎn)業(yè)、新的生產(chǎn)工藝和技術要求也為儀器發(fā)展創(chuàng)造了新的發(fā)展機遇。目前,我國制造業(yè)發(fā)達、服務業(yè)興旺,各種電器產(chǎn)品的研制生產(chǎn)維修服務、各種用戶需求都用到越來越多、劃分細致的各種電子測量儀器,市場前景樂觀、產(chǎn)品開發(fā)大有作為。目前,雖然國產(chǎn)電子測量儀器發(fā)展面臨著前所未有的機遇,但是由于多種原因,使得在這一行業(yè)發(fā)展過程中還存在著許許多多的挑戰(zhàn)。為此,還需要我們積極采取一些有用的措施,才能推進我國儀器產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展。四、電子測量儀器發(fā)展趨勢隨著科學技術和工業(yè)生產(chǎn)的發(fā)展,測量范圍日益擴大,測量任務越來越復雜,測量工作量隨之加大,對測量精度和速度的要求也越來越高。在實際測量中,不僅要求連續(xù)實時顯示,而且要求實時處理大量的測試數(shù)據(jù)。傳統(tǒng)儀器很難滿足這些要求,這就迫使儀器朝著數(shù)字化、智能化、多功能、小型化、模塊化、虛擬化、標準化和開放型方向發(fā)展,隨著技術進步和應用領域的擴大,這種演進的趨勢也在明顯加強。因此出現(xiàn)了以計算機或微處理器為核心,將檢測技術、自動控制技術、通信技術和網(wǎng)絡技術等技術完美地結合起來的現(xiàn)代電子測量儀器(系統(tǒng))。它主要有以下幾種類型:(1)以通用微處理器為核心構成的智能化電子儀器。智能儀器又稱為靈巧儀器,它是將人工智能的理論、方法和技術應用于儀器,使其具有類似人的智能特性或功能的儀器。它的硬件組成通常包括微處理器與存儲器、鍵盤開關與顯示輸出、測試功能模塊或測試信號源、總線與標準接口等部分。(2)以通用微型